DE69634706T2 - Optisches Speichergerät - Google Patents

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Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf ein optisches Speichergerät, bei dem ein umschreibbarer Träger verwendet wird, beispielsweise eine MO-Kassette oder dgl., insbesondere auf ein optisches Speichergerät, um eine Lichtemissionsleistung einer Laserdiode auf eine optimale Leistung im Zeitpunkt des Ladens eines Trägers wirksam einzustellen.
  • Es wird einer optischen Platte als Speicherträger Aufmerksamkeit geschenkt, welche ein Hauptträger von Multimedia ist, das sich in vergangenen Jahren schnell entwickelt. Wenn beispielsweise eine MO-Kassette von 3,5 Inches betrachtet wird, werden nun zusätzlich zu den herkömmlichen MO-Kassetten von 128 MB und 230 MB in den vergangenen Jahren auch Träger einer hohen Aufzeichnungsdichte von 540 MB und 640 MB bereitgestellt. Daher ist es wie bei einem optischen Plattenlaufwerk wünschenswert, dass die optische Platte alle Träger von 180 MB, 230 MB, 540 MB und 640 MB, die zurzeit verfügbar sind, nutzen kann. Bei Personalcomputern, die sich in den vergangenen Jahren schnell verbreitet haben, ist eine Wiedergabefunktion einer Compact Disc (CD) als Nur-Lese-Träger unabdingbar. Es ist schwierig, ein optisches Plattenlaufwerk für eine MO-Kassette als umschreibbares optisches Plattengerät zusätzlich zu einem optischen Plattenlaufwerk für eine CD vom Standpunkt des Raums und der Kosten zu installieren. In den vergangenen Jahren wurde daher auch ein optisches Plattenlaufwerl, bei dem sowohl eine MO-Kassette als auch eine CD verwendet werden kann, entwickelt. Bei einem derartigen Plattenlaufwerk, bei dem die CD bzw. MO gemeinsam genutzt werden, werden in Bezug auf ein optisches System eine mechanische Struktur und eine Steuerungsschaltungseinheit gemeinsam sowohl für die CD als auch die MO-Kassette soviel wie möglich genutzt.
  • Bei der MO-Kassette, die im optischen Plattenlaufwerk verwendet wird, ist dagegen eine Trägerspur in Zonen unterteilt, und es wird eine ZCAV-Aufzeichnung (Zone mit Aufzeichnung mit konstanter Winkelgeschwindigkeit), bei der die Anzahl von Sektoren der Zonen ausgeglichen ist, verwendet. Die Anzahl von Zonen des MO-Trägers ist auf eine Zone bei dem herkömmlichen Träger mit 128 MB und auf 10 Zonen bei dem Träger mit 230 MB festgelegt. Dagegen wurde bei einem PWM-Aufzeichnungsträger hoher Dichte mit 540 MB oder 640 MB, die in den vergangenen Jahren nun in der Praxis verwendet werden, in Verbindung mit der Verbesserung einer Aufzeichnungsdichte eine Spurteilung des Trägers verengt und die Anzahl von Zonen daher vergrößert. Die Anzahl von Zonen bei dem Träger mit 640 MB wurde auf 11 Zonen festgelegt ist und die Anzahl von Zonen beim Träger mit 540 MB wurde auf 18 Zonen festgelegt. Üblicherweise wird bei dem optischen Plattenträger, bei dem die MO-Kassette verwendet wird, da es einen Unterschied einer licht-emittierenden Leistung gibt, nämlich der Aufzeichnungsleistung einer Laserdiode zum optimalen Aufzeichnen für jeden Träger, wenn der Träger geladen wird, ein Testschreiben für jede Zone und eine Lichtemissionseinstellung durchgeführt, um die optimale Aufzeichnungsleistung einzustellen. Bei dem herkömmlichen Träger mit 128 MB oder 230 MB wird das Aufzeichnen durch eine Pitpositions-Modulations (PPM) durchgeführt, und es ist ausreichend, dass die Lichtemissionsleistung der Laserdiode auf zwei Pegel geändert wird, d. h., eine Löschleistung und eine Aufzeichnungsleistung. Dagegen wird bei dem PWM-Aufzeichnungsträger von 540 MB oder 640 MB eine Aufzeichnung durch eine Impulsfolge verwendet, um die Aufzeichnungsdichte anzuheben. Bei der Impulsfolgenaufzeichnung ist es notwendig, die Lichtemissionsleistung der Laserdiode auf drei Pegel zu ändern, d. h., eine Löschleistung, eine erste Schreibleistung und eine zweite Schreibleistung. Daher gibt es in Bezug auf den Träger von 540 MB oder 640 MB, bei dem die Anzahl von Zonen vergrößert ist, wenn die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode für jede Zone durchgeführt wird, die Schwierigkeit, dass zusätzlich zu einem Anstieg der Anzahl von Arten von Lichtemissionsleistungen aufgrund der Pulsfolgenaufzeichnung dies lange Zeit zum Einstellen in Anspruch nimmt. Im Zeitpunkt der Einstellung der Lichtemission der Laserdiode wird im Vergleich zur momentanen Lichtemission bei dem aktuellen PPM-Aufzeichnen oder dem PWM-Aufzeichnen die Lichtemission durch einen Grundeinstellungswert angesteuert, der durch Firmware bestimmt wird, für eine relativ lange Zeit, während der die Einstellung notwendig ist. Dies hat im Wesentlichen zur Folge, dass die Laserdiode DC-licht-emittierend ist (stetige Lichtemission). Wenn die Lichtemissionseinstellung durch eine hohe Lichtemissionsleistung durchgeführt wird, wird die Laserdiode beschädigt, und es besteht die Gefahr, dass eine Verschlechterung beschleunigt wird.
  • Bei dem herkömmlichen optischen Plattenlaufwerk unterscheidet sich, wenn eine Schreibleistung, die verwendet wird, Daten auf einen Träger zu schreiben, eine optimale Leistung in Abhängigkeit von der Art und der Temperatur des Trägers.
  • Daher wird bei der in der EP 0 0430 649 A2 beschriebenen optischen Plattenvorrichtung, die dem Stand der Technik am nächsten kommt, ein Leistungseinstellungsprozess der Laserdiode durchgeführt, um die optimale Leistung zu bestimmen, wobei ein Testschreiben eines Testsignals auf eine Bewertungsspur der optischen Platte durchgeführt wird. Das Testschreiben wird jedes Mal dann durchgeführt, wenn das optische Plattengerät eingeschaltet wird, die Platte ersetzt wird, ein Wiedergabefehler im Aufzeichnungssignal auftaucht oder andere Zustände im optischen Plattengerät auftreten, die eine neue Einstellung der Schreibleistung der Laserdiode erfordern. Die Zeit, die von den Aufzeichnungszuständen abhängt, beispielsweise Änderungen der Temperatur oder Verschieben der optischen Platte im Gerät durch fortlaufende Vibration erfordert ständiges und periodisches Einstellen der Schreibleistung, was nachteiligerweise durch die in der EP 0 0430 649 A2 beschriebene optische Plattenvorrichtung nicht erfüllt wird.
  • Gemäß dem herkömmlichen Leistungseinstellungsverfahren der Laserdiode wird, wie in 1 gezeigt ist, die Schreibleistung, welche als Grundleistung angegeben wird, auf eine Leistung bei einem Startpunkt 401 festgelegt, und beispielsweise werden die Schreib- und Leseoperationen eines Testmusters wiederholt, während die Schreibleistung schrittweise vermindert wird, um dadurch die Abweichungshäufigkeit der Daten zu zählen (die Anzahl von Fehlern). Wenn die Schreibleistung auf einen Wert in der Nähe einer Grenzleistung reduziert wird, vergrößert sich die Häufigkeit einer Datenabweichung. Beispielsweise wird eine Grenzleistung WPa an einem Grenzpunkt 404, bei dem die Abweichungshäufigkeit von Daten 1000 Mal überschritten wird, erhalten. Nachfolgend werden die Schreib- und Leseoperationen des Testmusters wiederholt, während die Schreibleistung schrittweise vom Startpunkt 401 vergrößert wird, wodurch die Häufigkeit einer Datenabweichung gezählt wird (die Anzahl von Fehlern). Wenn die Schreibleistung auf den Wert in der Nähe einer Grenzleistung vergrößert wird, vergrößert sich die Häufigkeit einer Datenabweichung. Beispielsweise wird eine Grenzleistung WPb an einem Grenzpunkt 406, bei dem die Abweichung von Daten 1000 übersteigt, erhalten. Wenn die obere und die untere Grenzleistung WPa und WPb wie oben erwähnt ermittelt werden kann, wird die mittlere Schreibleistung (WPb-WPa)/2 als optimale Schreibleistung WP-best bestimmt. Bei dem Einstellungsprozess der Schreibleistung der Laserdiode in Verbindung mit dem Testschreiben bei einem derartigen herkömmlichen optischen Plattenlaufwerk müssen zwei Grenzleistungen ermittelt werden, wobei die Schreibleistung angehoben und vermindert wird, indem eine Startleistung auf einen Initialpunkt gesetzt wird. Daher benötigt es Zeit, die Grenzleistungen zu ermitteln, und es besteht ein Problem dahingehend, dass es Zeit braucht, beispielsweise, bis das Gerät in einen Betriebszustand eintritt, nachdem der Träger geladen wurde. Da andererseits es notwendig ist, das Testschreiben durch Ansteuern der Laserdiode mit einer hohen Leistung für die Schreibleistungseinstellung durchzuführen, wird eine große Belastung in Bezug auf die Laserdiode ausgeübt. Da außerdem die Schreibeinstellungsleistung häufig während der Verwendung des Geräts durchgeführt wird, bestehen Schwierigkeiten dahingehend, dass die Verschlechterung der Laserdiode beschleunigt wird und die Lebensdauer des Geräts vermindert wird.
  • Lichtemissionseinstellung
  • Erfindungsgemäß wird ein optisches Speichergerät bereitgestellt, mit dem eine Lichtemissionseinstellung wirksam durchgeführt werden kann, ohne eine Belastung auf die Laserdiode auszuüben, sogar wenn die Anzahl von Zonen groß ist. Ein optisches Speichergerät nach der Erfindung besitzt eine Laserdiode, um einen Laserstrahl zu emittieren, der zum Aufzeichnen und Wiedergeben von Information auf/von einem Träger verwendet wird. Beim Aufzeichnen des Trägers wird ein Ansteuerstrom gemäß einer Kombination von mehreren unterschiedlichen spezifizierten Leistungen von einer Lichtemissions-Stromquelle zur Laserdiode geliefert. Die Lichtemissions-Stromquelle wird durch ein Register, einen D/A-Umsetzer und eine Stromquellenschaltung gebildet. Ein Wert des Stroms, welcher von der Lichtemissions-Stromquelle geliefert wird, wird durch einen Lichtemissionsstrom-Instruktionseinheit instruiert, bei der ein Register und ein D/A-Umsetzer verwendet werden. Eine automatische Leistungs-Steuerungseinheit (APC) zum Steuern einer Lichtemissionsleistung der Laserdiode auf eine spezifische Zielleistung ist vorgesehen. Die automatische Leistungs-Steuerungseinheit steuert die Lichtemissionsleistung auf beispielsweise eine spezifizierte Zielleseleistung. Eine photosensitive Monitoreinrichtung zum Empfangen eines Teils des Laserstrahls und zum Ausgeben eines photosensitiven Stroms ist für die Laserdiode vorgesehen. Beim Aufzeichnen des Trägers wird ein spezifischer Subtraktionsstrom entsprechend einer Differenz zwischen der spezifischen Lichtemissionsleistung und der Zielleseleistung vom photosensitiven Strom subtrahiert und der resultierende Strom wird auf einen Monitorstrom eingestellt. Der Monitorstrom wird zurück zur automatischen Leistungs-Steuerungseinheit geführt. Daher wird sogar in einem Zeitpunkt der Lichtemission der Leseleistung und der Schreibleistung, wo die Zielleseleistung überstiegen wird, der Monitorstrom entsprechend der Leseleistung zurück zur APC gebracht. Eine Subtraktionsstromquelle ist durch ein Register, einen D/A-Umsetzer und eine Stromquellenschaltung gebildet. Eine Subtraktionsstrom-Instruktionseinheit, bei der ein D/A-Umsetzer verwendet wird, steuert die Stromquellenschaltung, und der Subtraktionsstrom eines register-instruierten Werts wird geliefert. Ein Monitorstrom, der von der Subtraktionsstromquelle abgeleitet wird, wird durch einen A/D-Umsetzer zur Überwachung gelesen, welche als Leistungsmesseinheit dient.
  • Eine Lichtemissions-Einstellungsverarbeitungseinheit weist sequentiell die Lichtemission durch vorher festgelegte Testleistungen bei zwei Punkten zum D/A-Umsetzer des Lichtemissionsstroms beim Einstellen eines Einstellungsmodus und von Lichtemissionsansteuerungen für die Laserdiode an, weist einen spezifischen Subtraktionsstrom entsprechend den Testleistungen bei zwei Punkten zum D/A-Umsetzer zur Subtraktion der Subtraktionsstromquelle an und misst jede Testleistung von einem A/D Monitorumsetzer einer Messeinheit für die Überwachung. Auf der Basis der Messergebnisse wird die Beziehung zwischen dem instruierten Stromwert auf eine willkürliche Leistung in der Lichtemissions-Stromquelle und der Subtraktionsstromquelle durch lineare Näherung erhalten und in einer Leistungstabelle registriert.
  • Allgemein ausgedrückt besteht die Lichtemissions-Einstellungsverarbeitungseinheit aus einer Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit und einer Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit. In einem Zustand, bei dem die Spurführungssteuerung gelöst wird, instruiert die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit nacheinander die Lichtemission durch vorher festgelegte Testleistungen an zwei Punkten zum D/A-Umsetzer der Lichtemissions-Stromquelle und steuert die Lichtemission der Laserdiode an, weist einen speziellen Subtraktionsstrom entsprechend der Testleistung an zwei Punkten zum D/A-Umsetzer der Subtraktionsstromquelle an, und misst jede Testleistung vom A/D-Umsetzer der Monitormesseinheit. Auf der Basis der Messergebnisse an zwei Punkten werden
    • I. die Beziehung des Leistungsmesswerts für die Überwachung für eine beliebige Lichtemissionsleistung
    • II. die Beziehung des instruierten Stromwerts zur Lichtemission für eine beliebige Lichtemissionsleistung
    • III. die Beziehung des instruierten Stromwerts zur Subtraktion für eine beliebige Lichtemissionsleistung

    entsprechend durch lineare Näherung erhalten und in einer Leistungstabelle registriert. In einem Zustand, bei dem die Spurführungssteuerung durchgeführt wird und die automatische Leistungssteuerung eingeschaltet ist, instruiert die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit sequentiell die Lichtemission durch vorher festgelegte Testleistungen an zwei Punkten zum D/A-Umsetzer der Lichtemissions-Stromquelle, die Lichtemission steuert die Laserdiode an, instruiert einen speziellen Subtraktionsstrom entsprechend den Testleistungen an zwei Punkten zum D/A-Umsetzer der Subtraktionsstromquelle, und stellt einen instruierten Wert des D/A-Umsetzers der Lichtemissions-Stromquelle ein, so dass die gemessene Leistung durch den A/D-Umsetzer der Monitormesseinheit auf die Zielleseleistung eingestellt wird. Auf der Basis der Einstellungsergebnisse an zwei Punkten wird die Beziehung des instruierten Stromwerts zur Lichtemission auf eine beliebige Lichtemissionsleistung durch die lineare Näherung erhalten und die Leistungstabelle wird korrigiert. Wie oben erwähnt wird bei der Lichtemissionseinstellung nach der Erfindung beispielsweise eine Steigung (a) und eine Schnittpunkt (b) mit einer y-Achse als Koeffizienten einer Bezugsgleichung (y = ax + b), bei der die Beziehung zwischen einem instruierten Stromwert (y) und einer Lichtemissionsleistung (x) der Lichtemissions-Stromquelle linear genähert ist, von den gemessenen Leistungen durch die Bestimmung der Testleistungen an zwei Punkten erhalten. Damit kann der instruierte Stromwert für die Lichtemissions-Stromquelle bei einer beliebigen Lichtemissionsleistung (x) berechnet werden. Daher ist es ausreichend, die Testleistungen im Zeitpunkt der Einstellung durch die Lichtemission an zwei Punkten zu erhalten. Insbesondere kann durch Einstellen der Testleistungen an zwei Punkten auf Werte auf der Seite niedriger Leistung eine Belastung in Bezug auf die Laserdiode reduziert werden.
  • Die Stromquelle zur Lichtemission hat eine Leseleistungs-Stromquelle, eine Löschleistungs-Stromquelle, eine erste Schreibleistungs-Stromquelle und eine zweite Schreibleistungs-Stromquelle. Im Zeitpunkt der Lichtemission einer Leseleistung, einer Löschleistung P, einer ersten Schreibleistung und einer zweiten Schreibleistung durch die Laserdiode liefert die Leseleistungs-Stromquelle einen Leseleistungsstrom I0, um die Lichtemission bei dem ersten Leistungspegel durchzuführen, beispielsweise den Leseleistungspegel zur Laserdiode. Im Zeitpunkt der Lichtemission einer Löschleistung, einer ersten Schreibleistung und einer zweiten Schreibleistung durch die Laserdiode fügt die Laserleistungs-Stromquelle einen Löschleistungsstrom I1 hinzu, um die Lichtemission der Laserdiode durch die Löschleistung für den Leseleistungsstrom I0 durchzuführen und liefert den resultierten Strom zur Laserdiode. Im Zeitpunkt der Lichtemission durch die erste Schreibleistung durch die Laserdiode fügt die erste Schreibleistungs-Stromquelle einen ersten Schreibleistungsstrom I2 hinzu, um die Lichtemission der Laserdiode durch den zweiten Leistungspegel durchzuführen, beispielsweise den ersten Schreibleistungspegel zum Leseleistungsstrom I0 und zum Löschleistungsstrom I1 und liefert den resultierenden Strom zur Laserdiode. Im Zeitpunkt der Lichtemission durch die zweite Schreibleistung durch die Laserdiode fügt die zweite Schreibleistungs-Stromquelle einen zweiten Schreibleistungsstrom I3 hinzu, um die Lichtemission der Laserdiode beim dritten Leistungspegel durchzuführen, beispielsweise den zweiten Schreibleistungspegel zum Leseleistungsstrom I0 und zum Löschleistungsstrom I1 und liefert den resultierenden Strom zur Laserdiode. Die Lichtemissions-Strominstruktionseinheit hat individuell D/A-Umsetzer zum Instruieren von Stromwerten der Leseleistungs-Stromquelle, der ersten Schreibleistungs-Stromquelle und der zweiten Schreibleistungs-Stromquelle. Die Subtraktionsstromquelle hat eine Löschleistungs-Subtrak tionsquelle, eine erste Schreibleistungs-Subtraktionsstromquelle und eine zweite Schreibleistungs-Subtraktionsstromquelle. Die Löschleistungs-Subtraktionsstromquelle subtrahiert einen photosensitiven Strom i1 der Löschleistung von einem photosensitiven Strom i0 der photosensitiven Einrichtung im Zeitpunkt der Lichtemission durch die Löschleistung, die erste Schreibleistung und die zweite Schreibleistung. Die erste Schreibleistungs-Subtraktionsstromquelle subtrahiert einen photosensitiven Strom i2 der ersten Schreibleistung vom photosensitiven Strom i0 der photosensitiven Einrichtung im Zeitpunkt der Lichtemission der ersten Schreibleistung. Außerdem subtrahiert die zweite Schreibleistungs-Subtraktionsstromquelle einen photosensitiven Strom i3 der zweiten Schreibleistung vom photosensitiven Strom i0 der photosensitiven Einrichtung im Zeitpunkt der Lichtemission der zweiten Schreibleistung. Die Subtraktionsstrom-Instruktionseinheit hat individuell D/A-Umsetzer zum Instruieren von Stromwerten der Leseleistungs-Subtraktionsstromquelle, der ersten Schreibleistungs-Subtraktionsstromquelle und der zweiten Schreibleistungs-Subtraktionsstromquelle.
  • Wenn der in die Vorrichtung geladene Träger ein Aufzeichnungsträger der Pitpositions-Modulation (PPM) ist, justieren die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit und die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit jeweils die Löschleistung und die erste Schreibleistung. Wenn der Träger, der in die Vorrichtung geladen wird, ein Aufzeichnungsträger der Pulsbreitenmodulation (PWM) ist, justieren die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit und die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit jeweils die Löschleistung, die erste Schreibleistung und die zweite Schreibleistung.
  • Die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit und die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit unterteilen die Zonen des Trägers, in denen die Spuren in der Radialrichtung auf Basis mehrerer Einheiten in mehrere Bereiche unterteilt sind, beispielsweise in drei Bereiche, d. h. einen inneren Randbereich, einen Zwischenbereich und einen äußeren Randbereich. In Bezug auf die innerste Randzone und die äußerste Randzone eines jeden Bereichs wird die Testleistung angewiesen, und die Lichtemission wird an zwei Punkten eingestellt, während die Lichtemissionsleistungen gemessen werden. Ein Einstellungswert der Zone zwischen der ersten Randzone und der äußeren Umfangsrand der äußersten Randzone wird berechnet und von einer Bezugsgleichung einer linearen Näherung zwischen den Testleistungen und den gemessenen Leistungen an den beiden Punkten eingestellt. Sogar, wenn die Zonenanzahl ansteigt, ist es daher ausreichend, dass die Lichtemission durch die Schreibleistung zum Einstellen lediglich in zwei Zonen, d. h. am inneren Rand und am äußeren Rand ausgeführt wird. Die Zeit, die zur Einstellung in Verbindung mit der Lichtemission durch die Schreibleistung notwendig ist, kann merklich reduziert werden. Die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit und die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit bestimmen individuell und justieren die Löschleistung und die Schreibleistung als Testleistungen. Auf der Basis des Einstellungswertes (eingestellter Grundeinstellungswert) der Leistungstabelle, die durch die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit eingestellt wurde, berechnet die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit die Instruktionswerte für den D/A-Umsetzer der Lichtemissions-Strominstruktionseinheit und für den D/A-Umsetzer der Subtraktionsstrom-Instruktionseinheit entsprechend den Testleistungen und legt diese fest. Wenn die optimale Schreibleistung, die durch ein Testschreiben des Trägers bestimmt wird, als Korrekturkoeffizient (Offset-Verhältnis) angegeben wird, bei dem die Schreibleistung, welche in der Leistungstabelle registriert ist, durch ein Verhältnis unter Verwendung des Einstellungswerts (Grundeinstellungswert) als Referenz ausgedrückt wird, multipliziert die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit den Korrekturkoeffizienten mit der Testleistung und korrigiert die optimale Testleistung. Wenn der Korrekturkoeffizient der optimalen Leistung gegeben ist, vergleicht die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit diesen Korrekturkoeffizienten mit einem vorher festgelegten Koeffizientengrenzbereich, der einen oberen Grenzwert und einen unteren Grenzwert des Korrekturkoeffizienten hat. Wenn der Korrekturkoeffizient den Koeffizientengrenzbereich überschreitet, wird der Leistungskorrekturkoeffizient auf den oberen Grenzwert oder unteren Grenzwert begrenzt. In Bezug auf den oberen Grenzwert wie auch auf den unteren Grenzwert des Leistungskorrekturkoeffizienten unterteilt die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit die Zonen des Trägers, in denen die Spuren in der Radialrichtung unterteilt sind, auf eine Mehreinheitsbasis in mehrere Bereiche, erlangt ein unteres Grenzverhältnis zu dem unteren Grenzwert, wobei die Schreibleistung der innersten Randzone jedes unterteilten Bereichs auf die minimale Leistung eingestellt wird, erlangt das obere Grenzverhältnis zum oberen Grenzwert, wobei die Schreibleistung der äußersten Randzone auf den Maximalwert eingestellt wird, berechnet eine beliebige Zone zwischen der innersten Randzone und dem äußeren Umfangsrand der äußersten Randzone aus einer Bezugsgleichung einer linearen Näherung des unteren Grenzverhältnisses und des oberen Grenzverhältnisses, und setzt das obere Grenzverhältnis und das untere Grenzverhältnis fest. Es besteht daher nicht die Notwendigkeit, den oberen Grenzwert und den unteren Grenzwert für jede Zone festzulegen, und die obere und untere Grenze kann leicht festgelegt werden.
  • Wenn die Träger, die in die Vorrichtung geladen werden, ein Aufzeichnungsträger der Pitpositions-Modulation (PPM) und ein Aufzeichnungsträger der Pulsbreiten-Modulation (PWM) sind, stellt in jedem Fall die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit die Löschleistung und die erste Schreibleistung ein und registriert die eingestellten Werte in der Leistungstabelle. Wenn dagegen der geladene Träger ein Aufzeichnungsträger der Pulsbreiten-Modulation (PWM) ist, registriert die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit ein Leistungsverhältnis der zweiten Schreibleistung unter Verwendung der ersten Schreibleistung als Referenz zusätzlich zur Löschleistung und der ersten Schreibleistung. Die zweite Schreibleistung, die einzustellen ist, wird durch Multiplizieren des Leistungsverhältnisses mit der zugeordneten ersten Schreibleistung berechnet. In diesem Fall registriert die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit jede Leistung und das Leistungsverhältnis in der Leistungstabelle für jede Zonennummer. Die Schreibleistung, die einzustellen ist, wird durch Multiplizieren des Leistungsverhältnisses der gleichen zugeordneten Zone mit der ersten Schreibleistung der zugeordneten Zone berechnet. Das Leistungsverhältnis hat einen Wert, der sich in Abhängigkeit von der Temperatur ändert.
  • Um das Leistungsverhältnis gemäß der Temperatur zu erlangen, erlangt die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit zwei Bezugsgleichungen (y = a1·T + b1) und (y = a2·T + b2) durch eine lineare Näherung der Leistungsverhältnisse für die zwei Temperaturen T1 und T2 aus den vier Punkten von Leistungsverhältnissen y1 und y2 bei den Temperaturen t1 und t2 bei zwei unterschiedlichen Punkten der inneren Randzonenseite und den Leistungsverhältnissen y3 und y4 bei Temperaturen T1 und T2 bei unterschiedlichen Punkten der äußeren Randzonenseite. Nachfolgend werden in Bezug auf die beiden Steigungen a1 und a2 der beiden linearen Bezugsgleichungen und der Schnittpunkte b1 und b2 mit der y-Achse des Leistungsverhältnisses zwei Bezugsgleichungen (a = α·N + β) und (b = γ·N + δ) durch eine lineare Näherung für die beiden Zonennummern N1 und N2 auf der inneren Randseite und der äußeren Randseite erhalten. Die Steigungen α und γ und die Schnittpunkte β und δ mit der y-Achse werden in der Leistungstabelle registriert. Wenn eine Zonennummer N bestimmt wird, liest die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit die Steigungen α und γ und die Schnittpunkte β und δ mit der y-Achse der Bezugsgleichungen des Leistungsverhältnisses für die bestimmte Zonennummer N, berechnet die Steigungen a1 und a2 und die Schnittpunkte b1 und b2 mit der y-Achse der Bezugsgleichungen für eine Temperatur T, und berechnet schließlich ein Leistungsverhältnis der bestimmten Zone aus der Messtemperatur T in diesem Zeitpunkt.
  • Wenn durch die PWM aufgezeichnet wird, so dass das Licht durch Impulsfolgen der zweiten Schreibleistung der Anzahl emittiert wird, die der Löschleistung, der ersten Schreibleistung und der Impulsbreite entspricht, und die Leistung auf einen Wert reduziert wird, der niedriger ist als die Zielleseleistung der automatischen Leistungssteuerungseinheit, als Antwort auf das Ende der Lichtemissions-Impulsfolge, und die Impulsfolge auf die nächste Lichtemissions-Impulsfolge verschoben wird, reduziert die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit einen Instruktionswert des Subtraktionsstroms i1 zum D/A-Umsetzer zur Subtraktion des ersten Schreibstroms, um so das Zeitprodukt einer nicht ausreichenden Leistung für die Zielleseleistung und das Zeitprodukt der ersten Schreibleistung anzugleichen, wodurch die Zielleistung überstiegen wird und ausgeschaltet wird. Damit wird eine Leistungsreduzierungssteuerung so ausgeführt, dass durch Vermindern der Schreibleistung auf null oder einen Wert, der gleich oder kleiner ist als die Leseleistung als Antwort auf das Ende der Impulsfolge des PWM-Aufzeichnens, sogar, wenn es eine große Rückführung gibt, um die Überschussleistungsmenge zu kompensieren, zur automatischen Leistungssteuerung durchgeführt wird, eine Steuerung zur Leistungsreduzierung, um die unzureichende Menge zu kompensieren und um auszuschalten, davor ausgeführt. Daher kann die stabile automatische Leistungssteuerung einer Schreibleistung durchgeführt werden, ohne eine Verschiebung der Schreibleistung aufgrund der unzureichenden Leistung zu bewirken.
  • Einstellung der optimalen Schreibleistung
  • Gemäß der Erfindung wird ein optisches Speichergerät, welches einen Prozess passend durchführen kann, um die optimale Schreibleistung durch das Testschreiben in einer kurzen Zeit zu bestimmen, ohne eine Belastung auf die Laserdiode auszuüben, bereitgestellt. Daher hat das optische Speichergerät nach der Erfindung eine optimale Schreibleistungs-Einstelleinheit, die aufweist:
    eine Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit zum Beurteilen einer Notwendigkeit eines Schreibleistungs-Einstellprozesses, um die Schreibleistung für den Träger zu optimieren, und eine Schreibleistungs-Einstelleinheit, welche gemäß dem Beurteilungsergebnis der Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit aktiviert wird und die zum Schreiben eines vorher festgelegten Testmusters auf den Träger verwendet wird, während die Schreibleistung allmählich schrittweise reduziert wird, nachfolgendes Lesen des vorher festgelegten Testmusters und Vergleichen mit einem ursprünglichen Testmuster, Zählen der Abweichungshäufigkeit der Daten, Ermitteln einer Schreibleistung, bei der die Abweichungshäufigkeit einen vorher festgelegten Schwellenwert übersteigt, als Grenzschreibleistung, Hinzufügen eines vorher festgelegten Offsets zur Grenzschreibleistung und Bestimmen des resultierenden Werts als optimale Schreibleistung.
  • Daher ist es als Einstellungsprozess, um die optimale Schreibleistung zu bestimmen, ausreichend, die Schreibleistung von einer Startleistung allmählich zu reduzieren und um eine Grenzleistung auf der Seite der niedrigeren Grenze zu ermitteln. Verglichen mit dem herkömmlichen Fall, wo die Grenzleistungen bei zwei Punkten der oberen und unteren Grenze ermittelt werden, kann die Zeit, die für den Einstellungsprozess erforderlich ist, auf die Hälfte reduziert werden. Da keine hohe Leistung für das Testschreiben benötigt wird, wird die Laserdiode nicht beschädigt, und es kann die Lebensdauer der Vorrichtung verbessert werden.
  • Die Schreibleistungs-Einstellungseinheit hat zumindest zwei Schreibleistungen, und zwar eine erste Leistung, um Aufzeichnungspits des Trägers zu löschen, und eine zweite Leistung, um Aufzeichnungspits zu bilden, und ändert die erste und zweite Leistung mit einer vorher festgelegten proportionalen Beziehung, wenn die Schreibleistung schrittweise allmählich reduziert wird. Wenn die Schreibleistung allmählich schrittweise reduziert wird, ist es auch möglich, die Schreibleistung zu ändern, so dass ein Schwankungsverhältnis der zweiten Leistung kleiner ist als ein Schwankungsverhältnis der ersten Leistung. Ein solches Verfahren wird als DOW (unmittelbares Überschreiben) bezeichnet. Allgemein ausgedrückt ist bei dem PPM-Aufzeichnungsträger des DOW die erste Leistung die Löschleistung und die zweite Leistung ist die erste Schreibleistung. Bei dem PWM-Träger ist die erste Leistung die Löschleistung und die zweite Leistung wird auf zwei Leistungen der ersten und der zweiten Schreibleistung eingestellt. Die Schreibleistungs-Einstelleinheit bestimmt einen Teil eines Bereichs, den der Benutzer nicht verwendet, des Plattenträgers, zu einem Testbereich und schreibt das Testmuster und liest dieses. Daher wird, sogar wenn das Testschreiben durchgeführt wird, kein Einfluss auf die Trägereigenschaft des Benutzerbereichs ausgeübt. Die Schreibleistungs-Einstelleinheit schreibt und liest das Testmuster unter Verwendung von stetigen partiellen Sektoren einer speziellen Spur in mehreren Spuren, die den Testbereich bilden. In diesem Fall ist es auch möglich, das Testmuster zu schreiben und zu lesen, indem geeignete Sektoren in den mehreren Spuren, die den Testbereich zufällig bilden, durch Erzeugen von Zufallsnummern zugeteilt werden. Es ist wünschenswert, von den Sektoren jedes Mal abzuweichen, ohne fortlaufend die Sektoren des Testbereichs zu verwenden, die schon verwendet wurden. Beim Lesen des Testmusters zählt, wenn ein Datensynchronisationsmuster, nämlich ein Synchronisationsbyte unmittelbar vor dem Benutzerbereich im Spurformat nicht ermittelt werden konnte, die Schreibleistungs-Einstelleinheit die maximale Abweichungshäufigkeit. Das heißt, dass das Synchronisationsbyte eine sehr wichtige Information ist, um den Start des Datenbereichs zu ermitteln. Wenn das Synchronisationsbyte nicht ermittelt werden kann, wird dieses unmittelbar so bestimmt, dass die Abweichungshäufigkeit maximal ist, und die Prozesse werden beschleunigt, ohne die Datenabweichungshäufigkeit zu zählen. Beim Lesen des Testmusters, wenn die Häufigkeit der Abweichung in einem Bereich vom Kopfsektor bis zu einer vorher festgelegten Anzahl von Sektoren gleich oder weniger als ein vorher festgelegter Schwellenwert ist, berücksichtigt die Schreibleistungs-Einstelleinheit, dass alle Sektoren Sektoren mit guter Qualität sind, unterbricht den Datenvergleich und zählt den vorher festgelegten Minimalwert, beispielsweise null als Häufigkeit der Abweichung. Wenn beispielsweise die Häufigkeit der Abweichung gleich 1 oder geringer ist beim Kopfsektor, wird der Vergleichsprozess danach nicht ausgeführt, die Häufigkeit der Abweichung wird auf null festgelegt und die Verarbeitungsroutine läuft zum Prozess des nächsten Sektors weiter, wodurch eine Verarbeitungsgeschwindigkeit angehoben wird. Wenn die Häufigkeit einer Abweichung einen vorher festgelegten Schwellenwert übersteigt, der für die Leistungsgrenze bezeichnend ist, durch das Schreiben und Lesen des Testmusters durch die Schreibleistung, die zuerst festgelegt wurde, vergrößert die Schreibleistungs-Einstelleinheit die Testleistung auf einen vorher festgelegten Wert und versucht wieder. Dieser Prozess wird ausgeführt, wenn die Grenzleistung eine Startleistung übersteigt und aufgrund der Temperatur der Vorrichtung hoch ist. Die Schreibleistungs-Einstelleinheit bestimmt die Schreibleistung, die anfangs von der Temperatur der Vorrichtung festgelegt wurde. Da nämlich es eine Korrelation so gibt, dass, wenn die Temperatur der Vorrichtung hoch ist, die Grenzleistung abnimmt, und die Temperatur der Vorrichtung niedrig ist, die Grenzleistung hoch ist, wird die Startleistung in Abwägung der Korrelation mit der Temperatur festgelegt. Die Schreibleistungs-Einstelleinheit vergrößert einen Offset, der der Aufzeichnungsgrenzleistung hinzuzufügen ist, wenn die Gerätetemperatur niedrig ist, und vermindert den Offset, wenn die Gerätetemperatur hoch ist, wodurch die optimale Schreibleistung gemäß der Gerätetemperatur bestimmt wird. Die Schreibleistungs-Einstelleinheit ändert den Offset, der der Aufzeichnungsgrenzleistung hinzuzufügen ist, in einer Weise, dass, wenn die Gerätetemperatur niedrig ist, der Offset auf der inneren Randseite reduziert wird und der Offset auf der äußeren Randseite vergrößert wird. Wenn außerdem die Gerätetemperatur hoch ist, wird der Offset auf der inneren Randseite vergrößert und der Offset auf der äußeren Randseite vermindert. Das heißt, dass die optimale Schreibleistung gemäß der Gerätetemperatur und der Position in der Radialrichtung des Trägers bestimmt wird. Da die Zonen-CAV als Trägerformat verwendet wird, bezeichnen die äußere Randseite und die innere Randseite die Innenrandseite und die Außenrandseite, welche durch die Zonennummer bestimmt werden.
  • Eine Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit aktiviert die Einstellung der Schreibleistung synchron mit dem Schreibbefehl, der von einem übergeordneten Gerät ausgegeben wird. Nachdem nämlich das Gerät durch Laden des Trägers aktiviert wird, wenn der erste Schreibbefehl vom übergeordneten Gerät erzeugt wird, aktiviert die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit die Einstellung der Schreibleistung. Da sich eine Temperatur des Trägers, unmittelbar nachdem der Träger geladen ist, gegenüber einer Temperatur im Gerät unterscheidet, wenn keine Leistungseinstellung durchgeführt wird, wird, nachdem die Trägertemperatur auf die Temperatur im Gerät abgeglichen ist, die optimale Schreibleistung geändert. Daher wird beim Aktivieren die Schreibleistung nicht eingestellt, sondern es wird zunächst die Schreibleistungseinstellung synchron mit der Erzeugung des ersten Schreibbefehls mit einer Zeitgabe ausgeführt, wenn angenommen wird, dass die Trägertemperatur auf die Temperatur im Gerät abgeglichen ist. Die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit bestimmt eine gültige Zeit, wenn eine Gültigkeit des Schreibleistungs-Einstellungsergebnisses von der Ablaufzeit von einer Zeitgabe der Aktivierung des optischen Speichergeräts zu einer Zeitgabe garantiert wird, wenn die erste Schreibleistungseinstellung synchron mit dem Schreibbefehl durchgeführt wird, der vom übergeordneten Gerät erzeugt wird. Wenn die verstrichene Zeit kürzer ist als eine vorher festgelegte Schwellenwertzeit (ungefähr zwei bis drei Minuten), wird die gültige Zeit gemäß der verstrichenen Zeit reduziert. Wenn die verstrichene Zeit die Schwellenwertzeit übersteigt, wird die gültige Zeit auf diese Schwellenwertzeit festgelegt. Das heißt, dass die gültige Zeit, um das Schreibleistungs-Einstellergebnis zu garantieren, auf eine kurze Zeit nach der Aktivierung festgelegt wird. Nachdem die Trägertemperatur auf die Temperatur im Gerät abgeglichen ist, wird die Gültigkeitszeit auf eine lange Zeit festgelegt. Wenn die verstrichene Zeit von der vorherigen Schreibleistungseinstellung die gültige Zeit übersteigt, aktiviert die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit die nächste Schreibleistungseinstellung. Sogar, wenn die verstrichene Zeit von der vorherigen Schreibleistungseinstellung nicht die gültige Zeit erreicht, wenn die vorhandene Temperatur im Gerät übermäßig von einem vorher festgelegten Temperaturbereich für die Temperatur im Gerät im Zeitpunkt der vorherigen Schreibleistungseinstellung schwankt, nämlich, wenn die Temperatur im Gerät sich stark ändert, aktiviert die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit die Schreibleistungseinstellung. In der Schreibleistungs-Einstelleinheit des aktuellen optischen Plattenlaufwerks wird, wenn die Testleistung eingestellt wird, die Schreibleistung unter Verwendung eines Grundeinstellungsverhältnisses der gesetzten Schreibleistung zu einem vorher festgelegten Grundeinstellungsschreibleistung als Referenz verwendet. Wenn die optimale Schreibleistung bestimmt wird, wird ein vorher festgelegtes Offset-Verhältnis dem Grundeinstellungsverhältnis der Grenz leistung hinzugefügt, wodurch ein Grundeinstellungsverhältnis der optimalen Schreibleistung bestimmt wird. Wenn außerdem die Grundeinstellungsschreibleistung eingestellt wird, aktiviert die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit die Schreibleistungseinstellung. Üblicherweise wird die Schreibleistung dadurch erhalten, dass ein Ansteuerstrom, der mehreren Arten von Leistungsanhebungsbeträgen entspricht, zur Laserdiode geliefert wird. Beispielsweise wird bei dem PPM-Aufzeichnungsträger, wenn der Ansteuerstrom:
    (Leseleistungsstrom) + (Löschleistungsstrom) + (Schreibleistungsstrom)
    geliefert wird, die Grundeinstellungsschreibleistung hergeleitet. Wenn daher der Ansteuerstrom der Laserdiode eingestellt wird, ändert sich die Grundeinstellungsleistung selbst, und das Grundeinstellungsverhältnis, um die optimale Schreibleistung insoweit zu bestimmen, kann nicht verwendet werden. Wenn daher die Einstellung des Laserdiodenansteuerstroms, nämlich die Einstellung der Grundeinstellungsschreibleistung durchgeführt wird, wird die Schreibleistungseinstellung, um das Grundeinstellungsverhältnis der untersten Schreibleistung zu bestimmen, mit Sicherheit ausgeführt.
  • Die obigen und weiteren Aufgaben, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden ausführlichen Beschreibung in Bezug auf die Zeichnungen deutlicher.
  • 1 ist ein Diagramm zum Erläutern eines herkömmlichen optimalen Schreibleistungs-Einstellungsprozesses;
  • 2A und 2B sind Blockdiagramme eines optischen Plattenlaufwerks gemäß der vorliegenden Erfindung;
  • 3 ist ein Diagramm zum Erläutern eines Innenaufbaus einer Vorrichtung, in die eine MO-Kassette geladen ist;
  • 4 ist ein Blockdiagramm einer Laserdioden-Steuerschaltung von 2;
  • 5A bis 5J sind Zeitablaufdiagramme für Signale, einen Lichtemissionsstrom, einen Subtraktionsstrom und einen Monitorstrom bei einer Impulsfolgeaufzeichnung des PWM der Erfindung;
  • 6A bis 6J sind Zeitablaufdiagramme für Signale, einen Lichtemissionsstrom, einen Subtraktionsstrom und einen Monitorstrom bei einer PPM-Aufzeichnung der Erfindung;
  • 7A und 7B sind Funktionsblockdiagramme einer LD-Lichtemissions-Verarbeitungseinheit, welche durch eine MPU in 2 realisiert wird;
  • 8 ist ein allgemeines Flussdiagramm für einen LD-Lichtemissions-Einstellungsprozess gemäß 7A und 7B;
  • 9 ist ein allgemeines Flussdiagramm für einen Grobeinstellungsprozess einer LD-Lichtemission in 8;
  • 10 ist ein Flussdiagramm für einen ADC-Monitor-Normierungsprozess in 9;
  • 11 ist ein Diagramm zum Erläutern einer Bezugsgleichung einer linearen Näherung durch den Prozess in 10;
  • 12 ist ein Flussdiagramm für einen Grobeinstellungsprozess einer Lichtemission zum Löschen in 9;
  • 13 ist ein Diagramm zum Erläutern einer Bezugsgleichung einer linearen Näherung bei einem Löschlicht-Emissionsstrom in 12;
  • 14 ist ein Diagramm zum Erläutern einer Bezugsgleichung einer linearen Näherung bei einem Löschsubtraktionsstrom in 12;
  • 15 ist ein Flussdiagramm für eine grobe Einstellung einer Lichtemission für eine erste Schreibleistung in 9;
  • 16 ist ein Flussdiagramm für eine Grobeinstellung einer Lichtemission für eine zweite Schreibleistung in 9;
  • 17 ist ein Diagramm zum Erläutern von Registrierinhalt in einer Leistungstabelle durch die Grobeinstellung für die LD-Lichtemission in 9;
  • 18 ist ein allgemeines Flussdiagramm für einen Feineinstellungsprozess einer LD-Lichtemission in 8;
  • 19 ist ein Flussdiagramm für eine Feineinstellung einer Löschleistung in 18;
  • 20 ist ein Flussdiagramm für eine Feineinstellung einer ersten Schreibleistung in 18;
  • 21 ist ein Flussdiagramm für eine Feineinstellung einer zweiten Schreibleistung in 18;
  • 22 ist ein Flussdiagramm für einen Leistungstabellen-Einstellungsprozess durch eine Zonenbereichsunterteilung auf der Basis eines Feineinstellungsergebnisses;
  • 23 ist ein Programm zum Erläutern der Zonenbereichsunterteilung und einer linearen Näherung in 22;
  • 24 ist ein Diagramm zum Erläutern von Registrierinhalt in der Leistungstabelle, der durch den Einstellungsprozess in 22 erhalten wird;
  • 25 ist ein Flussdiagramm für eine Temperaturkorrektur im Falle einer Behandlung einer zweiten Schreibleistung als Leistungsverhältnis;
  • 26 ist ein Diagramm zum Erläutern einer linearen Näherung eines Leistungsverhältnisses an eine Temperatur in 25;
  • 27 ist ein Diagramm zum Erläutern des Registrierinhalts in der Leistungstabelle, die durch den Prozess in 29 erlangt wird;
  • 28 ist ein Flussdiagramm für einen Leistungsbegrenzungs-Berechnungsprozess in 8;
  • 29 ist ein Diagramm zum Erläutern einer linearen Näherung bei der Berechnung der Leistungsgrenze in 28;
  • 30 ist ein Diagramm zum Erläutern von Registrierinhalt in der Leistungstabelle durch den Prozess in 28;
  • 31 ist ein Flussdiagramm, um eine Abweichung einer Schreibleistung zu erläutern, die durch eine automatische Leistungssteuerung einer PWM-Aufzeichnung auftritt;
  • 32A bis 32C sind Zeitablaufdiagramme, um eine Subtraktionsstromeinstellung zu erläutern, um die Abweichung der Schreibleistung in 31 zu kompensieren;
  • 33A bis 33D sind Zeitablaufdiagramme für eine erste Grobeinstellung der Schreibleistungs-Lichtemission, um die Verschiebungskompensation in 32 zu realisieren;
  • 34 ist ein Flussdiagramm für einen Leistungseinstellungsprozess unter Verwendung einer Leistungstabelle nach Abschluss der Lichtemissionseinstellung;
  • 35 ist ein Funktionsblockdiagramm einer Einstelleinheit für eine optimale Schreibleistung, welche durch die MPU in 2 realisiert wird;
  • 36 ist ein Diagramm zum Erläutern einer Grundeinstellungslösch-Leistungstabelle in 35;
  • 37 ist ein Diagramm zum Erläutern der Grundeinstellungs-Schreibleistungstabelle in 35;
  • 38 ist ein Diagramm zum Erläutern einer Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle in 35;
  • 39 ist ein Flussdiagramm für einen Plattenaktivierungsprozess vor der Leistungseinstellung für optimales Schreiben in 35;
  • 40 ist ein Flussdiagramm für einen Schreibprozess einschließlich der Leistungseinstellung für optimales Schreiben in 35;
  • 41A und 41B sind Flussdiagramme für eine Beurteilung der Notwendigkeit eines Testschreibens in 40;
  • 42A und 42B sind Flussdiagramme für den Testschreibprozess in 40;
  • 43 ist ein Diagramm zum Erläutern der Ermittlung einer Grenzleistung und zum Einstellen einer optimalen Leistung beim Testschreiben in 42;
  • 44 ist ein Diagramm zum Erläutern eines Temperaturkorrektur-Koeffizienten, um eine Temperatur eines Offset-Verhältnisses zu korrigieren, um eine optimale Leistung zu erlangen, wobei eine Grenzleistung in 42 hinzugefügt wird;
  • 45 ist ein Diagramm zum Erläutern eines Korrekturkoeffizienten für eine Zonenposition des Offset-Verhältnisses, um eine optimale Leistung zu erlangen, wobei eine Grenzleistung in 42 hinzugefügt wird;
  • 46A bis 46C sind erläuternde Diagramme, welche eine Verschiebung einer optimalen Schreibleistung durch die Temperatur zeigen;
  • 47 ist ein Flussdiagramm, um Schreibadressen des Testschreibens in 42 zufallsmäßig zu bilden;
  • 48 ist ein erklärendes Bereichsdiagramm eines Trägers;
  • 49 ist ein erklärendes Diagramm eines Leistungseinstellungsbereichs, der einem Nichtbenutzerbereich in 48 zugeordnet ist;
  • 50 ist ein erläuterndes Diagramm des Testschreibens durch die Zufallsadressen in 47;
  • 51 ist ein Flussdiagramm, um sequentiell Schreibadressen beim Testschreiben in 42 zu bilden;
  • 52 ist ein erläuterndes Diagramm des Testschreibens gemäß den sequentiellen Adressen in 51;
  • 53 ist ein Flussdiagramm für einen Leseprozess von Testdaten durch das Testschreiben in 42;
  • 54 ist ein erläuterndes Diagramm eines Spurformats als Ziel der Datenleseoperation in 53;
  • 55 ist ein Flussdiagramm für einen Prozess, um die Abweichungshäufigkeit von Daten beim Testschreiben in 42 zu zählen; und
  • 56 ist ein Flussdiagramm für einen Leistungstabellen-Einstellungsprozess unter Verwendung eines Einstellungsergebnisses einer optimalen Schreibleistung.
  • Aufbau der Vorrichtung
  • 2A und 2B sind Schaltungsblockdiagramme einer optischen Plattenansteuerung als optische Speichervorrichtung der Erfindung. Die optische Plattenansteuerung der Erfindung besteht aus einer Steuerung 10 und einem Gehäuse 12. Die Steuerung 10 besitzt: eine MPU 14, um das gesamte optische Plattenlaufwerk zu steuern; eine Schnittstellensteuerung 16, um Befehle und Daten zu einem übergeordneten Gerät zu übertragen und davon zu empfangen; einen Formatierer 16, um Prozesse auszuüben, die notwendig sind, um Daten auf einen optischen Plattenträger zu schreiben und davon zu lesen; und einen Pufferspeicher 20, der allgemein durch die MPU 14, die Schnittstellensteuerung 16 und den Formatierer 18 verwendet wird. Ein Codierer 22 und eine Laserdioden-Steuerungsschaltung 24 sind als Schreibsystem für den Formatierer 18 vorgesehen. Ein Steuerungsausgangssignal der Laserdioden-Steuerungsschaltung 24 wird zu einer Laserdiode 30 geliefert, die für eine optische Einheit auf Seiten des Gehäuses 12 vorgesehen ist. In der Laserdiodeneinheit 30 sind eine Laserdiode und eine photosensitive Einrichtung zum Überwachen integriert. Als optische Platte zum Aufzeichnen und zum Reproduzieren unter Verwendung der Laserdiodeneinheit 30 kann nämlich ein umschreibbarer Träger in Form einer MO-Kassette bei der Ausführungsform, d. h., irgendeiner der Träger mit 128 MB, 230 MB, 540 MB und 640 MB verwendet werden. Unter diesen wird in Bezug auf den Träger der MO-Kassette mit 128 MB und 230 MB eine Pitpositionsaufzeichnung (PPM-Aufzeichnung), bei der Daten entsprechend dem Vorhandensein oder Nichtvorhandensein einer Markierung auf dem Träger aufgezeichnet sind, verwendet. Ein Aufzeichnungsformat des Trägers ist das ZCAV und wird auf eine Zone für 128 MB und 10 Zonen für 230 MB festgelegt. Wie für die MO-Kassettenträger von 540 MB und 640 MB, bei denen die hochdichte Aufzeichnung durchgeführt wird, wird eine Pulsbreitenaufzeichnung (PWM-Aufzeichnung), bei der Ränder einer Markierung, beispielsweise eine vordere Flanke und eine hintere Flanke so gemacht werden, dass sie den Daten entsprechen, verwendet. Ein Unterschied von Speicherkapazitäten zwischen 640 MB und 540 MB wird aufgrund eines Unterschieds zwischen Sektorkapazitäten veranlasst. Wenn die Sektorkapazität gleich 2 kB ist, ist die Speicherkapazität gleich 640 MB. Wenn die Sektorkapazität gleich 512 Bytes ist, beträgt die Speicherkapazität 540 MB. Das Aufzeichnungsformat des Trägers entspricht einer Zonen-CAV (ZCAV), wobei es 11 Zonen für 640 MB und 18 Zonen für 540 MB gibt. Das optische Plattenlaufwerk der Erfindung kann wie oben erwähnt mit der MO-Kassette mit der Speicherkapazität von 128 MB, 230 MB, 540 MB und 640 MB fertig werden. Wenn die MO-Kassette in das optische Plattenlaufwerk geladen wird, wird ein ID-Bereich des Träger zunächst gelesen, die Art des Trägers wird in der MPU 14 aus einem Pitintervall erkannt, und das Ergebnis der Erkennung über die Art wird dem Formatierer 18 mitgeteilt. Im Falle des Trägers von 128 MB oder 230 MB wird ein Formatierungsprozess entsprechend der PPM-Aufzeichnung durchgeführt. Im Fall eines Trägers von 540 MB oder 640 MB wird ein Formatierungsprozess gemäß dem PWM-Aufzeichnen durchgeführt. Als Lesesystem für den Formatierer 18 sind ein Decodierer 26 und eine LSI-Leseschaltung 28 vorgesehen. Ein photosensitives Signal eines Rückkehrlichts eines Strahls von der Laserdiode 30 durch einen Detektor 32, der für das Gehäuse 12 vorgesehen ist, wird der LSI-Leseschaltung 28 als ein ID-Signal und ein MO-Signal über einen Kopfverstärker 34 zugeführt. Schaltungsfunktionen einer AGC-Schaltung, eines Filters, einer Sektormarkierungs-Ermittlungsschaltung, eines Synthesizers, einer PLL und dgl. sind für die LSI-Leseschaltung 28 vorgesehen. Ein Lesetakt und Lesedaten werden von dem zugeführten ID-Signal und dem MO-Signal gebildet und zum Decoder 26 geliefert. Da die Zonen-CAV als ein Aufzeichnungssystem des Trägers durch einen Spindelmotor 40 verwendet wird, wird für die LSI-Leseschaltung eine Schaltsteuerung einer Taktfrequenz entsprechend der Zone durch die MPU 14 für den Einbausynthesizer durchgeführt. Ein Modulationssystem des Codierers 22 und ein Demodulationssystem des Decoders 26 werden auf die Modulations- und Demodulationssysteme der PPM-Aufzeichnung in Bezug auf die Träger von 128 MB und 230 MB gemäß der Art des Trägers durch den Formatierer 18 umgeschaltet. Dagegen werden sie in Bezug auf die Träger von 540 MB und 640 MB auf die Modulations- und Demodulationssysteme der PWM-Aufzeichnung umgeschaltet. Ein Ermittlungssignal eines Temperatursensors 36, der im Gehäuse 12 vorgesehen ist, wird der MPU 14 zugeführt. Auf der Basis einer Umgebungstemperatur in der Vorrichtung, die durch den Temperatursensor 36 ermittelt wird, steuert die MPU 14 die Lichtemissionsleistungen zum Lesen, Schreiben und zum Löschen in der Laserdioden-Steuerschaltung 24 auf den optimalen Wert. Die MPU 14 steuert den Spindelmotor 40, der im Gehäuse 12 vorgesehen ist, durch eine Ansteuerung 38. Da das Aufzeichnungsformat der MO-Kassette auf ZCAV festgelegt ist, wird der Spindelmotor 40 mit einer konstanten Geschwindigkeit von beispielsweise 3600 UPM gedreht. Die MPU 14 steuert einen Elektromagneten 44, der im Gehäuse 12 vorgesehen ist, über eine Ansteuerung 42. Der Elektromagnet 44 ist auf der Seite gegenüber einer Strahlabstrahlungsseite der MO-Kassette angeordnet, die in das Gerät geladen ist, und legt ein externes magnetisches Feld an den Träger beim Aufzeichnen und beim Löschen an. Ein DSP 15 realisiert eine Servofunktion, um den Strahl von der Laserdiode 30 für den Träger zu positionieren. Zu diesem Zweck ist ein Zwei-Aufteilungs-Detektor 46, um das Licht in einem Strahlenmodus vom Träger zu empfangen, für die optische Einheit auf Seiten des Gehäuses 12 vorgesehen. Eine FES-Ermittlungsschaltung (Fokussierungsfehler-Signalermittlungsschaltung) 48 bildet ein Fokussierungsfehlersignal E1 von einem photosensitiven Ausgangssignal des Zwei-Aufteilungs-Detektors 46 und liefert dieses zum DSP 15. Eine TES-Ermittlungsschaltung (Spurfehler-Signalermittlungsschaltung) 50 bildet ein Spur führungsfehlersignal E2 vom photosensitiven Ausgangssignal des Zwei-Aufteilungs-Detektors 46 und liefert dieses zum DSP 15. Das Spurführungsfehlersignal E2 wird einer TZC-Schaltung (Spur-Nulldurchgangs-Ermittlungsschaltung) 45 zugeführt, durch die ein Spurführungs-Nulldurchgangs-Impuls E3 gebildet wird und dem DSP 15 zugeführt wird. Außerdem ist ein Linsenpositionssensor 52, um eine Position einer Objektivlinse zu ermitteln, um den Laserstrahl auf den Träger zu strahlen, im Gehäuse 12 vorgesehen. Ein Linsenpositions-Ermittlungssignal(LPOS) E4 des Sensors 52 wird zum DSP 15 geliefert. Um den Laserstrahl zu positionieren steuert der DSP 15 ein Fokussierungsstellglied 56, ein Linsenstellglied 60 und einen VCM 64 über Ansteuerungen 54, 58 bzw. 62 und treibt diese an.
  • 3 ist ein schematisches Diagramm des Gehäuses im optischen Plattenlaufwerk. Der Spindelmotor 40 ist in einem Gehäuse 66 vorgesehen. Durch Einführen einer MO-Kassette 70 von einer Einlassklappe 68 auf eine Nabe einer Drehwelle des Spindelmotors 40 wird ein Laden, so dass ein innen gelagerter MO-Träger 72 an der Nabe der Drehwelle des Spindelmotors 40 angebracht wird, ausgeführt. Ein Wagen 76, der durch den VCM 64 in der Richtung bewegt werden kann, der die Trägerspuren überquert, ist auf der unteren Seite des MO-Trägers 72 der geladenen MO-Kassette 70 vorgesehen. Eine Objektivlinse 80 ist auf dem Wagen 76 befestigt. Der Laserstrahl von dem Halbleiterlaser, der für ein festes optisches System 78 vorgesehen ist, wird der Objektivlinse 80 über ein Prisma 82 zugeführt, und ein Strahlenspot wird als ein Bild auf der Trägerfläche des MO-Trägers 72 gebildet. Die Objektivlinse 80 wird in der optischen Achsenrichtung durch das Fokussierungsstellglied 56 des Gehäuses 12 in 2B bewegt und gesteuert und kann durch das Linsenstellglied 60 in einem Bereich von beispielsweise 10 Spuren in der Radialrichtung bewegt werden, so dass die Trägerspuren überquert werden. Die Position der Objektivlinse 80, die auf dem Wagen 76 befestigt ist, wird durch den Linsenpositionssensor 52 in 2B ermittelt. Der Linsenpositionssensor 52 legt ein Linsenspositions-Ermittlungssignal auf null bei einer neutralen Position fest, wo die optische Achse der Objektivlinse 80 nach rechts frei gerichtet ist und erzeugt das Linsenpositions-Ermittlungssignal E4 gemäß der Höhe der Bewegung unterschiedlicher Polaritäten für die Bewegung nach außen und die Bewegung nach innen.
  • LD-Lichtemissionseinstellung
  • 4 ist ein Schaltungsblockdiagramm der Laserdioden-Steuerschaltung 24, die für die Steuerung 10 in 2A vorgesehen ist. Eine Laserdiode 100 und eine Monitorfotodiode 102 sind integriert für die Laserdiodeneinheit 30 vorgesehen. Die Laserdiode 100 empfängt einen Ansteuerstrom I durch eine Versorgungsspannung VCC, emittiert das Licht, bildet einen Laserstrahl durch eine optische Einheit und strahlt den Laserstrahl auf die Trägerfläche, wodurch das Aufzeichnen und Wiedergeben durchgeführt wird. Ein Teil des Lichts von der Laserdiode 100 wird der Monitor-Photodiode 102 zugeführt, so dass die Monitor-Photodiode 102 einen photosensitiven Strom I0 erzeugt, der proportional zur Lichtemissionsleistung der Laserdiode 100 ist. Eine Lesespannungs-Stromquelle 104, eine Löschspannungs-Stromquelle 106, eine erste Schreibleistungs-Stromquelle 108 und eine zweite Schreibleistungs-Stromquelle 110 sind parallel zur Laserdiode 100 geschaltet, wodurch ein Leseleistungsstrom I0, ein Löschleistungsstrom I1, ein erster Schreibleistungsstrom I2 und ein dritter Schreibleistungsstrom I3 entsprechend zur Laserdiode 100 geliefert werden. Daher fließt im Zeitpunkt der Lichtemission durch die Leseleistung der Leseleistungsstrom I0. Im Zeitpunkt der Lichtemission durch die Löschleistung fließt der Strom (I0 + I1), zu dem der Löschleistungsstrom I1 zum Leseleistungsstrom I0 addiert ist. Im Zeitpunkt der Lichtemission durch die erste Schreibleistung fließt ein Strom (I0 + I1 + I2), zu dem der erste Schreibleistungsstrom I2 außerdem hinzugefügt ist. Im Zeitpunkt der Lichtemission durch die zweite Schreibleistung fließt der Strom (I0 + I1 + I3), zu dem der zweite Schreibleistungsstrom I3 zum Leseleistungsstrom I0 und dem Löschleistungsstrom I1 hinzugefügt ist. Eine automatische Leistungssteuerungseinheit (anschließend abgekürzt als "APC" bezeichnet) 138 ist für die Leseleistungs-Stromquelle 104 vorgesehen. Eine spezielle Zielleseleistung ist als Zielleistung für die APC 138 über ein DAC-Zielregister 120 und einen D/A-Umsetzer eingestellt (anschließend abgekürzt als "DAC" bezeichnet). Ein EP-Strom-DAC-Register 122 und ein DAC 140 sind als EP-Strom-Instruktionseinheit für die Löschleistungs-Stromquelle 106 vorgesehen. Ein WP1-Strom-DAC-Register 124 und das DAC 124 sind als WP1-Strom-Instruktionseinheit für die WP1-Stromquelle 108 vorgesehen. Außerdem sind ein WP2-Strom-DAC-Register 126 und ein DAC 144 ebenfalls als WP2-Strom-Instruktionseinheit für die zweite Schreibleistungs-Stromquelle 110 vorgesehen. Daher kann der Strom von den Stromquellen 104, 106, 108 und 110 schnell durch Einstellen eines DAC-Instruktionswertes für die entsprechenden Register 120, 122, 124 und 126 geändert werden. Eine Lichtemissions-Stromquellenschaltung ist hier durch ein Register, ein DAC und eine Konstantstromquelle gebildet. Als Steuerung durch die APC 138 wird eine Rückführungssteuerung ausgeführt, so dass ein Monitorstrom im, der von dem photosensitiven Strom i0 der Photodiode 102 hergeleitet wird, mit der Zielspannung des DAC 136 entsprechend einer Zielleseleistung übereinstimmt. Daher sind Subtraktionsstromquellen 112, 114 und 116 für die Monitor-Photodiode 102 vorgesehen, um den photosensitiven Strom zu subtrahieren, wenn die Lichtemission durchgeführt wird, durch die Löschleistung und die erste und die zweite Schreibleistung, welche die Leseleistung übersteigen, und um den Monitorstrom im entsprechend der Leseleistung zur APC zurückzuführen. Der willkürliche Subtraktionsstrom i1 kann für die Subtraktionsstromquelle 112 für die Löschleistung durch ein EP-Subtraktions-DAC-Register 128 und eine DAC 146 als eine EP-Subtraktionsstrom-Instruktionseinheit eingestellt werden. Ein willkürlicher Subtraktionsstrom i2 kann für die Subtraktionsstromquelle 114 für die erste Schreibleistung durch ein WP1-Subtraktions-DAC-Register 130 und eine DAC 148 als eine WP1-Subtraktionsstrom-Instruktionseinheit eingestellt werden. Außerdem kann ein willkürlicher Subtraktionsstrom i3 ebenso für die zweite Schreibleistungs-Subtraktionsstromquelle 116 durch ein WP2-Subtraktions-DAC-Register 132 und eine DAC 150 als WP2-Subtraktionsstrom-Instruktionseinheit festgelegt werden. Die Monitorströme im in den Lichtemissionsmoden dieser drei Subtraktionsstromquellen i1, i2 und i3 sind wie folgt:
    • I. Wenn Licht mit der Leseleistung emittiert wird: im = i0
    • II. Wenn Licht mit der Löschleistung emittiert wird: im = i0 – i1
    • III. Wenn Licht mit der ersten Schreibleistung emittiert wird: im = i0 – (i1 + i2)
    • IV. Wenn Licht mit der zweiten Schreibleistung emittiert wird: im = i0 – (i1 + i3)
  • Sogar, wenn die Lichtemission durch eine von der Löschleistung und der ersten oder zweiten Schreibleistung durchgeführt wird, die die Zielleseleistung übersteigen, fließt durch Subtrahieren des entsprechenden Subtraktionsstroms vom photosensitiven Strom i0 daher der Monitorstrom im in ein Monitorspannungs-Ermittlungsregister 118 als Strom, der der Leseleistung entspricht und wird zurück zur APC 138 geführt. Daher steuert die APC 138 die Leseleistungs-Stromquelle 104, um immer die Zielleseleistung beizubehalten, unabhängig vom Wert der Lichtemissionsleistung, wodurch eine automatische Leistungssteuerung der speziellen Löschleistung, der ersten Schreibleistung und der zweiten Schreibleistung realisiert wird. In Bezug auf die Subtraktionsströme ebenfalls wird eine Subtraktionsstrom-Quellenschaltung durch ein Register, ein DAC und eine Konstantstromquelle aufgebaut. Eine Monitorspannung durch den Monitorspannungs-Ermittlungswiderstand 118, die dem Monitorstrom im entspricht, wird in Digitaldaten durch einen A/D-Umsetzer 152 umgesetzt (anschließend hier als "ADC" bezeichnet) und einem Monitor-ADC-Register 134 zugeführt. Danach werden die Digitaldaten an die MPU 14 ausgelesen. Daher bilden der ADC 152 und das Monitor-ADC-Register 134 eine Messeinheit des Monitorstroms im.
  • 5A bis 5J sind Zeitablaufdiagramme für Signale, einen Lichtemissionsstrom und einen Subtraktionsstrom der Impulsfolgeaufzeichnung des PWM in der Laserdioden-Steuerschaltung 24 in 4. Wenn nun angenommen wird, dass Schreibdaten von 5B synchron mit einem Schreibtor von 5A ausgegeben werden, werden die Schreibdaten in Impulsbreitendaten von 5D synchron mit einem Schreibtakt von 5C umgesetzt. Auf der Basis der Impulsbreitendaten wird ein Löschimpuls gebildet, wie in 5E gezeigt ist, und außerdem wird ein erster Schreibimpuls gebildet, wie in 5F gezeigt ist. Ein zweiter Schreibimpuls von 5G wird außerdem gebildet. Der zweite Schreibimpuls hat die Impulse der Anzahl, die einer Impulsbreite der Impulsbreitendaten von 5D entspricht. Beispielsweise hat dieser in Bezug auf die Kopfimpulsbreitendaten eine Impulsbreite von 4 Takten, die nächsten Impulsbreitendaten haben eine Impulsbreite von 2 Takten, und die weiteren nächsten Impulsbreitendaten haben eine Impulsbreite von 3 Takten. Entsprechend dazu werden als zweiter Schreibimpuls von 5G zwei Impulse in Bezug auf die Breite von vier Takten der Kopfdaten im Anschluss an den ersten Schreibimpuls von 5F erzeugt, kein Impuls wird für die Impulsbreite der nächsten beiden Takte erzeugt, ein Impuls wird in Bezug auf die dritte Impulsbreite von drei Takten erzeugt, und die Information, die die Impulsbreite bezeichnet, wird aufgezeichnet. 5H zeigt Lichtemissionsströme und Leistungen auf der Basis des Löschimpulses, des ersten Schreibimpulses und des zweiten Schreibimpulses von 5E, 5F und 5G und bezieht sich auf das PWM-Aufzeichnen beim Überschreiben von Trägern von 540 MB und 640 MB als Beispiel. Zunächst wird immer der Lesestrom geliefert und die DC-Lichtemission wird durch eine Leseleistung RP durchgeführt. Daher fließt der Lichtemissionsstrom (I0 + I1) synchron mit dem Löschimpuls, so dass der Strom durch eine Löschleistung EP ansteigt. Der Lichtemissionsstrom I2 wird mit der Zeitgabe bzw. der Taktsteuerung des ersten Schreibimpulses hinzugefügt und der Strom wird durch eine erste Schreibleistung WP1 vergrößert. Außerdem wird der Lichtemissionsstrom I3 mit der Zeitgabe vom zweiten Schreibimpuls hinzugefügt, und der Strom wird auf (I0 + I1 + I3) festgelegt, so dass der Strom durch eine zweite Schreibleistung WP2 vergrößert wird. Ein Subtraktionsstrom, der in 5I gezeigt ist, wird zu den Subtraktionsstromquellen 112, 114 und 116 in 4 synchron mit dem Lichtemissionsstrom von 5H geliefert. Der Subtraktionsstrom i1, der dem Anstiegsbetrag der Löschleistung EP entspricht, fließt, der Subtraktionsstrom i2, der dem Anstiegsbetrag der nächsten ersten Schreibleistung WP1 entspricht, wird hinzugefügt, so dass ein Subtraktionsstrom (i1 + i2) fließt. Außerdem wird der Subtraktionsstrom i3, der dem Anstiegsbetrag der zweiten Schreibleistung WP2 entspricht, hinzugefügt, so dass ein Subtraktionsstrom (i1 + i3) fließt. Daher wird der Monitorstrom im von 5J auf einen Wert festgelegt, der durch Subtraktion des Subtraktionsstroms von 5H von dem photosensitiven Strom i0 erhalten wird, der dem Lichtemissionsstrom und der Lichtemissionsleistung von 5H entspricht. Sogar während der Lichtemission wird der Monitorstrom immer in den konstanten Strom entsprechend der Leseleistung umgesetzt und zurück zur APC 138 geführt. Bei der PWM-Aufzeichnung der Überschreibträger von 128 MB und 230 MB wird (RP + EP + WP1) in 5H auf die Löschleistung festgelegt, und (RP + EP + WP2) wird auf die Schreibleistung festgelegt. Außerdem wird (RP + EP) als Unterstützungsleistung angelegt, um die Lichtemission synchron mit dem Löschimpuls 5E durchzuführen, wodurch ermöglicht wird, dass die Leistung auf die Löschleistung und die Schreibleistung mit hoher Geschwindigkeit angehoben wird.
  • 6A bis 6J sind Zeitablaufdiagramme für Signale, einen Lichtemissionsstrom, einen Subtraktionsstrom und einen Monitorstrom beim Aufzeichnen des PPM-Trägers. Wenn man nun annimmt, dass Schreibdaten von 6B synchron mit einem Schreibtor von 6A ausgegeben werden, wird ein Pitflankenimpuls von 6D synchron mit einem Schreibtakt von 6C gebildet. Als Antwort auf den Pitflankenimpuls werden ein Löschimpuls von 6E und ein erster Schreibimpuls von 6F gebildet. Beim PPM-Aufzeichnen wird ein zweiter Schreibimpuls von 6G nicht verwendet. Durch Liefern eines Lichtemissionsstroms von 6H durch diesen Löschimpuls und den ersten Schreibimpuls zur Laserdiode wird eine Lichtemissionsleistung P hergeleitet. Bei der PPM-Aufzeichnung wird, da die Löschleistung die gleiche ist wie die Leseleistung RP, sogar mit einer Zeitgabe des Löschimpulses die Lichtemission durch die Leseleistung RP durch den Leseleistungsstrom I0 aufrechterhalten. Mit der Zeitgabe des ersten Schreibimpulses wird der Lichtemissionsstrom auf (I1 + I2) vergrößert und auf die Leistung festgelegt, welche durch Addition der Löschleistung EP zur ersten Schreibleistung WP1 erhalten wird. Als Subtraktionsstrom von 6E wird der Subtraktionsstrom (i1 + i2) mit der Lichtemissions-Zeitgabe des ersten Schreibimpulses geliefert. Somit wird der Monitorstrom im von 6J immer auf dem Strom gehalten, der dem photosensitiven Strom der Leseleistung entspricht.
  • 7A und 7B sind Funktionsblockdiagramme für die Lichtemissionseinstellung nach der Erfindung, welche durch die MPU 14 in 2A realisiert wird. Eine Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit 162, eine Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit 164, und eine Leistungseinstellungs-Verarbeitungseinheit 166 sind für eine LD-Lichtemissions-Verarbeitungseinheit 160 vorgesehen. Die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit 162 und die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit 164 bilden eine Lichtemissions-Verarbeitungseinheit nach der Erfindung. Die Art des gelade nen Trägers, der Schreib- oder Löschmodus als Antwort auf einen Zugriff von einem übergeordneten Gerät, die Zonennummer, welche von der Zugriffsspur erhalten wird, und außerdem die Temperatur in der Vorrichtung durch den Temperatursensor 36, der im Gehäuse 12 in 2 vorgesehen ist, werden für die LD-Lichtemissions-Verarbeitungseinheit 160 von außerhalb über Register 168, 170, 172 und 174 eingestellt und für die Lichtemissionseinstellung und einen Leistungseinstellungsprozess beim üblichen Betrieb verwendet. Eine Leistungstabellen-Speichereinheit 180 ist für die LD-Lichtemissions-Verarbeitungseinheit 160 vorgesehen. Eine Leistungstabellen-Speichereinheit 180, ein Speicher, beispielsweise ein DRAM oder dgl., welche die MPU 14 in 2A besitzt, wird verwendet. Zunächst werden, wie auf der rechten Seite gezeigt ist, eine Monitor-ADC-Koeffiziententabelle 182, eine EP-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 184, eine EP-Subtraktions-DAC-Koeffiziententabelle 186, eine WP1-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 188, eine WP1-Subtraktions-DAC-Koeffiziententabelle 190, eine WP2-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 192, und eine WP2-Subtraktions-DAC-Koeffiziententabelle 194 in der Leistungstabelle-Speichereinheit 180 bereitgestellt. Eine Bezugsgleichung durch eine lineare Näherung eines ADC-Ausgangssignals als ein Leistungsmesswert für eine beliebige Leistung, der eine Eingangsmonitorspannung im ADC 152 zum Überwachen in 4 angibt, wird durch einen Lichtemissions-Einstellprozess erlangt, und eine Steigung a0 und ein Schnittpunkt b0 mit der y-Achse der Bezugsgleichung werden in der Monitor-ADC-Koeffiziententabelle 182 registriert. In Bezug auf eine Bezugsgleichung, bei der die Relationen der Registerinstruktionswerte für eine willkürliche Leistung in jedem der DACs 140, 142, 144, 146, 148 und 150 in 4 durch eine lineare Näherung der Messergebnisse durch die Lichtemissionseinstellung erhalten werden, eine Steigung und ein Schnittpunkt mit der y-Achse dieser Bezugsgleichung in jeder der Tabellen 184, 186, 188, 190, 192 und 194 gespeichert. In Bezug auf die Koeffiziententabellen 184, 188 und 192 des Lichtemissionsstroms werden, da die Bezugsgleichung der linearen Näherung durch (y = ax + b) eingestellt wird, die Koeffizienten a1, a2 und a3 und die Schnittpunkte b1, b2 und b3 mit der y-Achse registriert. Dagegen werden in Bezug auf die Koeffiziententabellen 186, 190 und 194 für den Subtraktionsstrom, da eine Bezugsgleichung (y = cx + d) der linearen Näherung definiert ist, Steigungen c1, c2 und c3 und die Schnittpunkte b1, b2 und b3 mit der y-Achse registriert. Andererseits sind eine Löschleistungstabelle 196, eine erste Schreibleistungstabelle 198, eine zweite Schreibleistungstabelle 200, eine Leistungsverhältnistabelle 202, eine Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 204 und eine Grenzleistungstabelle 206 in der Leistungstabellen-Speichereinheit 180 vorgesehen. Obwohl bestimmte Leistungswerte, welche allen Zonen des Trägers entsprechen, schon in diesen Tabellen gespeichert wurden, haben bei der Erfindung im Anfangszustand, bei dem der Träger geladen wurde, sie nicht die Leistungen aller Zonen, wobei jedoch die Leistungswerte von zumindest zwei Zonen, die für die Lichtemissionseinstellung notwendig sind, gespeichert sind. Daher erlangt die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit 162 eine Bezugsgleichung, um jede Leistung für jede Zonennummer linear anzunähern, durch die Lichtemissions-Einstellung unter Verwendung der Leistungswerte der beiden Zonen, die zu Anfang in jeder Tabelle festgelegt wurden, berechnet die entsprechenden Leistungen aller Zonen von einer derartigen Bezugsgleichung und registriert die Leistungen in den Tabellen. Insbesondere führt die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit 184 den Messprozess durch die Lichtemissionseinstellung unter Verwendung der Lichtemissionsleistungen der beiden Zonen, die anfangs eingestellt wurden und das Einstellen jeder Leistung jeder Zone gemäß der Bezugsgleichung der linearen Näherung auf der Basis der Messergebnisse unter Verwendung der Einstellungsergebnisse des ADC und des DAC durch die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit 162 durch. Außerdem wird eine optimale Leistungstabelle 208 in der Leistungstabellen-Speichereinheit 180 bereitgestellt. Eine optimale Leistung jeder Zone entsprechend der Temperatur in der Vorrichtung in diesem Zeitpunkt wird durch das Testschreiben unter Verwendung jeder Leistung erlangt, die in dem Zustand nach Beendigung der Lichtemissionseinstellung eingestellt wurde. Die optimale Leistung jeder Zone wird in der Optimalleistungstabelle 208 registriert. Beim Registrieren in der Optimalleistungstabelle 208 in diesem Fall wird die optimale Leistung selbst nicht registriert, sondern es wird eine Grundeinstellungsvergrößerung K (Grundeinstellungsverhältnis), welche durch Unterteilen der erlangten optimalen Leistung unter Verwendung eines Einstellungswertes in jeder der Leistungstabellen verwendet wird, die durch die Lichtemissionseinstellung als Referenz erlangt werden, in jeder Leistungstabelle registriert.
  • Wenn die Leistung unter Verwendung der Grundeinstellungsvergrößerung in der Optimalleistungstabelle 208 eingestellt wird, kann daher die Leistung, die aktuell eingestellt ist, durch Multiplizieren der Grundeinstellungsvergrößerung K mit dem Leistungseinstellungswert der entsprechenden Leistungstabelle erlangt werden. Das Einstellen der optimalen Leistung unter Verwendung der Optimalleistungstabelle 208 wird durch die Leistungseinstellungs-Verarbeitungseinheit 166 durchgeführt. Ein Verhältnis (WP2/WP1) zwischen der zweiten Schreibleistung WP2 und der ersten Schreibleistung WP1 wurde in der Leistungsverhältnistabelle 202 gespeichert, welche in der Leistungstabellen-Speichereinheit 180 vorgesehen ist. Wenn die Leistungsverhältnistabelle 202 gebildet wird, ist die zweite Schreibleistungstabelle 200 nicht notwendig. Die Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 204 ist, um das Leistungsverhältnis durch die Temperatur in der Vorrichtung in diesem Zeitpunkt ent sprechend der Leistungsverhältnistabelle 204 zu korrigieren, vorgesehen. Außerdem werden die oberen und die untere Grenze, wenn die entsprechende Grundeinstellungsvergrößerung K von der Optimalleistungstabelle 208 gelesen wird und mit dem eingestellten Grundeinstellungswert multipliziert wird, durch die Leistungseinstellungs-Verarbeitungseinheit 166 eingestellt und in der Grenzleistungstabelle 206 registriert. In einer Weise ähnlich dem Fall der Optimalleistungstabelle 208 wurden die obere und die untere Grenze in der Leistungstabelle 206 als Grundeinstellungsvergrößerung registriert. Wenn die Grundeinstellungsvergrößerung in der Optimalleistungstabelle von den Grenzvergrößerungen Kmax und Kmin in der Grenzleistungstabelle abweicht, wird die Grundeinstellungsvergrößerung durch das Grenzverhältnis begrenzt.
  • 8 zeigt ein allgemeines Flussdiagramm für einen Laserdioden-Lichtemissions-Einstellungsprozess durch die LD-Lichtemissions-Verarbeitungseinheit 160 in 7A und 7B. Zunächst wird im Schritt S1 der Träger geladen und gedreht. Im Schritt S2 wird der Strahl beispielsweise auf einen Nichtbenutzerbereich auf der äußersten Seite des Trägers durch Ansteuern des Wagens 76 in 3 bewegt. In diesem Zustand folgt der Schritt S3 und eine Lichtemissions-Grobeinstellung der Laserdiode wird durchgeführt. Wenn die Lichtemissions-Grobeinstellung der Laserdiode durchgeführt wird, wird eine Fokussierungsservo ausgeschaltet, und der APC 138 wird ebenfalls ausgeschaltet. Im Schritt S4 werden die Fokussierungsservo und die Spurführungsservo eingeschaltet, und außerdem wird der APC 139 ebenfalls eingeschaltet. In diesem Zustand wird die Art des Trägers im Schritt S5 erkannt. Beim Erkennen der Art des Trägers kann durch Erkennen eines Pitintervalls von gelesenen Daten des ID-Bereichs der Spur ein Prozess des Trägers, nämlich, ob der geladene Träger ein Träger von 128 MB, ein Träger von 230 MB, ein Träger von 540 MB oder ein Träger von 640 MB ist, erkannt werden. Wenn die Art des Trägers im Schritt S5 erkannt wird, wird eine Feineinstellung durch die Lichtemission der Laserdiode durch mehrere Lese-, Lösch- und Schreibleistungen im Schritt S6 durchgeführt. In diesem Fall wird, wenn der Träger ein Träger von 128 MB oder 230 MB ist, die Lichtemissions-Feineinstellung gemäß der PPM-Aufzeichnung durchgeführt. Wenn der Träger ein Träger von 540 MB oder 640 MB ist, wird die Lichtemissions-Feineinstellung gemäß der PWM-Aufzeichnung durchgeführt.
  • 9 ist ein allgemeines Flussdiagramm für die LD-Lichtemissions-Grobeinstellung im Schritt S3 in 8. Bei der LD-Lichtemissions-Grobeinstellung wird zunächst im Schritt S1 der ADC 152 zum Überwachen in 4 normiert. Im Schritt S2 werden die DACs 136, 140, 142 und 144 für den Lichtemissionsstrom und die DACs 146, 148 und 150 für den Subtraktionsstrom in 4 eingestellt.
  • 10 ist ein Flussdiagramm für den Normierungsprozess des Monitor-ADC im Schritt S1 in 9. Bei dem Normierungsprozess des Monitor-ADC wird im Schritt S1 eine spezielle Leseleistung als Instruktionswert y0 im Ziel-DAC-Register 120 in 4 eingestellt, und die Laserdiode 100 wird durch die Leseleistung angesteuert, um das Licht zu emittieren. In diesem Zustand wird ein Wert x0 im Monitor-ADC-Register 144 im Schritt S2 ausgelesen. Im Schritt S3 wird ein Instruktionswert y1 (= 2 mW) im Ziel-DAC-Register 120 eingestellt. Im Schritt S4 wird ein Wert x1 im Monitor-ADC-Register 134 ausgelesen. In einer Weise ähnlich der obigen wird ein Instruktionswert y2 (= 4 mW) im Ziel-DAC-Register 120 im Schritt S5 eingestellt. Im Schritt S6 wird ein Wert x2 im Monitor-ADC-Register 134 ausgelesen. Durch die Prozesse in den Schritten S1 bis S6 werden Messwerte des ADC 152 entsprechend den Leistungen an drei Punkten der Leseleistungen 2mW und 4mW erlangt. Im Schritt S7 werden daher die Steigung a0 und der Schnittpunkt b0 mit der y-Achse als Koeffizienten von den drei Bezugsgleichungen berechnet und in den Monitor-DAC-Koeffiziententabellen 182 in 7A und 7B registriert. Danach wird nach Abschluss der Normierung eine Messleistung y nachfolgend durch Substitution eines Messwerts x, der von dem Monitor-ADC-Register 243 erlangt wird, in einer Bezugsgleichung (y = a0·x b0) berechnet.
  • 11 zeigt eine Bezugsgleichung einer linearen Näherung bei der ADC-Normierung zum Überwachen in 10. Da nämlich die Messleistungen auf der Ordinatenachse y die Leseleistungen von 2 mW und 4 mW zeigen, werden drei Punkte Q0, Q1 und Q2 von den Registerwerten x0, 01 und x2 auf der Abszissenachse bestimmt, welche in Bezug auf diese Leistungen erlangt werden. Es ist ausreichend, die Koeffizienten a0 und b0 von der Bezugsgleichung der Geraden (y = a0·x + b0) zu erlangen, die diese drei Punkte verbindet. In diesem Fall können, obwohl drei Punkte Q0, Q1 und Q erhalten werden und eine Genauigkeit der Bezugsgleichung erhöht wird, auch zwei Punkte gemessen werden.
  • 12 ist ein Flussdiagramm für eine Lichtemissions-Grobeinstellung des DAC 140, um den Lichtemissionsstrom zum Löschen und das DAC 146 zum Instruieren des Subtraktionsstroms zum Löschen in 4 anzuweisen. Zunächst wird im Schritt S1, während der Monitor-ADC 134 gelesen wird, der Registerwert y für das EP-Strom-DAC-Register 122 angehoben, um die Messleistung x1 (= 2 mW) zu erhalten, um dadurch (x1, y1) zu erhalten. Im Schritt S2, während das Monitor-ADC-Register 134 gelesen wird, wird ein Registerwert z im EP-Subtraktions-DAC-Register 128 angehoben, so dass die Messleistung auf die Leseleistung eingestellt wird, um dadurch (x1, z1) zu bekommen. Im Schritt S3, während das Monitor-ADC-Register 134 gelesen wird, wird ein Registerwert y im EP-Strom-DAC-Register 122 erhöht, um so die Messleistung x2 (= 4 mW) zu erlangen, um dadurch (x2, y2) zu bekommen. Weiter wird im Schritt S4, während das Monitor-ADC-Register 134 gelesen wird, der Registerwert z im EP-Subtaktions-DAC-Register 128 erhöht, so dass die Messleistung auf die Leseleistung eingestellt wird, um dadurch (x2, z2) zu bekommen. Nach Beendigung der Messung der Leistung durch die oben erläuterte Lichtemission wird im Schritt S5 in Bezug auf die beiden Punkte (x1, y1) und (x2, y2), die in den Schritten S1 und S3 erlangt wurden, der Wert y im EP-Strom-DAC-Register durch die Leistung x in eine Bezugsgleichung (y = a1·x + b1) der linearen Näherung substituiert, um dadurch die Steigung a1 und den Schnittpunkt b1 mit der y-Achse von diesen beiden Substitutionsgleichungen zu berechnen. Insbesondere wird, wie in 13 gezeigt ist, eine Bezugsgleichung (y = a1·x + b1) einer Geraden, welche Q1 (x1, y1) und Q2 (x2, y2) verbindet, angenähert und die Steigung a1 und der Schnittpunkt b1 mit der y-Achse werden als Koeffizienten erlangt. Im Schritt S6 werden in Bezug auf die beiden Punkte (x1, z1) und (x2, z2), die in den Schritten S2 und S4 erlangt wurden, Q3 und Q4 gesetzt, wie in 14 gezeigt ist, eine Gerade, welche diesen beiden Punkten verbindet, wird angenähert, eine Bezugsgleichung (z = c1·x + d1) wird erlangt, und die beiden Werte Q3 und Q4 werden in diese Gleichung substituiert (eingesetzt), um dadurch die Steigung c 1 und einen Schnittpunkt d1 mit der y-Achse zu berechnen. Eine Steigung a und ein Schnittpunkt b mit der y-Achse der Bezugsgleichung der linearen Näherung des Registerinstruktionswerts für eine beliebige Leistung des DAC 140, um den Löschleistungs-Lichtemissionsstrom in 4 anzuweisen, der im Schritt S5 berechnet wurde, werden in der EP-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 184 in 7A und 7B registriert. Eine Steigung c und der Schnittpunkt b mit der y-Achse einer Bezugsgleichung der linearen Näherung, um den Registerwert y für das Subtraktionsstrom-DAC 146 für die beliebige Leistung zu erlangen, die im Schritt S6 berechnet wurde, werden in der EP-Subtraktions-DAC-Koeffiziententabelle 186 in 7A und 7B registriert.
  • 15 ist ein Flussdiagramm für eine Lichtemissions-Grobeinstellung des DAC 142 für die Lichtemission durch die erste Schreibleistung und des DAC 148 zum Instruieren des Subtraktionsstroms in 4. Die erste Schreibleistungs-Lichtemissions-Grobeinstellung ist grundsätzlich die gleiche wie die Lichtemissions-Grobeinstellung zum Löschen in 12, mit der Ausnahme eines anderen Punkts, so dass Instruktionsleistungen für das WP1-Strom-DAC-Register 124 auf zwei Punkte eingestellt werden, nämlich 4 mW und 8 mW. Durch Einstellen des Subtraktionsstroms, um die Leseleistungen für die Lichtemission von 4 mW und 8 mW in den Schritten S1 bis S4 zu erlangen, werden zwei Punkte (x1, y1) und (x2, y2) in Bezug auf den Schreibleistungs-Lichtemissionsstrom erlangt, und zwei Punkte (x1, z1) und x2, z2) werden in Bezug auf den Subtraktionsstrom erlangt. Im Schritt S5 werden die Stei gung a2 und der Schnittpunkt b2 mit der y-Achse der Bezugsgleichung der linearen Näherung des Registerwerts y für die willkürliche erste Schreibleistung x im Schritt S5 berechnet. Im Schritt S6 werden die Steigung c2 und ein Schnittpunkt d2 mit der y-Achse der Bezugsgleichung der linearen Näherung des Registerwerts z des Subtraktionsstroms für die willkürliche erste Schreibleistung x berechnet. Die oben berechneten Werte werden in der WP1-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 188 registriert bzw. in der WP1-Subtraktions-DAC-Koeffiziententabelle 190 in 7A und 7B.
  • 16 ist ein Flussdiagramm für einen zweiten Schreibleistungs-Grobeinstellungsprozess in Bezug auf das DAC 144 zum Instruieren des Stroms der Lichtemission durch die zweite Schreibleistung und das DAC 150 zum Instruieren des Subtraktionsstroms in 4. Bei dem zweiten Schreibleistungs-Grobeinstellungsprozess wird zunächst im Schritt S1 überprüft, um zu sehen, ob der geladene Träger ein PPM-Aufzeichnungsträger ist. Wenn dieser der PPM-Aufzeichnungsträger ist, wird der Einstellungsprozess der zweiten Schreibleistung übersprungen. Im Schritt S2 wird geprüft, um zu sehen, ob der PWM-Träger gelöscht ist. Wenn dies bejaht wird, wird, da die zweite Schreibleistung nicht benötigt wird, in diesem Fall ebenfalls der Prozess der Schreibleistungs-Grobeinstellung übersprungen. Es ist naheliegend, dass die zweite Schreibleistungs-Grobeinstellung immer durchgeführt werden kann, ohne den Löschbetrieb des PPM-Trägers oder des PWM-Trägers zu unterscheiden. Die Lichtemissionseinstellung in den Schritten S3 bis S6 ist im Wesentlichen die gleiche wie die Löschlicht-Emissionsgrobeinstellung in 12. In diesem Fall wird ebenso die Lichtemissionseinstellung an zwei Punkten durchgeführt, d. h., 4 mW und 8 mW, und der Subtraktionsstrom wird im Wesentlichen so eingestellt, um die Leseleistung zu erzielen. In den Schritten S7 und S8 werden eine Steigung a3 und der Schnittpunkt b3 mit der y-Achse der Bezugsgleichung der linearen Näherung in Bezug auf das DAC 144 zum Instruieren des Stroms durch die zweite Schreibleistungs-Lichtemission berechnet. Im Schritt S8 wird die Steigung c3 und ein Schnittpunkt d3 mit der y-Achse der Bezugsgleichung der linearen Näherung in Bezug auf das DAC 150, um den Subtraktionsstrom im Zeitpunkt der Lichtemission durch die zweite Schreibleistung zu instruieren, berechnet. Die oben berechneten Werte werden in der WP2-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 192 und der WP2-Subtraktions-Koeffiziententabelle 194 in 7A bzw. 7B registriert.
  • 17 zeigt den Registrierinhalt in den Koeffiziententabellen 182 bis 194 in der Leistungstabellen-Speichereinheit 180 in 7A und 7B, der durch die obige Lichtemissions-Grobeinstellung registriert wurde. Durch Bilden der Bezugsgleichung der linearen Näherung unter Verwendung der Werte der Steigung und des Schnittpunkts mit der y-Achse unter die sen kann die Umsetzung von einem willkürlichen Monitorspannungs-Messwert in die Messleistung und die Umsetzung von einer willkürlichen Leistung in den Strominstruktionswert zum ADC realisiert werden.
  • 18 ist ein allgemeines Flussdiagramm für eine Laserdioden-Lichtemissions-Feineinstellung durch die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit 164 in 7A und 7B. Bei dem Lichtemissions-Feineinstellungsprozess werden im Schritt S1 die Steigung und der Schnittpunkt mit der y-Achse von der Koeffiziententabelle durch die Lichtemissions-Grobeinstellung gelesen, die schon beendet wurde, und die Bezugsgleichungen in Bezug auf die ADC 152 zum Messen des Monitorstroms werden erhalten, der für die Lichtemissionseinstellung notwendig ist, die DACs 140 bis 144 zum Instruieren des Stroms, um den Strom zu steuern, um jede Leistung zu erlangen, und die DACs 146 bis 150, um den Subtraktionsstrom zu instruieren. Im Schritt S2 wird eine Leistungstabelle für die Zonen des Trägers gebildet. Im Schritt S3 wird eine Leistungsverhältnistabelle für die Zonen und die Temperatur gebildet. Im Endschritt S4 wird eine Leistungsgrenze berechnet.
  • 19 ist ein Flussdiagramm für eine Löschleistungs-Feineinstellung, welche beim Bildungsprozess der Leistungstabelle für die Zonen im Schritt S2 in 18 ausgeübt wird. Bei der Löschleistungs-Feineinstellung werden zunächst im Schritt S1 eine Bezugsgleichung (y = a1·x + c1) in Bezug auf die Strom-Instruktions-DAC 140, welche durch die Lichtemissions-Grobeinstellung der Löschleistung erlangt wird, und eine Bezugsgleichung (z = c1·x + d1) des entsprechenden Subtraktionsstroms-Instruktions-DAC 146 eingestellt. Im Schritt S2 wird durch Substitution von x1 (= 3 mW) in die Bezugsgleichung der entsprechende Strom-DAC-Registerwert y1 berechnet, und die Laserdiode 100 wird angesteuert, um das Licht zu emittieren. In diesem Zustand wird der Subtraktions-DAC-Registerwert x1 von (x1 = 3 mW) ebenfalls berechnet, und der Subtraktionsstrom wird geliefert, um dadurch einen Zustand zu bilden, bei dem er von dem Monitorstrom subtrahiert wird. In einem solchen Zustand der Lichtemission und des Subtraktionsstroms durch die Leistung von 3 mW läuft die Verarbeitungsroutine weiter zum Schritt S3. Während des Lesens unter Verwendung des Registerwerts des Monitor-ADC 152 als Messwert y wird der Registerwert x1 für das EP-Strom-DAC-Register 122 geändert, um die Leseleistung zu erlangen, wodurch die Lichtemissionsleistung durch das DAC 140 eingestellt wird. Somit kann der Einstellwert (x1, y1) erlangt werden. Im Schritt S4 wird die Lichtemissionsleistung auf 5 mW gesteigert, der entsprechende Subtraktionsstrom wird in gleicher Weise eingestellt und vom Monitorstrom subtrahiert, und der Registerwert x2 für das Register 122 des EP-Strom-DAC 140 wird so geändert, dass der Monitor-ADC-Wert y auf die Leseleistung eingestellt wird, um dadurch den Lichtemissions- strom im Schritt S5 einzustellen. Somit wird der zweite Punkt (x2, y2) hergeleitet. Im Endschritt S6 werden durch Substitution der beiden Punkte, die durch die Einstellung erlangt werden, in die Bezugsgleichung des DAC 140 für den EP-Strom der Koeffizient a1 und der Schnittpunkt b1 mit der y-Achse der Bezugsgleichung berechnet, und diese werden als Löschleistungs-Feineinstellungsergebnis in der EP-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 148 in 7A und 7B registriert und korrigiert.
  • 20 ist ein Flussdiagramm für den Feineinstellungsprozess der ersten Schreibleistung, der im Bildungsprozess der Leistungstabelle ausgeführt wird, für die Zonen im Schritt S2 in 18. Bei dem ersten Schreibleistungs-Feineinstellungsprozess werden, da zwei Ströme des Lichtemissionsstroms der Löschleistung und des Lichtemissionsstroms der ersten Schreibleistung verwendet werden, im Schritt S1 die Bezugsgleichung des Strom-DAC-Werts, der durch die Grobeinstellung in Bezug auf die Löschleistung erlangt wurde, und die Bezugsgleichung der Subtraktions-DAC eingestellt, und die Bezugsgleichung des Strom-DAC-Werts in Bezug auf die zweite Schreibleistung, die in gleicher Weise bei der Grobeinstellung erlangt wurde, und die Bezugsgleichung des entsprechenden Subtraktions-DAC-Werts werden eingestellt. Im Schritt S2 wird für die Lichtemission der ersten Schreibleistung von 5 mW die erste Schreibleistung auf WP1 = 3 mW eingestellt, die Löschleistung wird auf EP = 2 mW eingestellt, und der Strom-DAC-Wert und der Subtraktions-DAC-Wert werden von den Bezugsgleichungen berechnet, welche im Schritt S1 eingestellt wurden, um dadurch die Lichtemissionssteuerung auszuführen. In diesem Zustand wird im Schritt S3 der Monitor-ADC-Wert als Messwert y gelesen, und der Strom-ADC-Registerwert x1 der ersten Schreibleistung PW1 wird so geändert, um die Leseleistung zu erlangen, um dadurch die Lichtemissionsleistung durch das DAC 142 einzustellen. In diesem Zeitpunkt wird (x1, y1) erhalten. Im Schritt S4 wird die Schreibleistung auf 9 mW eingestellt. Die erste Schreibleistung von 9 mW wird durch die erste Schreibleistung WP (= 7 mW) und die Löschleistung EP (=2 mW) realisiert. Daher werden in Bezug auf 7 mW und 2 mW der Strom-DAC-Wert und der Subtraktions-DAC-Wert in Bezug auf die erste Schreibleistung und die Löschleistung von den Bezugsgleichungen im Schritt S1 berechnet, um dadurch die Lichtemissionssteuerung durchzuführen. Im Zustand der Lichtemissionsteuerung wird, während der Monitor-ADC-Wert y wie im Schritt S5 gezeigt ist gelesen wird, der WP1-Strom-DAC-Wert x2 so geändert, um die Leseleistung zu erlangen, wodurch die Lichtemissionsleistung eingestellt wird. In diesem Zeitpunkt wird (x2, y2) erlangt. Im Endschritt S6 werden der Koeffizient a2 und der Schnittpunkt b2 mit der y-Achse in der Bezugsgleichung des DAC 142 zum Instruieren des Storms der ersten Schreibleistung WP 1 im Zeitpunkt der Lichtemission durch die zweite Schreib leistung von der Substitutionsgleichung der Bezugsgleichungen an zwei Punkten der Einstellungsdaten berechnet und in der WP1-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 188 in 7A und 7B registriert und korrigiert.
  • 21 ist ein Flussdiagramm für den Feineinstellungsprozess der zweiten Schreibleistung, der im Bildungsprozess der Leistungstabelle für die Zonen im Schritt S2 in 18 ausgeführt wird. Zunächst werden im Schritt S1 die Bezugsgleichungen, welche durch die Grobeinstellung in Bezug auf die zweite Schreibleistung erhalten werden, eingestellt, die Lichtemission wird an zwei Punkten, d. h. 5 mW und 9 mW auf der Basis der Bezugsgleichungen durchgeführt, der Koeffizient a3 und der Schnittpunkt b3 mit der y-Achse der Bezugsgleichungen werden aus dem Messergebnis berechnet, und die WP2-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 192 in 7A und 7B wird korrigiert. Die anderen Punkte sind grundsätzlich gleich denen des ersten Schreibleistungs-Lichtemissions-Einstellungsprozesses in 20.
  • 22 ist ein Flussdiagramm für einen Zonenunterteilungs-Leistungstabelle-Bildungsprozess, um die Löschleistungstabelle 196, die erste Schreibleistungstabelle 198 und die zweite Schreibleistungstabelle 200, die in der Leistungstabellen-Speichereinheit 180 in 7A und 7B vorgesehen sind, von den Bezugsgleichungen der linearen Näherung für die Zonennummer zu erlangen. Zunächst werden im Schritt S1, wie in 23 beispielsweise gezeigt ist, in Bezug auf 18 Zonen der Zonennummern 0 bis 17 des Trägers von 540 MB diese in drei Bereiche unterteilt, d. h., den Innenrandbereich, den Zwischenbereich und den Außenrandbereich. Im Schritt S2 wird der Wert der Löschleistung in den Löschmoden der Zonen an beiden Enden eines jeden Bereichs, nämlich die Leistungen P11 bis P16 in 23 eingestellt. Die Werte P21 bis P26 der ersten Schreibleistung WP1 im Löschmodus werden eingestellt. Im Schritt S3 werden für die Zonennummern des Innenrandbereichs, des Zwischenbereichs und des äußeren Randbereichs die Löschleistung und die erste Schreibleistung WP1, welche im Schritt S2 eingestellt wurden, linear genähert, und die Steigung und der Schnittpunkt mit der y-Achse werden aus den Bezugsgleichungen hergeleitet. Insbesondere werden sie beispielsweise in Bezug auf die Löschleistung durch Geraden 210, 212 und 214 in Bezug auf den Innenrandbereich, den Zwischenbereich und den Außenrandbereich angenähert, wodurch die Steigungen und die Schnittpunkte mit der y-Achse aus den Bezugsgleichungen der Geraden 210, 212 und 214 entsprechend hergeleitet werden. In diesem Fall werden als Schnittpunkte mit der y-Achse die Leistungswerte P11, P13 und P15 bei den Zonennummern 0, 7 und 12 des Innenrandbereichs jedes Bereichs verwendet. Ähnlich werden wie für die erste Schreibleistung sie linear durch Gerade 216, 218 und 220 in Bezug auf die erste Schreibleistung angenähert, wodurch die Steigungen und die Schnittpunkte mit der y-Achse von den Bezugs gleichungen hergeleitet werden. Im Schritt S3 werden in Bezug auf den Schreibmodus die Löschleistung, die erste Schreibleistung WP 1 und die zweite Schreibleistung WP2 der Zonen an beiden Enden des Innenrandbereichs, des Zwischenbereichs und des Außenrandbereichs in 23 eingestellt. In diesem Fall wird zusätzlich zur Löschleistung und der ersten Schreibleistung im Löschmodus die zweite Schreibleistung WP2 neu eingestellt, so dass die zweiten Schreibleistungen P31 bis P36 in den Zonen von beiden Enden des Innenrandbereichs, des Zwischenbereichs und des äußeren Randbereich in 23 eingestellt werden. Im Schritt S4 wird in Bezug auf die Löschleistung EP, die erste Schreibleistung WP1 und die zweite Schreibleistung WP2 die lineare Näherung ähnlich Geraden 210 bis 226 in 23 durchgeführt, wodurch die Steigungen und die Schnittpunkte mit der y-Achse von den Bezugsgleichungen hergeleitet werden. Nach Beendigung der obigen Prozesse wird wie für den Innenrandbereich, den Zwischenrandbereich und den Außenrandbereich in Bezug auf den Löschmodus und den Schreibmodus die Tabellenregistrierung der Steigungen und der Schnittpunkte mit der y-Achse der Bezugsgleichungen der Löschleistung EP, der ersten Schreibleistung WP 1 und der zweiten Schreibleistung WP2 (mit Ausnahme der Löschmodus) zur Löschleistungstabelle 196, zur ersten Schreibleistungstabelle 198 und zur zweiten Schreibleistungstabelle 200 in 7A und 7B durchgeführt. Wenn man nun annimmt, dass jede Leistung in Bezug auf alle 18 Zonen erhalten wurde, da (18 Zonen)×(3 Leistungen) = 54 Leistungen in den beiden Moden des Löschmodus und des Schreibmodus benötigt werden, wird es notwendig, 108 Leistungen in der Tabelle zu speichern. Dagegen ist es bei der Registrierung der Koeffizienten der Bezugsgleichungen der linearen Näherung durch die Bereichsunterteilung der Zonen nach der Erfindung, da es ausreichend ist, sechs Koeffizienten pro Bereich zu registrieren, ausreichend, lediglich (3 Bereiche)×(6 Koeffizienten)×(2 Moden) = 36 Leistungen zu speichern. Die Datenmenge bei der Tabellenregistrierung kann bemerkenswert reduziert werden. 24 zeigt den Registrierinhalt von den Koeffizienten der Bezugsgleichungen durch die lineare Näherung zur Löschleistungstabelle 196, zur ersten Schreibleistungstabelle 198 und zur zweiten Schreibleistungstabelle 200 in 7A und 7B, der wie oben erläutert erlangt wird.
  • 25 ist ein Flussdiagramm für einen Schreibleistungsverhältnis-Temperaturkorrekturprozess beim Lichtemissions-Feineinstellungsprozess. Der Schreibleistungsverhältnis-Temperaturkorrekturprozess wird auf einen Fall angewandt, wo die Leistungsverhältnistabelle 202, um ein Leistungsverhältnis mit der ersten Schreibleistung zu registrieren, anstelle der zweiten Schreibleistungstabelle 200 in 7 verwendet wird. Die Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 204 wird vorher entsprechend der Leistungsverhältnistabelle 202 vorbereitet. Zunächst werden beispielsweise im Schritt S1 im Fall des Trägers mit 540 MB vier Punkte von Leistungsverhältnissen (WP2/WP1) bei zwei unterschiedlichen Temperaturen T1 und T2, beispielsweise 10°C und 55°C, der innersten Randzone, und von Leistungsverhältnissen (WP2/WP1) bei den unterschiedlichen Temperaturen T1 und T2, welche die gleiche wie diejenigen Temperaturen, nämlich 10°C und 55°C sind, in der äußersten Randzone eingestellt.
  • 26 ist ein Diagramm, bei dem die Temperatur T (Abszissenachse) und die Leistungsverhältnisse (WP2/WP 1) (Ordinatenachse y) an zwei Punkten Q 1 und Q2 in der innersten Randzone und an zwei Punkten Q3 und Q4 in der äußersten Randzone im Schritt S1 in 25 dargestellt sind. Im Schritt S2 sind die Werte Q1 und Q2 in eine Bezugsgleichung (y = a1·T + b1) durch jedes Leistungsverhältnis bei den Temperaturen T1 und T2 der innersten Randzone substituiert, nämlich durch die lineare Näherung der Geraden, welche die beiden Punkte Q1 und Q2 in 26 verbindet, wodurch die Steigung a1 und der Schnittpunkt b1 mit der y-Achse berechnet wird. Ähnlich werden im Schritt S3 die Werte Q und Q4 in der äußersten Randzone in eine Bezugsgleichung (y = a17·T + b17) der Geraden substituiert, in der beide linear genähert sind, wodurch eine Steigung a17 und ein Schnittpunkt b17 mit der y-Achse berechnet wird. Im Schritt S4 werden die Steigung a1 der innersten Randzone und die Steigung a17 der äußersten Randzone in die beiden Bezugsgleichungen in 26 in einer Bezugsgleichung (a = α·N + β) der linearen Näherung für die Zonennummer N substituiert, wodurch eine Steigung α und ein Schnittpunkt β mit der y-Achse berechnet wird. Ähnlich werden im Schritt S5 der Schnittpunkt b1 mit der y-Achse der innersten Randzone und der Schnittpunkt b17 der äußersten Randzone in eine Bezugsgleichung (b = γ·N + δ) der linearen Näherung für die Zonennummer N substituiert, wodurch eine Steigung γ und ein Schnittpunkt δ mit der Y-Achse berechnet werden. In einem Endschritt S6 werden die Koeffizienten (α, β) und (γ, δ) unter Verwendung der Zonennummer N als Index in der Tabelle registriert, wie in 27 gezeigt ist. Der Inhalt in der Tabelle in 27 bildet die Leistungsverhältnistabelle 200 und die Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 204, welche in 7A und 7B gezeigt sind. Aus der Leistungstabelle von 27 kann, wenn die Zonennummer N und die Temperatur T in der Vorrichtung in diesem Zeitpunkt gegeben sind, das Leistungsverhältnis der bestimmten Zonennummer N erhalten werden. Beispielsweise, wenn man nun annimmt, dass die Zonennummer N = 2 bestimmt wird, werden Koeffizienten als α02 und β02 von der Tabelle erhalten und in die Steigungsberechnungsgleichung (a = α·N + β) substituiert, um dadurch eine Steigung a der Leistungsverhältnis-Berechnungsgleichung zu erhalten. Im gleichen Zeitpunkt werden die Koeffizienten γ02 und δ02 von der Zonennummer N = 2 gelesen und in die Schnittpunkt-Berechnungsgleichung (b = γ·N + δ) substituiert, wodurch der Schnittpunkt b2 mit der y-Achse der Leistungsverhältnis-Berechnungsgleichung berechnet wird. Die Steigung a und der Schnittpunkt b mit der y-Achse, die berechnet wurden, werden in die Leistungsverhältnis-Berechnungsgleichung eingesetzt. Durch Substitution der Temperatur T in der Vorrichtung in diesem Zeitpunkt kann das Leistungsverhältnis (WP2/WP1) berechnet werden. Die Berechnung des Leistungsverhältnisses auf der Basis der Temperatur in der Vorrichtung und der Zonennummer N kann jedes Mal ausgeführt werden, oder der Berechnungswert auf der Basis der Temperatur T in der Vorrichtung in diesem Zeitpunkt kann auch vorher in der Leistungsverhältnistabelle 202 entsprechend der Zonennummer N registriert werden. In einer Weise ähnlich dem Fall, wo die Zonen in 23 in einen inneren Randbereich, einen Zwischenbereich und den äußeren Randbereich unterteilt sind und die Steigungen durch die lineare Näherung in der Tabelle registriert sind, ist es außerdem auch möglich, diese in einer Weise aufzubauen, dass die Leistungsverhältnisse der Zonen an beiden Enden des Innenrandes, des Zwischenbereichs und des äußeren Randes bei der Vorrichtungstemperatur in diesem Zeitpunkt aus dem Inhalt in der Tabelle in 27 erhalten werden und in Bezug auf diese ähnlich dem Fall von 23 die Steigung und der Schnittpunkt mit der y-Achse bei jeder Geraden in der linearen Näherung der drei Bereiche, d. h., des Innenrands, des Zwischenbereichs und des äußeren Rands, in Bezug auf die Leistungsverhältnisse erhalten werden und in der Leistungsverhältnistabelle 202 registriert werden.
  • 28 ist ein Flussdiagramm für einen Berechnungsprozess einer Leistungsgrenze, der bei dem Lichtemissions-Einstellungsprozess ausgeführt wird. Im Berechnungsprozess der Leistungsgrenze werden zunächst im Schritt S1 die Zonen in drei Zonen unterteilt, d. h. Innenrandbereich, Zwischenbereich und den Außenrandbereich, wie in 29 gezeigt ist, und die Temperatur wird in Temperaturbereiche von jeweils 8°C unterteilt. Beispielsweise wird die Temperatur in 8 Temperaturbereiche von 0–7°C, 8–15°C, ... und 64–71°C unterteilt. Im Schritt S2 wird eine Leistungsobergrenze Pmax und eine Leistungsuntergrenze Pmin für jeden Temperaturbereich eingestellt. In Bezug auf einen Temperaturbereich von 29 werden die obere Leistungsgrenze Pmax und die untere Leistungsgrenze Pmin eingestellt. Im Schritt S3 werden in Bezug auf jeden Temperaturbereich die maximale Leistung Pmax und die minimale Leistung Pmin in jedem der drei Bereiche, d. h., dem Innenrandbereich, dem Zwischenbereich und dem äußeren Randbereich eingestellt. 29 bezieht sich auf ein Beispiel der Berechnung der Leistungsgrenzen des PWM-Aufzeichnens. In diesem Fall wird die Leistung (RP + EP + WP2), die durch Addition der Leseleistung RP, der Löschleistung EP und der zweiten Schreibleistung WP2 erhalten wird, verwendet, wenn die maximale Leistung und minimale Leistung jedes Bereichs eingestellt wird. In Bezug auf die Leistung (RP + EP + WP2) werden nämlich die Leistungen P32, P34 und P36 der äußeren Randzonen 6, 11 und 17 von jedem Bereich, d. h., dem inneren Randbereich, dem Zwischenbereich und dem äußeren Randbereich auf die Maximalleistungen eingestellt, und die Leistungen P31, P33 und P35 der inneren Randzonen 0, 7 und 12 werden auf die minimalen Leistungen Pmin eingestellt. Im Fall des PPM-Aufzeichnungsträgers werden die maximale Leistung und die minimale Leistung eines jeden Bereichs durch die Leistung (RP + EP + WP1) eingestellt, welche durch Addieren der Leseleistung RP, der Löschleistung EP und der ersten Schreibleistung WP 1 erhalten wird. Im Schritt S4 wird in Bezug auf jeden Temperaturbereich die Vergrößerung Kmax für die obere Leistungsgrenze, bei der die maximalen Leistungen Pmax der drei Bereiche, d. h., des Innenrandbereichs, des Zwischenbereichs und des äußeren Randbereichs auf die Grundeinstellungswerte eingestellt sind, berechnet. Ähnlich wird die Vergrößerung Kmin für die untere Leistungsgrenze unter Verwendung der minimalen Leistungen Pmin als Grundeinstellungswerte berechnet. Im Endschritt S5 wird die Grenzleistungstabelle 206 in 7A und 7B, bei der der Temperaturbereich und der Zonenbereich von jeweils 8°C als Indizes verwendet werden und die Grundeinstellungs-Vergrößerungen der oberen und unteren Leistungsgrenze registriert wurden, gebildet. Gemäß einer derartigen Grenzleistungstabelle werden aus der Temperatur T°C in der Vorrichtung und der Zonennummer die Grundeinstellungs-Vergrößerung Kmax der entsprechenden oberen Leistungsgrenze und die Grundeinstellungs-Vergrößerung Kmin der entsprechenden unteren Leistungsgrenze in Bezug auf die Grenzleistungstabelle 206 erhalten. Bei dem PWM-Träger beispielsweise, bei dem die maximale Leistung des Bereichs gegeben ist, kann durch Multiplizieren der Leistung (EP + WP2) mit den Vergrößerungen Kmax und Kmin die obere Leistungsgrenze und die untere Leistungsgrenze erhalten werden. Die obigen Operationen sind im Wesentlichen die gleichen wie die, die beim Einstellen durch die lineare Näherung der oberen Leistungsgrenzen 234, 236 und 238 und die beim Einstellen durch die lineare Näherung der unteren Leistungsgrenzen 228, 230 und 233 für jeden Bereich in 29 ausgeführt werden. Diese oberen und unteren Leistungsgrenzen, die wie oben erläutert festgelegt wurden, werden mit einer Grundeinstellungsvergrößerung verglichen, um die optimale Schreibleistung zu erlangen, die gegeben ist, wenn der Schreibbetrieb nach Beendigung der Lichtemissionseinstellung durchgeführt wird. Wenn die Grundeinstellungs-Vergrößerung, um die optimale Schreibleistung zu erlangen, außerhalb der oberen Leistungsgrenze oder der unteren Leistungsgrenze ist, die wie in 29 eingestellt ist, wird die Grundeinstellungs-Vergrößerung, welche die optimale Leistung angibt, auf die obere Leistungsgrenze oder die untere Leistungsgrenze begrenzt und verwendet. 30 zeigt den Registrierinhalt der Grenzleistungstabelle, welche durch den Berechnungsprozess der Leistungsgrenzen in 28 gebildet wird.
  • Ein Flussdiagramm von 31 zeigt eine weitere Ausführungsform des ersten Schreibleistungs-Lichtemissions-Grobeinstellungsprozesses der Erfindung. Diese Ausführungsform ist dadurch gekennzeichnet, dass eine Verschiebung, welche bei der automatischen Lichtemissionssteuerung der Schreibleistung der PWM-Aufzeichnung in der APC 138 in 4 auftritt, im Zeitpunkt der Lichtemissions-Grobeinstellung eingestellt wird und kompensiert werden kann.
  • 32A bis 32C zeigen Leistungsverschiebungen, die durch Lichtemission durch die Schreibleistung beim PWM-Aufzeichnen auftreten. In Bezug auf die Lichtemission durch die Schreibleistung bei der PWM-Aufzeichnung wird, wie in 32A gezeigt ist, eine Kombination der Lichtemissionen von drei Stufen durch die Löschleistung EP, die erste Schreibleistung WP1 und die zweite Schreibleistung WP2, und, wenn die Lichtemissions-Impulsfolge der ersten Zeit beendet ist, die Lichtemissionsleistung auf 0 gesetzt und der Betrieb auf die Lichtemission durch den nächsten Impuls verschoben. Entsprechend der Lichtemissionsleistung in 32A wird ein Subtraktionsstrom, der in 32B gezeigt ist, gebildet. Durch Subtraktion des Subtraktionsstroms vom photosensitiven Strom i0 der Monitor-Photodiode 102 wird der Monitorstrom im entsprechend der Leseleistung P1 gebildet. Der Monitorstrom im wird zurück zur APC 138 in 4 geführt, und die automatische Leistungssteuerung, um die Zielleseleistung beizubehalten, wird durchgeführt. Da jedoch die letzte Lichtemissionsleistung der Lichtemissions-Impulsfolge der PWM-Aufzeichnung in 32A auf eine Nullleistung 240 abgesenkt wurde, wird die Lichtemissionsleistung auf einen Wert reduziert, der niedriger ist als die Zielleseleistung in der APC 138. Im Bereich der Nullleistung 240 fehlt es an aktueller Lichtemissionsleistung im Vergleich zur Zielleseleistung der APC 138. Um daher die unzureichende Leistung zu ergänzen, führt die APC 138 eine Korrektur durch eine Rückführung durch, um die Leistung zu vergrößern, wie durch die gestrichelten Linien gezeigt ist. Somit wird die nachfolgende Lichtemissions-Impulsfolge verschoben, wie durch unterbrochene Linien gezeigt ist. Da nämlich der Monitorstrom im in 32C in einer Richtung schwankt, dass die Leistung immer fehlt, tritt eine Verschiebung, so dass die Lichtemissions-Impulsfolge in dieser Richtung verschoben wird, um die Schreibleistung insgesamt zu steigern, auf.
  • Somit wird daher bei der Erfindung, um die gleiche Lichtemissionsleistung in 33A wie die bei 3A zu erreichen, wie in 33B gezeigt ist, der Subtraktionsstrom i2 entsprechend der ersten Schreibleistung WP1, bei der eine Leistung sicher pro Impuls bei PWM-Aufzeichnung erzeugt wird, vermindert, um so die Leistungsfehlmenge zu kompensieren, bei der der Monitorstrom in 33C gleich oder kleiner ist als die Zielleseleistung. 33D zeigt einen Bereich 246, der einem Zeitpunkt eines Monitorstroms ia der ersten Schreibleistung WP1 entspricht, bei dem eine Zielleseleistung RP im Monitorstrom in 33C auf eine Referenz und ein Bereich 248 einer Zeitbreite des Monitorstroms ib gesetzt wird, der der unzureichenden Leistung entspricht, die verursacht wird, da die Lichtemissionsleistung auf 0 am Ende des Impulszugs gesetzt wird. Ein Impulsintervall Ta der ersten Schreibleistung WP 1 und ein Intervall Tb, während dem eine unzureichende Leistung verursacht wird, halten eine feste Beziehung Ta : Tb = 3 : 2aufrecht, wegen Ta = 1,5 Takte und Tb = 1 Takt, wenn die Zeitgabe des Schreibtaktes in 5C in Bezug auf eine Lichtemissionsleistung in 5H in Betracht gezogen werden. Die erste Schreibleistung WP 1 hat eine Relation, so dass eine Leistung sicher bei allen Impulsbreitendaten in 5D wie ein erster Schreibimpuls von 5F erzeugt werden. Wenn daher ein Zeitprodukt des Leistungsanstiegsbereichs 246 und ein Zeitprodukt eines unzureichenden Leistungsbereichs 248, wenn die Leseleistung RP in 33D als Referenz angesehen wird, geglättet wird, können Verschiebungen der Schreibleistungen aufgrund der unzureichenden Leistungen, wie in 32A bis 32C gezeigt ist, vermieden werden. Es ist nämlich ausreichend, folgendes festzulegen: (Ta × ia) = (Tb × ib)
  • Da Ta fest auf 3 festgelegt ist und Tb fest auf 2 festgelegt ist, beträgt der Monitorstrom ia des Leistungsvergrößerungsbereichs 246, der das gleiche Zeitprodukt wie das des unzureichenden Bereichs 248 hat: ia = ib × 2/3
  • Um diesen Monitorstrom ia zu erhalten, ist es ausreichend, den ersten Schreibleistungs-Subtraktionsstrom i2 im Subtraktionsstrom von 33B auf (i1–ia) festzulegen, der lediglich um i kleiner ist als i2. Um nämlich (i2 – ia) = i2 – {ib × (2/3)}mit der Zeitgabe der ersten Schreibleistung WP1 zu erhalten, wird der Wert entsprechend dazu im WP1-Subtraktions-DAC-Register 130 in 4 festgelegt, und es ist ausreichend, den Subtraktionsstrom i2 der Subtraktionsstromquelle 114 für die erste Schreibleistung auf (i2–ia) festzulegen, der lediglich um ia reduziert ist. Bei der ersten Schreibleistungs-LichtemissionsGrobeinstellung in 31 wird, um eine Relation beizubehalten, wie in 33D gezeigt ist, der Monitorstrom so eingestellt, um gleich einem Wert (ia) der Leistung zu sein, um durch einen Anstieg des WP1-Subtraktions-DAC-Registerwerts Z im Schritt S2 nach Beendigung der Lichtemission um 4 mW im Schritt S1 versetzt zu werden, um dadurch (x1, z1) zu erzielen. Ähnlich wird in Bezug auf die Einstellung des WP1-Subtraktions-DCA-Registerwerts z im Schritt S4 in einem Zustand, bei dem die Lichtemission mit 8 mW im Schritt S3 durchgeführt wurde, der Monitorstrom so eingestellt, dass er gleich dem Monitorstrom ia ist, was die gleiche Leistung zum Versatz ergibt, um dadurch (x2, z2) zu erhalten. Auf der Basis von (x1, z1) und (x2, z2), bei dem der Subtraktionsstrom so eingestellt wurde, um gleich ia entsprechend der Leistung zu sein, die im Schritt S5 versetzt wurde, werden die Steigung c2 und der Schnittpunkt d2 mit der y-Achse von der Bezugsgleichung der linearen Näherung des WP1-Subtraktionsstroms-DAC-Registers Z im Schritt S6 berechnet und in der Tabelle registriert. Durch das Einstellen des WP1-Strom-DAC-Registerwertes y unter Verwendung der Steigung c2 und des Schnittpunkts d2 mit der y-Achse wird die Kompensation der unzureichenden Leistung aufgrund einer Abnahme des Subtraktionsstroms im Zeitpunkt der ersten Schreibleistung WP1 im Subtraktionsstrom in 33B ausgeführt. Somit steigt, wie in 33C gezeigt ist, mit der Zeitgabe der ersten Schreibleistung WP1 der Monitorstrom ia über die Zielleseleistung RP an, und die APC 138 führt den Strom zurück, um die angestiegene Leistung zu unterdrücken, wie durch eine unterbrochene Linie gezeigt ist. Wenn die Lichtemissions-Impulsfolge beendet ist und die Leistung auf 0 eingestellt ist, führt daher die APC 138 eine Rückführungssteuerung in einer Richtung durch, um die Leistung zu unterdrücken. Bei der Leistung null wird, sogar, wenn der Monitorstrom, der deutlich kleiner ist als die Zielleseleistung RP, zurückgeführt wird und die Leistung angehoben wird, da die Leistung schon in der vorherigen Stufe unterdrückt wurde, sogar, wenn die Leistung aufgrund eines Mangels an Rückführungshöhe angehoben wurde, die unzureichende Menge in der vorhergehenden Stufe versetzt. Eine Schwankung der Schreibleistung in der nächsten Lichtemissions-Impulsfolge kann absorbiert werden. Wenn daher sogar die Leistung auf null im Zeitpunkt des Endes der Impulsfolge der PWM-Aufzeichnung eingestellt ist, tritt die Verschiebung in einer Richtung, um die Leistung durch die APC 138 zu steigern, nicht auf, und es kann ein stabiler Schreibbetrieb realisiert werden.
  • Gemäß 33A bis 33D wird, obwohl der Fall des Einstellens der Leistung auf null am Ende der Leistungsimpulsfolge des PWM gezeigt wurde und als Beispiel beschrieben wurde, die Leistung nicht immer auf null eingestellt, sondern die Erfindung kann ebenso gut ähnlich bei einem Fall angewandt werden, die Leistung auf eine Zielleseleistung RP oder weniger zu reduzieren.
  • 34 ist ein Flussdiagramm für einen Einstellungsprozess der Schreibleistung, der durch die Leistungseinstellungs-Verarbeitungseinheit 166 nach Abschluss aller Lichtemissionseinstellungen durch die Lichtemissions-Grobeinstellungs-Verarbeitungseinheit 162 und die Lichtemissions-Feineinstellungs-Verarbeitungseinheit 164 in 7 durchgeführt wird. Bei dem Leistungseinstellungsprozess wird zunächst im Schritt S1, ob der Betriebsmodus der Schreibmodus oder der Löschmodus ist, durch Decodieren eines Befehls von einer übergeordneten Vorrichtung erkannt, und außerdem wird die Zonennummer von der Spuradresse hergeleitet. Im Schritt S2 wird die Grundeinstellungs-Vergrößerung der optimalen Leistung, die in diesem Fall gegeben wird, von der Grenzleistungstabelle 206 unter Verwendung der Temperatur in der Vorrichtung in dem Zeitpunkt gelesen, die durch Lesen des Registers 174 und der Zonennummer, welche im Schritt S1 erhalten wird, als Indizes erhalten wird. Wenn die Grundeinstellungs-Vergrößerung der optimalen Leistung außerhalb der Leistungsgrenze liegt, wird die Leistungsgrenze auf den Grenzwert korrigiert. Im Schritt S3 wird überprüft, um zu sehen, ob der geladene Träger ein PWM-Aufzeichnungsträger ist. Im Falle des PPM-Aufzeichnungsträgers wird im Schritt S4 jede Leistung der entsprechenden Löschleistung EP und der ersten Schreibleistung WP1 von dem bestimmten Lösch- oder Schreibmodus und der Zonennummer in Bezug auf die Löschleistungstabelle 196 und der ersten Schreibleistungstabelle 198 berechnet. Im Falle des PWM-Trägers läuft die Verarbeitungsroutine weiter zum Schritt S5. In ähnlicher Weise wie bei dem PPM-Träger wird die Löschleistung EP und die erste Schreibleistung WP1 vom bestimmten Lösch- oder Schreibmodus und der Zonennummer berechnet. In Bezug auf die zweite Schreibleistung WP2 wird das Leistungsverhältnis (WP2/WP1) von der Temperatur T in der Vorrichtung und der Zonennummer in diesem Zeitpunkt unter Bezugnahme auf die Leistungsverhältnistabelle 202 erhalten. Durch Multiplizieren der ersten Schreibleistung WP1, welche schon in Bezug auf das erhaltene Leistungsverhältnis berechnet wurde, wird die zweite Schreibleistung WP2 berechnet. Wenn die obigen Leistungen berechnet werden können, wird im Schritt S6 die Grundeinstellungs-Vergrößerung der optimalen Schreibleistung, die in diesem Zeitpunkt angegeben wird, mit der berechneten Löschleistung EP, der ersten Schreibleistung WP1 und der zweiten Schreibleistung WP2 multipliziert, wodurch die einzustellende Leistung berechnet wird. Im Schritt S7 werden die Instruktionswerte des DAC, um den Lichtemissionsstrom und den optimalen Strom zu instruieren, von den berechneten Leistungen berechnet. Bei der Berechnung der DAC-Instruktionswerte werden die Steigungen und die Schnittpunkte mit der y-Achse der Bezugsgleichungen der linearen Näherung von den Koeffiziententabellen 184 bis 194 in 7A und 7B gelesen, und es werden die Bezugsgleichungen gebildet. Durch Substituieren der im Schritt S6 berechneten Leistungen in die Bezugsgleichungen werden der Strom-DAC-Registerwert und der Subtraktions-DAC-Registerwert berechnet. Im Endschritt S8 werden die berechneten Registerwerte in das entsprechende Register in der Laserdioden-Steuerschaltung gesetzt, die in 4 gezeigt ist, und es wird eine Folge von Leistungseinstellungsprozessen abgeschlossen.
  • Optimale Schreibleistungseinstellung
  • 35 ist ein Funktionsblockdiagramm einer Schreibleistungs-Einstellfunktion, um die Schreibleistung durch die Laserdiode auf den optimalen Wert einzustellen, was durch die MPU 14 der optischen Plattenansteuerung in 2A realisiert wird. Eine Schreibleistungs-Einstelleinheit 300 wird durch die MPU 14 gebildet. Eine Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit 302, eine Testschreib-Ausführungseinheit 304 und eine Leistungstabellen-Bildungseinheit 306 sind für die Schreibleistungs-Einstelleinheit 300 vorgesehen. Die Temperatur in der Vorrichtung wird der Schreibleistungs-Einstelleinheit 300 durch ein Register 308 zugeführt. Eine Leistungstabellen-Speichereinheit 310 ist für die Schreibleistungs-Einstelleinheit 300 vorgesehen. Eine Grundeinstellungs-Löschleistungstabelle 312, eine Grundeinstellungs-Schreibleistungstabelle 314 und eine Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 316 sind in der Leistungstabellen-Speichereinheit 310 vorgesehen. Beispielsweise wurden als Grundeinstellungs-Löschleistungstabelle 312, wie in 36 gezeigt ist, Grundeinstellungslöschleistungen (= 3,0 bis 4,5 mW) entsprechend den Zonennummern i (= 1 bis 11) gespeichert. Wie in 37 gezeigt ist, wurden entsprechend den Zonennummern i (= 1 bis 11) Grundeinstellungs-Schreibleistungen (= 6,0 bis 11,0 mW) in der Grundeinstellungs-Schreibleistungstabelle 314 gespeichert. Weiter wurden, wie in 38 gezeigt ist, entsprechend den Zonennummern i (= 1 bis 11) Temperaturkorrekturkoeffizienten Kt (= –0,1 bis 0,10) in der Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 316 gespeichert. Die Temperaturkorrekturkoeffizienten Kt in der Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 316 in 38 entsprechen den Werten, wenn die Temperatur T in der Vorrichtung gleich (T = 25°C) ist. Weiter sind eine Löschleistungstabelle 318, eine erste Schreibleistungstabelle 320 und eine zweite Schreibleistungstabelle 322 in der Leistungstabellen-Speichereinheit 310 vorgesehen. Daher wird die Grundeinstellungs-Vergrößerung, um die optimale Schreibleistung zu ergeben, welche durch die Schreibleistungs-Einstelleinheit 300 bestimmt wird, mit der Grundeinstellungs-Löschleistungstabelle 312 und der Grundeinstellungs-Schreibleistungstabelle 314 entsprechend den Zonennummern multipliziert, so dass jede Leistung einer Löschleistungstabelle 318 und einer ersten Schreibleistungstabelle 320 berechnet und registriert werden kann. In Bezug auf die zweite Schreibleistungstabelle 322 kann, da ein Leistungsverhältnis der zweiten Schreibleistung unter Verwendung der ersten Schreibleistung als Referenz vorher bestimmt wurde, durch Multiplizieren des Leistungsverhältnisses mit der ersten Schreibleistung, welche von der Grundeinstellungs-Schreibleistungstabelle 314 gemäß der Zonennummer erhalten wurde, die zweite Schreibleistung erhalten werden. Weiter wird in Bezug auf die Löschleistung und die erste und zweite Schreibleistung der Wert, der unter Verwendung des Temperaturkorrekturkoeffizienten in der Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 316 auf der Basis der Temperatur in der Vorrichtung in diesem Zeitpunkt tmperatur-korrigiert wurde, verwendet. Die Bildung der Löschleistungstabelle 318, der ersten Schreibleistungstabelle 320 und der zweiten Schreibleistungstabelle 322 unter Verwendung der Grundeinstellungswerte der optimalen Schreibleistung, welche durch die Schreibleistungs-Einstelleinheit 300 wie oben erläutert bestimmt werden, wird durch die Leistungstabelle-Bildungseinheit 306 ausgeführt. Eine Leistungseinstell-Verarbeitungseinheit 324 ist für die Leistungstabellen-Speichereinheit vorgesehen. Auf die Leistungseinstell-Verarbeitungseinheit 324 wird von der übergeordneten Vorrichtung nach Abschluss der Einstellung der optimalen Schreibleistung zugegriffen und stellt die Leistung durch die Lichtemissionssteuerung der Laserdiode auf der Basis der Temperatur in der Vorrichtung, der Art des Trägers, dem Schreib- oder Lesezugriffsmodus und außerdem der Zonennummer, die die Zugriffsspur zeigt, die in einer Gruppe von Registern 326 gezeigt ist, ein. Wenn die Leistung eingestellt ist, bezieht sich die Leistungseinstell-Verarbeitungseinheit 324 auf die Löschleistungstabelle 318, auf die erste Schreibleistungstabelle 320, die zweite Schreibleistungstabelle 322 und die Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 316 in der Leistungstabellen-Speichereinheit 310 auf der Basis der Temperatur in der Vorrichtung, der Art des Trägers, dem Schreib- oder Löschzugriffsmodus, und außerdem auf die Zonennummer, berechnet einen Strominstruktionswert für jedes Register der Laserdioden-Steuerschaltung 24, die in 4 gezeigt ist, auf der Basis der Daten, die von den Tabellen gesucht werden und erzeugt die berechneten Strominstruktionswerte. Die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit 302, welche für die Schreibleistungs-Einstelleinheit 300 vorgesehen ist, bestimmt die Schreibleistungs-Einstell-Zeitgabe durch die Testschreib-Ausübungseinheit 304 und aktiviert. Unmittelbar, nachdem der Träger in das optische Plattenlaufwerk geladen wurde, aktiviert die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit 302 nicht den Einstellprozess der optimalen Schreibleistung. Wenn der erste Schreibbefehl von der übergeordneten Vorrichtung nach Abschluss des Initialisierungsprozesses des optischen Plattenlaufwerks erzeugt wird, unterscheidet die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit 302 den Schreibefehl, um es dadurch der Testschreib-Ausübungseinheit 304 zu erlauben, ein Testschreiben zum Ausführen durch die optimale Schreibleistung auszuführen. Wenn der Schreibleistungs-Einstellprozess durch die Testschreib-Ausübungseinheit 304 beendet ist, wird eine gültige Zeit des Schreibleistungs-Einstellergebnisses berechnet. Wenn die verstrichene Zeit vom Ende der Einstellung die berechnete gültige Zeit erreicht, wird ein Prozess der Testschreib-Ausübungseinheit 304 für die nächste Schreibleistungseinstellung aktiviert. Für eine Zeitdauer, während der die verstrichene Zeit die gültige Zeit erreicht, wenn die Temperatur T in der Vorrichtung, die vom Register 308 zugeführt wird, beispielsweise ±3°C übersteigt, wird die Schreibleistungseinstellung durch die Aktivierung der Testschreib-Ausübungseinheit 304 zwangsweise durchgeführt. Die Testschreib-Ausübungseinheit 304 wiederholt Prozesse, so dass ein willkürlicher Testbereich in einem Nichtbenutzerbereich des geladenen Trägers bestimmt wird, und, nachdem ein vorher festgelegtes Testmuster auf den Träger geschrieben ist, während allmählich die Schreibleistung schrittweise reduziert wird, wird das Testmuster gelesen und mit dem Ursprungstestmuster verglichen, wodurch die Abweichungshäufigkeit von Daten gezählt wird. Bei dem obigen Testschreibprozess wird die Schreibleistung, wenn die gezählte Abweichungshäufigkeit eine vorher festgelegte Anzahl übersteigt, beispielsweise 1000, als Grenzschreibleistung ermittelt. Wie oben erwähnt wird, wenn die Grenzschreibleistung ermittelt wird, während die Schreibleistung schrittweise reduziert wird, der Wert, der durch Hinzufügen eines vorher festgelegten Offsets zur Grenzschreibleistung erhalten wird, als optimale Schreibleistung bestimmt. Das Einstellen der Schreibleistung in der Testschreib-Ausübungseinheit 304 wird unter Verwendung der Grundeinstellungs-Vergrößerung unter Verwendung des Schreibleistungs-Grundeinstellungswerts in diesem Zeitpunkt als Referenz ausgeführt. Daher wird die Grenzschreibleistung ebenfalls als Grundeinstellungs-Vergrößerung ermittelt, welche die Grenzschreibleistung zeigt. Ein Wert, der durch Hinzufügen eines vorher festgelegten Offset-Verhältnisses zu der Grundeinstellungs-Vergrößerung erhalten wird, wird als Grundeinstellungsverhältnis der optimalen Schreibleistung bestimmt.
  • Die Details eines Einstellungsprozesses, um die optimale Schreibleistung durch die Schreibleistungs-Einstelleinheit 300 in 35 zu bestimmen, wird nun mit Hilfe eines Flussdiagramms beschrieben. 39 ist ein Flussdiagramm für einen Plattenaktivierungsprozess, wenn der Träger in das optische Plattenlaufwerk der Erfindung geladen wird. Als Träger, der in einem optischen Plattenlaufwerk gemäß der Erfindung verwendet wird, gibt es vier Arten an Trägern, einschließlich Trägern von 128 MB und 230 MB als PPM-Aufzeichnungsträger und Trägern von 540 MB und 640 MB als PWM-Aufzeichnungsträger. In 39 wird der Träger im Schritt S1 geladen und auf den Spindelmotor 40 gesetzt, wie in 3 gezeigt ist, und mit einer konstanten Geschwindigkeit gedreht. Im Schritt S2 wird das Testschreib- Anforderungsflag FL gesetzt. Außerdem wird im Schritt S3 die aktuelle Zeit initialisiert. Im Schritt S4 wird die aktuelle Temperatur T in der Vorrichtung bestimmt und die Prozesse, welche für die Einstellung der Schreibleistung bei Aktivierung notwendig sind, werden beendet. Beim Plattenaktivierungsprozess werden als Prozesse anders als der Vorbereitungsprozess, um die optimale Schreibleistung zu bestimmen, eine Bildung jeder Koeffiziententabelle der DACs für die Strominstruktion, welche für die Laserdioden-Steuerschaltung vorgesehen ist, durch die Funktion der LD-Lichtemissions-Verarbeitungseinheit 160, welche in den 7A und 7B gezeigt ist, und eine Bildung einer Leistungstabelle, um die Grundeinstellungswerte der Lichtemissionsleistung zu speichern, ausgeführt. Somit werden die Grundeinstellungs-Löschleistungstabelle 312, die Grundeinstellungs-Schreibleistungstabelle 314 und die Temperaturkorrektur-Koeffiziententabelle 316, die in 36, 37 und 38 gezeigt sind, vorbereitet.
  • 40 ist ein allgemeines Flussdiagramm für einen Schreibprozess, nachdem das optische Plattenlaufwerk aktiviert ist. Bei dem Schreibprozess wird das Vorhandensein oder das Nichtvorhandensein einer Testschreibanforderung von einer übergeordneten Vorrichtung im Schritt S1 unterschieden. Wenn es eine Testschreibanforderung gibt, folgt der Schritt S4 und das Testschreiben wird ausgeführt. Im üblichen Zustand läuft, da es keine Testschreibanforderung von der übergeordneten Vorrichtung gibt, die Verarbeitungsroutine weiter zum Schritt S2, und die Notwendigkeit über das Testschreiben wird unterschieden. Die Unterscheidung über die Notwendigkeit des Testschreibens wird durch die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit 302 in 35 durchgeführt. Wenn die Notwendigkeit des Testschreibens im Schritt S3 bestimmt wird, folgt der Schritt S4, die Testschreib-Ausübungseinheit 304 führt das Testschreiben aus und bestimmt die optimale Schreibleistung. Wenn die optimale Schreibleistung bestimmt ist, wird das Testschreib-Anforderungsflag FL im Schritt S5 zurückgesetzt. Im Schritt S6 wird die aktuelle Zeit aktualisiert und die Zeit, wenn die optimale Schreibleistung durch die Ausübung des Testschreibens bestimmt wird, wird gehalten. Im Schritt S7 wird die aktuelle Temperatur aktualisiert und die Temperatur in der Vorrichtung, wenn die optimale Leistung durch die Ausübung des Testschreibens bestimmt wird, wird ebenfalls gehalten. Im Schritt S8, wenn ein Schreibzugriff von der übergeordneten Vorrichtung in diesem Beispiel angefordert wird, wird der Schreibbetrieb von der übergeordneten Vorrichtung ausgeführt. 41A und 41B sind Flussdiagramme für einen Prozess, um die Notwendigkeit über das Testschreiben im Schritt S3 in 40 zu unterscheiden. Beim Prozess, um die Notwendigkeit des Testschreibens zu unterscheiden, wird zunächst im Schritt S1 die aktuelle Zeit gelesen. Im Schritt S2 wird eine Zeit A von der Aktivierung des optischen Plattenlaufwerks zum vorherigen Testschreiben berechnet. Im Schritt S3 wird durch Unter teilen der Zeit A von der Aktivierung durch eine vorher festgelegte Zeit, beispielsweise 20 Sekunden die Zeit A in Einheitszeiten B umgesetzt. Im Schritt S4 wird geprüft, um zu sehen, ob die Anzahl von Einheitszeiten B kleiner als 8 ist, nämlich die Zeit A von der Aktivierung des ersten Testschreibens kleiner als 160 Sekunden ist oder nicht. Wenn die Zeit A kleiner als 160 Sekunden ist, folgt der Schritt S5, und es wird geprüft, zu sehen, ob die Anzahl von Einheitszeiten B kleiner als 4 ist, nämlich, ob die Zeit A kleiner als 80 Sekunden ist oder nicht. Wenn die Zeit A innerhalb eines Bereichs von 80 bis 160 Sekunden liegt, wird die Anzahl von Einheitszeiten B auf 3 beschnitten, nämlich die Zeit A auf 30 Sekunden im Schritt S6 beschnitten, und die Verarbeitungsroutine läuft weiter zum Schritt S7. Wenn die Zeit A kleiner als 80 Sekunden im Schritt S5 ist, läuft die Verarbeitungsroutine weiter zum Schritt S7, und zwar unverändert. Im Schritt S7 wird eine gültige Zeit C, während der die Verwendung der optimalen Schreibleistung, die durch das vorherige Testschreiben entschieden wurde, garantiert ist, berechnet. In diesem Fall wird die gültige Zeit C auf (20 Sekunden × 2B (die Anzahl von Einheitszeiten)) festgelegt. Der Maximalwert der gültigen Zeit ist auf 160 Sekunden begrenzt. Somit wird die gültige Zeit C, während der die optimale Schreibleistung, die durch das Testschreiben entschieden wird, garantiert ist, auf eine Zeit gesetzt, die 2B entspricht, solange wie die Zeit A von der Aktivierung zum Testschreiben kleiner ist als 160 Sekunden. Wenn die Zeit A 160 Sekunden übersteigt, wird die gültige Zeit C auf eine vorher festgelegte Zeit fixiert (C = 160 Sekunden). Wenn diese gültige Zeit C berechnet wird, wird sie gemäß einer Zeit variiert, die erforderlich ist, bis die Temperatur des Trägers, der in das optische Plattenlaufwerk geladen ist, auf die Temperatur in der Vorrichtung kommt. Im Zeitpunkt der Initialisierung unmittelbar nachdem der Träger geladen ist, kann, da es einen Unterschied zwischen der Trägertemperatur und der Temperatur in der Vorrichtung gibt, die Einstellung der optimalen Schreibleistung auf der Basis der Temperatur in der Vorrichtung in dieser Stufe nicht effektiv durchgeführt werden. Daher wird die Einstellung der Schreibleistung bei Aktivierung nicht ausgeführt. Wenn eine Zeit von ungefähr 1 bis 2 Minuten verstreicht, wird die Temperatur des geladenen Trägers auf die Temperatur in der Vorrichtung ausgeglichen. Daher wird die erste Schreibleistungseinstellung synchron mit der Zeitgabe durchgeführt, wenn der Schreibbefehl von der übergeordneten Vorrichtung das erste Mal erzeugt wird, nachdem das optische Plattenlaufwerk aktiviert wurde. Nach der Aktivierung wird, da die Zeitgabe, wenn der Schreibbefehl von der übergeordneten Vorrichtung erzeugt wird, verschieden ist, in den Schritten S1 bis S7 in 41A die Zeit A von der Aktivierung zum ersten Testschreiben erhalten, und die gültige Zeit C, um die nächste und nachfolgende Testschreib-Zeitgabe zu bestimmen, wird von der Zeit A entschieden. Wenn die gültige Zeit C im Schritt S7 berechnet werden kann, wird eine gültige Beurteilungszeit D in einem Zeitpunkt berechnet, welcher durch Hinzufügen der berechneten gültigen Zeit C zu der Zeit des vorherigen Testschreibens im Schritt S8 erhalten wird. Im Schritt S9 in 41B wird überprüft, um zu sehen, ob die aktuelle Zeit die gültige Beurteilungszeit D übersteigt. Wenn die aktuelle Zeit die gültige Beurteilungszeit D übersteigt, folgt der Schritt S14, und ein Testschreibflag wird eingeschaltet. Die Verarbeitungsroutine läuft weiter zur Ausführung des nächsten Testschreibens. Wenn die aktuelle Zeit nicht die gültige Beurteilungszeit D im Schritt S9 erreicht, wird das Testschreibflag im Schritt S17 ausgeschaltet. Wenn die Einheitszeit B gleich oder größer als 8 ist, nämlich, wenn die gültige Zeit gleich oder länger als 160 Sekunden im Schritt S4 ist, folgt der Schritt S10, und es wird geprüft, zu sehen, ob die Zeit, welche durch Subtrahieren der vorherigen Testschreibzeit von der aktuellen Zeit erhalten wird, kleiner als 1 Stunde ist. Wenn auf "JA" entschieden wird, wird die aktuelle Temperatur im Schritt S11 gelesen. Im Schritt S12 wird überprüft, um zu sehen, ob die aktuelle Temperatur innerhalb eines Bereichs von ± 3°C für die vorherige Temperatur liegt. Wenn auf "JA" entschieden wird, wird im Schritt S13 das Testschreibflag ausgeschaltet, und das Testschreiben wird nicht durchgeführt. Wenn eines eine Temperaturschwankung gibt, welche den Bereich von ±3°C für die vorherige Temperatur übersteigt, wird das Testschreibflag eingeschaltet, und das Testschreiben wird im Schritt S14 ausgeführt. Wenn der Unterschied zwischen der aktuellen Zeit und der vorherigen Testschreibzeit gleich oder länger ist als 1 Stunde im Schritt S10, wird das Testschreibflag im Schritt S14 zwingend eingeschaltet und das Testschreiben wird ausgeführt. Jede Schwellenwertzeit, welche im Beurteilungsprozess über die Notwendigkeit des Testschreibens eingestellt ist, kann wenn notwendig passend bestimmt werden.
  • 42A und 42B zeigen ein Flussdiagramm für einen Testschreib-Ausübungsprozess, der im Schritt S4 in 40A ausgeführt wird, und dieser Prozess wird durch die Testschreib-Ausführungseinheit 304 in 35 ausgeübt. Zunächst wird im Schritt S1 die Temperatur T in der Vorrichtung gemessen. Im Schritt S2 werden Testmuster einer hexadezimalen Schreibweise von Schreibmustern "596595" und "FEDC, ... 3210" im Pufferspeicher 20 gebildet, der für die Steuerung 10 in 2 vorgesehen ist. Das Testmuster "596595" ist ein schlechtestes Muster, bei dem angenommen wird, dass das Fehlervorkommen das Größte ist. "FEDC, ... 3210" ist ein Gesamtmuster jedes Worts der hexadezimalen Schreibweise. Im Schritt S3 wird ein Testschreib-Ausübungssektor gebildet. Wie als naheliegend später erläutert wird, wird wie für den Testschreib-Ausübungssektor ein Testbereich, der im Nichtbenutzerbereich des Trägers bestimmt wird, bestimmt, und es wird eine Sektoradresse erzeugt. Im Schritt S4 wird das Grundeinstellungsverhältnis WPO der Startschreibleistung WP von der Temperatur in der Vorrichtung berechnet. Im Schritt S5 wird die Schreibleistung WP durch Multiplizieren einer Grundeinstellungs-Schreibleistung DWP in diesem Zeitpunkt mit dem Grundeinstellungs-Schreiblistungsverhältnis WPO berechnet. Im Schritt S6 wird die Löschleistung EP unter Verwendung des Grundeinstellungsverhältnisses WPO berechnet. Wenn die Grundeinstellungs-Löschleistung EP berechnet wird, wird ein Grundeinstellungsverhältnis der Löschleistung eines Werts, der in einer Weise erhalten wird, so dass ein Wert, ei dem ein Koeffizient von 0,7 mit einem Wert multipliziert wird, der durch Subtrahieren von 1,0 vom Grundeinstellungsverhältnis WPO der Schreibleistung erhalten wird, einer 1 hinzugefügt wird, verwendet, und dieses Grundeinstellungsverhältnis wird mit einer Grundeinstellungs-Löschleistung DEP multipliziert, wodurch die Löschleistung EP berechnet wird. Das Schwankungsverhältnis der Löschleistung wird nämlich unterdrückt im Vergleich zur Schreibleistung. Im Schritt S7 werden durch Verwenden der berechneten Schreibleistung WP und der Löschleistung EP die beiden Arten von Schreibmustern, welche im Pufferspeicher im Schritt S2 gebildet sind, auf den Testbereich des Trägers geschrieben. In diesem Fall wird, wenn der Träger ein Träger mit 128 MB oder 230 MB ist, das PPM-Aufzeichnen ausgeübt. Wenn der Träger ein Träger von 540 MB oder 640 MB ist, wird das PWM-Aufzeichnen ausgeübt. Nach Abschluss der Datenschreiboperation wird der Datenlesebetrieb des Testmusters im Schritt S8 ausgeführt. Im Schritt S9 wird das Lesemuster mit dem ursprünglichen Schreibmuster im Pufferspeicher verglichen, und die Anzahl der Abweichungshäufigkeit von Daten wird auf Worteinheitsbasis gezählt. Im Schritt S10, wenn die Abweichungshäufigkeit von Daten geringer ist als 1000, bedeutet dies, dass die Leistung nicht den unteren Schreibleistungs-Grenzpunkt erreicht, und die Verarbeitungsroutine läuft weiter zum Schritt S11. Das Grundeinstellungsverhältnis WPO der Schreibleistung wird um einen vorher festgelegten Wert von 0,05 reduziert. Die Verarbeitungsroutine kehrt wiederum zurück zum Schritt S5, und das Testschreiben wird unter Verwendung des Grundeinstellungsverhältnisses WPO, welches lediglich um 0,05 reduziert wurde, ausgeführt. Der Datenschreibbetrieb wird wiederholt, während das Grundeinstellungsverhältnis WPO der Schreibleistung wie oben erwähnt reduziert wird. Wenn die Abweichungshäufigkeit von Daten gleich oder größer als 1000 im Schritt S10 ist, wird beurteilt, dass die Leistung den unteren Schreibleistungs-Grenzpunkt erreicht hat. Im Schritt S12 wird das Grundeinstellungsverhältnis auf ein Grundeinstellungsverhältnis (WPO-EDG) der Grenzleistung bei 25°C kalibriert. Es wird nämlich ein Wert, der durch Multiplizieren des Temperaturkorrekturkoeffizienten mit einem Wert, bei dem 25°C von der vorhandenen Temperatur subtrahiert wird, der unteren Schreibleistung dem Grenzpunkt WPO-EDG hinzugefügt, der im Schritt S10 bestimmt wurde, wodurch das Kalib rieren durchgeführt wird. Im Schritt S13 wird ein vorher festgelegtes Offset-Verhältnis ΔWPO dem Temperaturkalibrierungswert hinzugefügt, wodurch das Grundeinstellungsverhältnis WPO der optimalen Leistung berechnet wird. Im Schritt S14 wird die Schreibleistung jeder Zone auf der Basis des Grundeinstellungsverhältnisses WPO der optimalen Schreibleistung, die bestimmt wurde, eingestellt.
  • 43 zeigt ein Testschreiben, bei dem die Testleistung bei der Ausübung des Testschreibens in 42A und 42B schrittweise reduziert wird. Zunächst wird das Testschreiben durch Einstellen der Grundeinstellungsschreibleistung DWP an einem Startpunkt 328 begonnen. Die Abweichungshäufigkeit wird durch Durchführen des Testschreibens erhalten, während diese vom Startgrundeinstellungsverhältnis von 1,0 um 0,05 in einem Zeitpunkt vermindert wird. Wenn die Schreibleistung WP die untere Grenzschreibleistung WP erreicht, wird die Abweichungshäufigkeit vergrößert. Wenn die Abweichungshäufigkeit einen vorher festgelegten Schwellenwert erreicht, beispielsweise 1000, wird diese als Grenzpunkt 330 ermittelt. Durch Hinzufügen des vorher festgelegten Offset-Verhältnisses ΔWPO zum Grundeinstellungsverhältnis-WPO-Grenze entsprechend der unteren Grenzschreibleistung WP bei diesem Grenzpunkt 330 wird in diesem Fall ein Grundeinstellungsverhältnis WP-best, welches die optimale Schreibleistung WP angibt, bestimmt.
  • 44 ist eine grafische Darstellung, welche Kenndaten des Temperaturkorrekturkoeffizienten Kt in Bezug auf die Temperatur T des Offset-Verhältnisses ΔWPO zeigt, welches zum Grundeinstellungsverhältnis der Grenzleistung im Schritt S13 in 42B hinzugefügt ist. Der Temperaturkoeffizient Kt wird, um das Offset-Verhältnis ΔWPO für die Temperatur T zu korrigieren, durch eine Steigung A und einen Schnittpunkt B mit der y-Achse als Koeffizienten einer Bezugsgleichung (Kt = A·T + B) der linearen Näherung bestimmt, bei der der Korrekturkoeffizient Kt bei der Temperatur T (= 25°C) auf (Kt = 1,0) eingestellt wird. Daher wird durch Substituieren der Temperatur T in der Vorrichtung in diesem Zeitpunkt in die Bezugsgleichung der Wert des entsprechenden Temperaturkoeffizienten Kt erhalten. Durch Multiplizieren des Grundeinstellungs-Offset-Verhältnisses ΔWPO, welches bei der Temperatur T (= 25°C) erhalten wird, mit dem Wert von Kt, kann das Offset-Verhältnis ΔWPO, welches zur Berechnung der optimalen Schreibleistung verwendet wird, erhalten werden.
  • 45 zeigt eine Bezugsgleichung der linearen Näherung eines Zonenkorrekturkoeffizienten Ki für die Zonennummer des Offset-Verhältnisses ΔWPO, welches im Schritt S13 in 42B verwendet wird. Diese Bezugsgleichung wird bestimmt durch (Ki = C·i + D), und eine Steigung C und ein Schnittpunkt D mit der y-Achse sind als Koeffizienten der Bezugsgleichung vorgesehen. Da der Zonenkorrekturkoeffizient Ki auf 1,0 bei der mittleren Zonennummer i = 6 festgelegt ist, wird das Grundeinstellungs-Offset-Verhältnis ΔWPO bei der Zonennummer 6 vorgesehen. Daher wird der Zonenkorrekturkoeffizient Ki von der Bezugsgleichung (Ki = C·i + D) für eine willkürliche Zonennummer i erhalten und wird mit dem Grundeinstellungs-Offset-Verhältnis ΔWPO der Zonennummer i multipliziert, so dass das Offset-Verhältnis ΔWPO, welches zur Verrechnung der optimalen Schreibleistung im Schritt S13 verwendet wird, erhalten werden kann.
  • 46A bis 46C sind grafische Darstellungen, welche Kenndaten der Abweichungshäufigkeit für die Schreibleistung WPO entsprechend der Temperatur in der Vorrichtung beim Testschreiben in den 42A und 42B zeigen. 46A bezieht sich auf den Fall, wo die Temperatur in der Vorrichtung gleich 25°C ist. 46B bezieht sich auf den Fall, wo die Temperatur auf T = 10°C reduziert ist. 46C bezieht sich auf den Fall, wo die Temperatur auf T = 55°C angehoben ist. Für die Temperatur T = 25°C in 46A wird, wenn die Temperatur in der Vorrichtung abnimmt, wie bei T = 10°C in 46B gezeigt ist, eine Kenndatenkurve 360 der Abweichungshäufigkeit gegenüber der Schreibleistung zu Kenndaten 364 in einer Richtung verschoben, um die Schreibleistung aufgrund der Abnahme der Temperatur zu steigern. Wenn dagegen die Temperatur auf T = 55°C vergrößert wird, wie in 46C gezeigt ist, wird die Kurve 360 zu Kenndaten 368 in einer Richtung verschoben, um die Schreibleistung zu reduzieren. Daher ändert sich ein optimaler Schreibleistungspunkt, wie bei 362, 366, 370 gezeigt ist, gemäß der Temperatur. Für die Kenndaten zwischen der Schreibleistung und der Abweichungshäufigkeit in Abhängigkeit von der Temperatur in der Vorrichtung wird, wie oben erläutert, beispielsweise angenommen, dass die Startleistung des Testschreibens auf einer Startleistung WPs auf der unteren Leistungsseite bei T = 25°C fest ist. In diesem Zustand wird, wenn die Temperatur auf T = 10°C, wie in 46B gezeigt ist, abnimmt, die Schreibleistung, die niedriger ist als die Schreibleistung beim Grenzpunkt 330, die die Abweichungshäufigkeit von 1000 übersteigt, auf die Startleistung eingestellt. Daher wird bei der Ausübung des Testschreibens in 42A und 42B, wenn die Abweichungshäufigkeit von Daten den Schwellenwert von 1000 am Grenzpunkt auf der unteren Leistungsseite beim ersten Testschreiben übersteigt, ein Prozess, das Grundeinstellungsverhältnis ΔWPO der Schreibleistung im Schritt S11 lediglich durch ein vorher festgelegtes Verhältnis zu steigern, ausgeübt. Somit kann, sogar wenn die Temperatur abfällt, durch Verschieben der Startleistung auf Leistungsseite, die höher ist als die beim Grenzpunkt 330, das normale Testschreiben durchgeführt werden. Man sieht offensichtlich, dass, wenn ein vorher festgelegter Grundeinstellungswert auf die Startschreibleistung gesetzt wird, durch Durchführen der Temperatur korrektur auf der Basis der Temperatur T in der Vorrichtung eine optimale Startleistung des Testschreibens auch gemäß der Verschiebung der Kenndaten entsprechend der Temperatur eingestellt werden kann, wie in 46A bis 46C gezeigt ist. Sogar durch ein solches Verfahren, wenn die Startleistung der Testleistung niedriger ist als der Grenzpunkt auf der niedrigen Leistungsseite, ist es ausreichend, ein Offset-Verhältnis hinzuzufügen, um die Startleistung durch einen ähnlichen Prozess zu steigern.
  • 47 ist ein Flussdiagramm zur Bildung einer Adresse des Testschreib-Ausübungssektors, welche im Schritt 3 der Testschreibausübung in 42A und 42B ausgeübt wird. Das Bilden der Testschreib-Ausübungsadresse bezieht sich auf ein Beispiel der Erzeugung von Zufallssektoradressen. Zunächst wird im Schritt 1 eine Bereichskopfadresse des Trägers gesetzt. Im Testschreiben nach der Erfindung wird ein Nichtbenutzerbereich 336 auf der Innenseite oder ein Nichtbenutzerbereich 338 auf der Außenseite für einen Benutzerbereich 334 des Trägers 72 in 48 dem Leistungseinstellungsbereich zugeteilt. 49 zeigt den Nichtbenutzerbereich 338 auf der Außenseite in 48, und ein Leistungseinstellungsbereich 340 wird in Bezug auf einen vorher festgelegten Spurbereich im Nichtbenutzerbereich 338 eingestellt. Daher werden im Schritt S1 eine Bereichskopfadresse, nämlich eine Spuradresse eines beliebigen Testschreibens im Leistungseinstellungsbereich 340 und eine Sektornummer eingestellt. Im Schritt S2 wird die Anzahl von Sektoren, in denen das Testschreiben schon beendet wurde, von einer Bereichslänge einer Spur subtrahiert, wodurch eine verbleibende Bereichslänge erhalten wird. Die Begründung dafür ist, dass das Testschreiben nicht stetig in Bezug auf die Sektoren durchgeführt wird, in denen das Testschreiben durchgeführt wurde. Im Schritt S3 wird die Anzahl von Offset-Sektoren durch Multiplizieren einer Zufallsanzahl mit der verbleibenden Bereichslänge erhalten. Als Zufallszahl wird ein beliebiger Wert in einem Bereich von 0 bis 1 gemäß einer vorher festgelegten Zufallszahlroutine erzeugt. Wenn die Anzahl von Offset-Sektoren wie oben erläutert erhalten wird, wird im Schritt S4 eine Ausübungsadresse durch Hinzufügen der Anzahl von Offset-Sektoren zur Bereichskopfadresse erhalten. 50 zeigt ein Testschreiben durch die Bildung der zufallsmäßigen Testschreibadressen in 47. Es wird Testschreiben 342-1, 342-2 und 342-3 drei Mal zufallsmäßig unter Verwendung von vier Sektoren als eine Einheit durchgeführt.
  • 51 zeigt eine weitere Ausführungsform der Adressbildung des Testschreib-Ausübungssektors, welche im Schritt S3 der Testschreibausübung in 42A und 42B ausgeübt wird, wobei diese dadurch gekennzeichnet ist, dass die Testschreib-Ausübungsadressen sequentiell gebildet werden. Zunächst wird im Schritt S1 die endgültige Startadresse des Leistungseinstellungsbereichs durch Subtrahieren der Anzahl von Testschreibsektoren, die schon getestet wurden, von der endgültigen Bereichsadresse erhalten. Im Schritt S2 wird die vorherige Ausübungsadresse auf die Ausübungsadresse gesetzt. Im Schritt S3 werden die vorherige Ausübungsadresse und die endgültige Startadresse verglichen. Wenn die vorherige Ausübungsadresse nicht die endgültige Startadresse erreicht, folgt der Schritt S5, und die Ausübungsadresse wird gesetzt auf {(die vorherige Ausübungsadresse) + (die Anzahl von Testschreibsektoren)}, und das Testschreiben wird ausgeübt. Wenn die vorherige Ausübungsadresse die endgültige Startadresse übersteigt, wird die Bereichskopfadresse auf die Ausübungsadresse im Schritt S4 gesetzt, und das Testschreiben wird ausgeführt. 52 zeigt einen Zustand des Testschreibens des Leistungseinstellbereichs durch sequentielles Bilden der Testschreibadressen in 51, wobei das Testschreiben 344-1, 344-2 und 344-3 in Bezug auf Basis einer 4-Sektor-Einheit ausgeführt wird.
  • 53 ist ein Flussdiagramm für einen Datenleseprozess im Schritt S8 in 42A und 42B. Bei dem Datenlesebetrieb nach dem Ende des Testschreibens wird zunächst der Sektor im Schritt S1 gelesen. In Bezug auf den Sektorlesebetrieb wird das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines nichtnormalen Endes im Schritt S2 unterschieden. Im Fall eines nichtnormalen Endes wird überprüft, um zu sehen, ob ein Faktor eines Fehlers auf Synchronisationsfehler von Synchronisationsbytes im Schritt S3 basiert. Wie in einem Spur-Format von 54 gezeigt ist, sind Synchronisationsbytes 354 wichtige Information, welche eine Startposition von Daten 356 zeigt. Wenn der Fehlerfaktor auf dem Synchronisationsfehler durch die Synchronisationsbytes 354 basiert, läuft, da die nachfolgenden Daten 356 nicht gelesen werden können, die Verarbeitungsroutine weiter zum Schritt S5. Um die Abweichungshäufigkeit auf den Maximalwert zwingend festzulegen, wird ein Muster, welches exakt unterschiedlich gegenüber dem Testmuster ist, im Lesepuffer gespeichert. Somit ist die Abweichungshäufigkeit von Daten durch den Vergleich zwischen dem unterschiedlichen Muster im Lesepuffer und im Testpuffer maximal. Im Fall eines Fehlers, der anders ist als der Synchronisationsfehler der Synchronisationsbytes im Schritt S3, wird ein anderer Fehlerprozess wenn nötig im Schritt S4 ausgeübt. Im Schritt S6 wird überprüft, um zu sehen, ob der Sektor ein endgültiger Sektor im Leistungseinstellungsbereich ist. Die Verarbeitungen vom Schritt S1 werden wiederholt, bis der Sektor den endgültigen Sektor erreicht. Im Fall des endgültigen Sektors läuft die Verarbeitung zur Routine weiter zum nächsten Beurteilungsprozess der Abweichungshäufigkeit.
  • 55 ist ein Flussdiagramm für einen Prozess, um die Abweichungshäufigkeit von Daten auf einer Worteinheitsbasis im Schritt S9 in 42A und 42B zu zählen. Zunächst wird im Schritt S1 D = 0 in einem Zähler D eingestellt, der zur Unterscheidung eines Sektors guter Qualität verwendet wird und initialisiert wird. Im Schritt S2 wird die Abweichungshäufigkeit eines Sektors durch Vergleichen des Testmusters mit dem gelesenen Muster erhalten. Im Schritt S3 wird geprüft, um zu sehen, ob die Abweichungshäufigkeit eines Sektors kleiner ist als ein vorher festgelegter Schwellenwert, beispielsweise 10. Wenn diese kleiner ist als 10, wird bestimmt, dass der Sektor ein Sektor guter Qualität ist. Im Schritt S4 wird der Zähler D, der den Sektor guter Qualität zeigt, um "1" erhöht. Wenn die Abweichungshäufigkeit gleich oder größer als 10 ist, wird die Abweichungshäufigkeit nach oben gezählt. Wenn der endgültige Sektor nicht im Schritt S7 unterschieden wird, kehrt die Verarbeitungsroutine wieder zurück zum Schritt S2, und es wird die Abweichungshäufigkeit des nächsten Sektors durch den Vergleichsprozess erhalten. Auf den Schritt S4 folgt, wenn der Zähler D des Sektors guter Qualität um "1" vergrößert wird, der Schritt S5, und es wird geprüft, um zu sehen, ob der Zähler D kleiner als 1 ist oder nicht. Es wird nämlich überprüft, um zu sehen, ob der Kopfsektor in den Lesedaten eine gute Qualität hat. Wenn D kleiner ist als 1, nämlich, wenn dieses gleich 0 ist, läuft die Verarbeitungsroutine weiter zum Schritt S6, und es werden alle Sektoren als Sektoren guter Qualität angesehen. Die Abweichungshäufigkeit wird auf 0 eingestellt. Wenn somit der Kopfsektor, der durch das Testschreiben gelesen wird, als Sektor guter Qualität angesehen wird, wird der Vergleich der Abweichungshäufigkeit nicht in Bezug auf die nachfolgenden Sektoren durchgeführt, sondern es wird das nächste Testschreiben durchgeführt. Somit wird eine hohe Verarbeitungsgeschwindigkeit des Testschreibens realisiert, und die Einstellzeit kann reduziert werden.
  • 56 ist ein Flussdiagramm für einen Schreibleistungs-Einstellprozess jeder Zone, nämlich eine Leistungstabellen-Bildungsprozess, der endgültig im Schritt S14 in 42A und 42B ausgeführt wird. Bei dem Leistungstabellen-Bildungsprozess wird die Grundeinstellungs-Leistungstabelle der Löschleistung EP und der ersten Schreibleistung WP1 jeder Zone von der Temperatur in der Vorrichtung im Schritt S1 berechnet. Im Schritt S2 wird eine Schreibleistung (WP) i einer Zonennummer i eingestellt, das optimale Grundeinstellungsverhältnis WPO, welches bei der Schreibleistungseinstellung erhalten wird, wird mit einer Grundeinstellungs-Schreibleistung DWPi multipliziert, und es wird außerdem eine Temperaturkorrektur ausgeführt, um dadurch die Schreibleistung zu berechnen. Im Schritt S3 wird überprüft, um zu sehen, ob der Träger ein PWM-Träger ist. Im Falle des PWM-Trägers folgt der Schritt S4, und es wird eine Schreibleistung (WP1)i entsprechend der ersten Schreibleistung, welche im Schritt S2 erhalten wird, mit dem Leistungsverhältnis (WP2/WP1) der Zonennummer i multipliziert, wodurch eine zweite Schreibleistung (WP2)i berechnet wird. Im Schritt S5 wird eine Löschleistung (EP)i der Zonennummer i festgelegt. Wenn die Löschleis tung berechnet wird, wird ein Koeffizient von 0,7, um eine Schwankungshöhe zu unterdrücken, mit einem Wert multipliziert, bei dem 1,0 von dem Grundeinstellungsverhältnis WPO der optimalen Schreibleistung subtrahiert wird, die durch die Schreibleistungseinstellung hergeleitet wird, und der resultierende Multiplikationswert wird 1,0 hinzugefügt. Der resultierende Additionswert wird außerdem mit einer Grundeinstellungslöschleistung DPi multipliziert. Die Temperaturkorrektur durch die Messtemperatur in diesem Zeitpunkt wird offensichtlich durchgeführt. Durch diesen Leistungstabellen-Bildungsprozess in 56 werden Löschleistungstabelle 318, die erste Schreibleistungstabelle 320, und die zweite Schreibleistungstabelle 322, die in der Leistungstabellen-Speichereinheit 310 in 35 gezeigt sind, gebildet. Als Antwort auf einen nachfolgenden Schreibzugriff von der übergeordneten Vorrichtung wird die Leistung entsprechend der Zonennummer gelesen, und die Temperaturkorrektur gemäß der Temperatur in dieser Vorrichtung in diesem Zeitpunkt wird durchgeführt. Danach werden die DAC-Instruktionswerte für die Register in der Laserdioden-Steuerschaltung in 4 berechnet und eingestellt, und die Lichtemission der Laserdiode 100 wird gesteuert.
  • Gemäß der Erfindung kann wie oben erläutert durch Ausführen der Lichtemissionseinstellung der Laserdiode durch die Leistungen an zwei Punkten, die untere Leistungen sind, um nicht die Laserdiode zu beschädigen, die Lichtemissionseinstellung in einer kurzen Zeit ausgeführt werden, ohne die Vorrichtung zu verschlechtern. Sogar dann, wenn die Anzahl von Zonen vergrößert wird, beispielsweise diese in drei Bereiche unterteilt werden, werden die Leistungen an zwei Punkten in jedem Bereich zugeteilt, die Lichtemissionseinstellung wird durchgeführt, und Einstellwerte bei einer beliebigen Leistung in allen Zonen können durch die lineare Näherung durch das Einstellergebnis eingestellt werden. Sogar, wenn die Anzahl von Zonen ansteigt, kann die Lichtemissionseinstellung in einer kurzen Zeit durchgeführt werden. Sogar, wenn die Anzahl von Zonen in Verbindung mit der Änderung eines Formats des Trägers geändert wird, kann die Vorrichtung leicht damit fertig werden.
  • Gemäß der Erfindung kann ein Prozess, die optimale Schreibleistung durch das Testschreiben zu bestimmen, in einer kurzen Zeit genau durchgeführt werden, ohne eine Belastung auf die Laserdiode auszuüben. Als Einstellprozess, die optimale Schreibleistung zu bestimmen, ist es nämlich ausreichend, lediglich allmählich die Schreibleistung von der Startleistung zu reduzieren und die Grenzleistung, die auf der Seite einer unteren Grenze liegt, zu ermitteln. Verglichen mit dem herkömmlichen Fall zum Ermitteln der oberen und unteren Grenzleistungen an zwei Punkten nimmt dies nun die halbe Zeit in Anspruch. Da eine hohe Leistung für das Testschreiben nicht benötigt wird, wird in Bezug auf die Laserdiode kein Schaden ausgeübt, und die Lebensdauer der Vorrichtung kann verbessert werden.

Claims (21)

  1. Optische Speichervorrichtung, die aufweist: eine Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) zum Schreiben eines vorher festgelegten Testmusters ("596595", "FEDC 3210") auf einen Träger (72), während eine Schreibleistung schrittweise geändert wird, anschließendes Lesen des Testmusters, Vergleichen des Testmusters mit einem ursprünglichen Testmuster ("596595", "FEDC 3210"), Zählen der Datenabweichungshäufigkeit und Bestimmen einer optimalen Schreibleistung von der Abweichungshäufigkeit und der Schreibleistung; und eine Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit (302) zum Beurteilen einer Notwendigkeit eines Schreibleistungs-Einstellprozesses, um die Schreibleistung für diesen Träger (72) zu optimieren, und Aktivieren einer Schreibleistungseinstellung gemäß einem Ergebnis dieser Beurteilung; wobei die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit (302) die Schreibleistungseinstellung synchron mit einem Schreibbefehl aktiviert, der von einer übergeordneten Vorrichtung erzeugt wird, und eine gültige Zeit bestimmt, bei der eine Gültigkeit eines Ergebnisses der Schreibleistungseinstellung von einer verstrichenen Zeit von der Aktivierung der optischen Speichervorrichtung zu einer Zeitgabe garantiert ist, wenn die erste Schreibleistungseinstellung aktiviert ist.
  2. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, welche aufweist: wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) die Datenabweichungshäufigkeit zählt, die Schreibleistung, bei der die Abweichungshäufigkeit einen vorher festgelegten Schwellenwert übersteigt, als Grenzschreibleistung (WPO-Grenze) ermittelt, und einen Wert bestimmt, der durch Hinzufügen eines vorher festgelegten Versatzes (ΔWPO) zur Grenzschreibleistung (WPO-Grenze) als eine optimale Schreibleistung erhalten wird.
  3. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) zumindest zwei Leistungen einer ersten Leistung hat, um Aufzeichnungspits des Trägers (72) zu löschen, und einer zweiten Leistung, um Aufzeichnungspits des Trägers (72) als eine Schreibleistung zu bilden und die erste und die zweite Leistung mit einer vorher festgelegten Proportionalbeziehung ändert, wenn die Schreibleistung allmählich schrittweise reduziert wird.
  4. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) zumindest zwei Leistungen einer ersten Leistung hat, um Aufzeichnungspits des Trägers (72) zu löschen, und einer zweiten Leistung, um Aufzeichnungspits als eine Schreibleistung zu bilden, und die Schreibleistung so ändert, dass ein Schwankungsverhältnis der zweiten Leistung kleiner ist als ein Schwankungsverhältnis der ersten Leistung, wenn die Schreibleistung allmählich schrittweise reduziert wird.
  5. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei, wenn die Abweichungshäufigkeit einen vorher festgelegten Schwellenwert, der eine Leistungsgrenze zeigt, durch die Schreib- und Leseoperationen des Testmusters ("596595", "FEDC 3210") durch eine Schreibleistung, die zuerst eingestellt war, übersteigt, die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) eine Testleistung um einen vorher festgelegten Wert vergrößert und wiederum die Schreib- und Leseoperationen versucht.
  6. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) einen Versatz vergrößert, der der Aufzeichnungsgrenzleistung hinzuzufügen ist, wenn die Temperatur der optischen Speichervorrichtung niedrig ist, und den Versatz vermindert, wenn die Temperatur der optischen Speichervorrichtung hoch ist, um dadurch eine optimale Schreibleistung gemäß der Temperatur der optischen Speichervorrichtung zu bestimmen.
  7. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) einen Versatz einstellt, der der Aufzeichnungsgrenzleistung hinzugefügt wird, in einer solchen Weise, dass, wenn die Temperatur der optischen Speichervorrichtung niedrig ist, eine Innenrandseite vermindert wird und eine Außenrandseite vergrößert wird, und, wenn die Temperatur der optischen Speichervorrichtung hoch ist, die Innenrandseite vergrößert wird und die Außenrandseite vermindert wird, um dadurch die optimale Schreibleistung (WP-best) gemäß der Temperatur der optischen Speichervorrichtung und einer Position in der Radialrichtung des Trägers (72) zu bestimmen.
  8. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei, wenn die verstrichene Zeit kürzer ist als eine vorher festgelegte Schwellenzeit, die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit (302) die gültige Zeit gemäß der verstrichenen Zeit reduziert, und, wenn die verstrichene Zeit die Schwellenzeit übersteigt, die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit (302) die gültige Zeit auf die Schwellenzeit setzt.
  9. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 8, wobei, wenn die verstrichene Zeit von einer Zeitgabe einer vorherigen Schreibleistungseinstellung die gültige Zeit übersteigt, die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit (302) eine nächste Schreibleistungseinstellung aktiviert.
  10. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 8, wobei, bis die verstrichene Zeit von einer Zeitgabe einer vorherigen Schreibleistungseinstellung die gültige Zeit übersteigt, die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit (302) die Schreibleistungseinstellung aktiviert, wenn eine aktuelle Temperatur der optischen Speichervorrichtung über einem vorher festgelegten Temperaturbereich für eine Temperatur der optischen Speichervorrichtung im Zeitpunkt der vorherigen Schreibleistungseinstellung schwankt.
  11. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 10, wobei, wenn die Testleistung eingestellt wird, die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) die Schreibleistung unter Verwendung eines Grundeinstellungsverhältnisses der eingestellten Schreibleistung unter Verwendung einer vorher festgelegten Grundeinstellungsschreibleistung als eine Referenz ändert, und, wenn die optimale Schreibleistung bestimmt wird, ein vorher festgelegtes Versatzverhältnis einem Grundeinstellungsverhältnis der Grenzleistung hinzugefügt wird, wodurch ein Grundeinstellungsverhältnis der optimalen Schreibleistung bestimmt wird.
  12. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 11, wobei, wenn die Einstellung der Grundeinstellungsschreibleistung ausgeführt wird, die Einstell-Zeitgabe-Beurteilungseinheit (302) die Schreibleistungseinstellung aktiviert.
  13. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) einen Teil eines nicht verwendeten Benutzerbereichs (336, 338) des Plattenträgers (72) als einen Testbereich (304) bestimmt und eine Schreiboperation und eine Leseoperation des Testmusters ("596595", "FEDC 3210") ausführt.
  14. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) die Schreiboperation und die Leseoperation des Testmusters ("596595", "FEDC 3210") unter Verwendung von stetigen Partialsektoren (344-1, 344-2, 344-3) einer speziellen Spur unter mehreren Spuren, welche den Testbereich (340) bilden, ausführt.
  15. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) einen passenden Sektor (342-1, 342-2, 342-3) unter mehreren Spuren bestimmt, welche den Testbereich (340) zufallsmäßig bilden, wobei eine Zufallszahl erzeugt wird, und die Schreiboperation und die Leseoperation des Testmusters ("596595", "FEDC 3210") ausführt.
  16. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei, wenn ein Datensynchronisationsmuster beim Lesen des Testmusters nicht ermittelt werden kann, die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) die maximale Abweichungshäufigkeit zählt.
  17. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei, wenn die Abweichungshäufigkeit in einem Bereich von einem Kopfsektor zu einer vorher festgelegten Anzahl von Sektoren gleich oder kleiner ist als ein vorher festgelegter Schwellenwert beim Lesen des Testmusters, die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) berücksichtigt, dass alle Sektoren Sektoren guter Qualität sind, einen Datenvergleich unterbricht und einen vorher festgelegten Minimalwert als Abweichungshäufigkeit zählt.
  18. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) die Schreibleistung, die zuerst einzustellen ist, von einer Temperatur der optischen Speichervorrichtung bestimmt.
  19. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 1, die außerdem aufweist: eine Testausführungseinheit (304) zum Bestimmen eines Teils eines nicht verwendeten Benutzerbereichs (336, 338) eines Plattenträgers (72) als einen Testbereich (340) und Ausführen einer Schreiboperation und einer Leseoperation des Testmusters ("596595", "FEDC 3210") im Zeitpunkt der Einstellung durch die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300).
  20. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 19, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) die Schreib- und Leseoperationen des Testmusters ("596595", "FEDC 3210") unter Verwendung von stetigen Partialsektoren (344-1, 344-2, 344-3) einer speziellen Spur unter mehreren Spuren, die den Testbereich (340) bilden, ausführt.
  21. Optische Speichervorrichtung nach Anspruch 19, wobei die Schreibleistungs-Einstelleinheit (300) einen passenden Sektor (342-1, 342-2, 342-3) unter mehreren Spuren, welche den Testbereich (340) zufallsmäßig bilden, bestimmt, wobei eine Zufallszahl erzeugt wird, und die Schreib- und Leseoperationen des Testmusters ("596595", "FEDC 3210") ausführt.
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