CN1355921A - 读出信道性能数据的累加 - Google Patents

读出信道性能数据的累加 Download PDF

Info

Publication number
CN1355921A
CN1355921A CN00808915A CN00808915A CN1355921A CN 1355921 A CN1355921 A CN 1355921A CN 00808915 A CN00808915 A CN 00808915A CN 00808915 A CN00808915 A CN 00808915A CN 1355921 A CN1355921 A CN 1355921A
Authority
CN
China
Prior art keywords
data
sector
performance data
performance
magnetic media
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN00808915A
Other languages
English (en)
Inventor
D·恩古芸
J·W·雷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infenion Tech North America Corp
Infineon Technologies North America Corp
Original Assignee
Infenion Tech North America Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infenion Tech North America Corp filed Critical Infenion Tech North America Corp
Publication of CN1355921A publication Critical patent/CN1355921A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
    • G11B20/10046—Improvement or modification of read or write signals filtering or equalising, e.g. setting the tap weights of an FIR filter
    • G11B20/10055—Improvement or modification of read or write signals filtering or equalising, e.g. setting the tap weights of an FIR filter using partial response filtering when writing the signal to the medium or reading it therefrom
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1816—Testing
    • G11B20/182—Testing using test patterns
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1879—Direct read-after-write methods
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
    • G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/20—Disc-shaped record carriers

Abstract

描述了将读出信道中一个或多个组成部分之性能所关联的数据进行累加的系统和方法。在一个方面,一个可编程的信道质量监控器在工作中将一个记录的测试数据序列所对应的性能数据进行累加,该测试数据序列跨越磁性媒介的两个或多个扇区。信道质量监控器可取地组合在一个磁盘驱动器系统中。又描述了一种对读出信道来的性能数据进行累加的方法。根据本发明的方法,一个原始的测试数据模式写入磁性媒介的多个数据扇区。从磁性媒介的该多个数据扇区上读出原始的测试模式,以产生一个回读测试模式。本方法中,将原始测试模式与回读测试模式之比较中关联的性能数据进行累加。

Description

读出信道性能数据的累加 与相关专利申请的相互参照
本专利申请要求于1999年4月20日提出的美国临时专利申请NO.60/130,162的优先权。
                    技术领域
本发明涉及一些系统和方法，用于对一个读出信道中一个或多个组成部分之性能方面的数据进行累加。
                      背景
在磁盘存储系统中，由一个读出信道提取出存储于磁盘上的信息，并将该信息传输至主机系统(例如，一台计算机)。对磁盘以多个同心的数据磁迹进行格式化，每一数据磁迹被配置成存储入固定数量的数据，数据形式为磁盘表面上的磁性跃变。一个主轴电机使磁盘旋转，由一个位置与磁盘邻近的磁性换能器感知磁盘表面上的磁性跃变，产生出对应于记录数据的输入读出信号。读出信道包括多个组成部分，用于从换能器内接收的输入读出信号中重建记录的数据。样本的幅度读出信道包括一些组成部分(例如，数字波形成形电路和数字滤波器)，用于将输入读出信号均衡成一种预定的部分响应(例如，PR4或EPR4)，它能使读出信道的输出近似于由一个二进制序列调制的时间延迟脉冲的一种线性组合。
通过对输入读出信号进行均衡的一个或多个读出信道组成部分作出调整，可使样本的幅度读出信道的工作最佳化。可编程数字读出信道能使技术人员对读出信道组成部分进行编程，以改善信道的数据检测能力，并优化不同的磁盘驱动系统的读出信道。为使读出信道最佳化，技术人员必须在规定的测试条件下监控信道的性能。例如，一种优化技术中，将一种已知的测试模式写入一个磁盘的扇区中，将它与读出信道检测到的模式进行比较。这样的比较可以用来计算当前读出信道配置中一个或多个统计的性能量度(例如，均方样本误差)特性。然而，为了实施有意义的统计分析，必须采集足够数量的数据。已经提出了各种技术(例如，将噪声引入读出信道)来减少对读出信道输出实施统计分析所需的数据总量。此外，已经研制了可编程信道质量监控器来帮助对于测试数据进行累加，用以校准读出信道。例如，美国专利NO.5,987,634叙述了在样本的幅度读出信道中的一种信道质量电路。该信道质量电路产生一个测试数据模式，它写入至一个格式化的磁性存储盘之扇区中。当从存储盘扇区中读出该测试模式时，信道质量电路对读出信道组成部分来的性能数据进行累加。对门电路逻辑作出编程，只将关心的特定性能数据予以累加。
                     发明概述
本发明的特征在于用于对读出信道来的性能数据进行累加的系统和方法，在配置上是从一个磁性媒介中提取出数据符号，该磁性媒介具有多个格式化的数据扇区。根据本发明的方案，一个可编程信道质量监控器在工作中将性能数据进行累加，而性能数据对应于跨越磁性媒介之两个或多个数据扇区的一个记录的测试数据序列。
实施例中，可以包括下列诸特征中的一个或多个。
信道质量监控器最好是可编程的，以在一个延时时期内使性能数据的累加延时，该延时时期对应于跟随在一个接收的触发信号之后已编程数据符号的数目。信道质量监控器可以编程为在接收到一个同步标志信号之后开始该延时时期，或者在接收到一个读出门信号之后开始该延时时期。信道质量监控器可取地包括一个延时计数器，它配置成在编程的延时时期过去之后给出一个延时结束信号。
信道质量监控器最好是可以编程的，以对一个编程的性能数据数量进行累加。信道质量监控器可以编程为对于性能数据进行累加。此性能数据对应于由磁性媒介中多个数据扇区来的数据符号。信道质量监控器最好包括一个测量计数器，它配置成在编程的性能数据之数量经累加之后给出一个测量结束信号。信道质量监控器可以编程为对性能数据进行累加。此性能数据对应于在上面要累加其数据的每个磁性媒介扇区中所选择的数据符号。性能数据的累加在延时时期内可以暂停执行，该延时时期对应于在上面要累加其数据的每个扇区开始端可编程的数据符号数目。
从一方面看，本发明的特征为一个磁盘驱动系统。系统中包括至少一个磁性存储盘，它具有多个格式化的数据扇区。系统中还包括至少一个换能器，它配置成从磁性存储盘中提取编码的数据信号。系统有一个读出信道，配置成从编码的数据信号中提取编码的数据符号。系统还有一个可编程信道质量监控器，在工作中将性能数据进行累加，此性能数据对应于跨越磁性媒介中两个或多个数据扇区的一个记录的测试数据序列。
从另一方面看，本发明的特征为一种使读出信道来的性能数据进行累加的方法，该读出信道配置成对具有多个格式化数据扇区的一种磁性媒介来的数据符号进行提取。按照本发明的方法，将一个原始的测试数据模式写入至磁性媒介的多个数据扇区中。从该磁性媒介的多个数据扇区中读出原始的测试数据模式，产生一个回读测试模式。这一方法中，将一个与该原始测试模式和回读测试模式之比较中关联的性能数据进行累加。
能够可取地确定出误码的全部扇区的数目。如果扇区中有单个字节发生误码，或者扇区中有一个以上的字节发生误码，则可以确定该扇区为误码的扇区。
本发明的优点包括：由于写入至磁性媒介中的测试数据模式可跨越多个数据扇区，所以磁盘驱动技术人员可以方便地采集大量的性能数据。此外，磁盘驱动技术人员可以用磁性媒介之一个或多个扇区中存储的一种测试数据模式来实施广泛多样的各种性能测试(例如，跨越多个扇区的一种扇区误码测试)。
从下面包括了附图和权利要求的说明中，可以明显地了解本发明的其它特性和优点。
                     附图的说明
图1A是一个磁盘存储系统的概略侧视图，包括一个传动组件、多个磁性存储盘和多个磁头支座，每个磁头支座连接一个单独的读出/写入换能器。
图1B是一个格式化磁性存储盘的概略顶视图。
图1C是图1B之磁性存储盘中一个扇区内数据符号格式的示意图。
图2是图1A之磁盘存储系统中一个读出信道的方框图。
图3是一个EPRML读出/写入信道的方框图，按照本发明的一个具体实施例，它包括一个数据检测器和一个信道质量监控器。
图4是按照本发明的一个具体实施例，图3中信道质量监控器的方框图。
图5是按照本发明的一个具体实施例，供图4中信道质量监控器用的一个控制器的方框图。
图6是按照本发明的一个具体实施例，供图5中控制器用的一个有限状态机构的状态图。
图7A-7C是按照本发明的一个具体实施例，用于图4中质量监控器之各种可编程工作模式所对应的各个时序图。
图8是按照本发明的一个具体实施例，在磁性存储媒介中多个数据扇区上实现读出信道性能数据累加的一种方法的流程图。
               具体实施例的详细说明
参看图1A-1C，磁盘存储系统10包括磁头堆叠组件和多个磁性存储盘12、14和16，其每一个配置成围绕轴18旋转。磁头堆叠组件11包括多个磁头支座22、24、26、28、30和32，每个支座依靠一个悬挂架连接至各别的滑块34、36、38、40、42和44上。每个滑块34-44支持一个或多个磁性读出/写入换能器(例如，磁阻磁头)，在工作时对磁性存储盘12-16写入数据和从中读出数据。滑块移动由传动组件46进行控制，它控制磁头支座22-32的位置。磁头支座22-32配置成相对磁盘12-16的表面可偏移滑块34-44。磁盘12-16旋转时在滑块34-44与磁盘12-16表面之间产生空气支承，它使滑块34-44在磁盘12-16表面上方抬升一个小的、基本上恒定的距离。
如图1B和图1C中所示，每个磁性存储盘12-16将信息存储入支持在磁盘表面上的磁性记录媒介中。如图1B中的磁盘12所示，信息典型地以环形样式的同心圆磁迹48进行存储。每条数据磁迹48经格式化，成为由伺服区52分隔开的多个扇区50。当磁盘旋转时，通过将滑块移动到磁盘表面上的合适位置处，可以访问存储在磁盘上不同扇区内的数据。用伺服区52来校验换能器34-44对于磁迹和扇区的位置，并使换能器34-44对准一条所需的磁迹48。在一种固定的信息组结构中，每条数据磁迹48划分成预定数目的等尺寸扇区50。每个数据扇区50典型地有一个关联的识别符(ID)字段，它包含一个数据扇区识别符和其它信息(例如，标识出缺陷扇区的标志符)。典型地，数据扇区50由一个逻辑信息组号码进行标识。主机计算机传送一张要写入或读出的逻辑信息组号码表，由磁盘驱动器控制器将逻辑信息组号码转换成区域、柱面、磁头和扇区值。伺服系统定位好所需的区域、柱面和磁头，磁盘驱动器开始读出扇区ID字段，直至寻找到匹配。在读出合适的扇区ID字段后，磁盘驱动器对于与匹配的扇区ID字段相对应的扇区，从用户数据信息组中读出数据或对之写入数据。如图1C中所示，每个扇区50格式化成一个数据序列，包括训练前置码54、同步标志56和用户数据信息组58。训练前置码54应用来设置读出信道的取样频率和相位，同步标志56应用来标识用户数据信息组58的开始。
参看图2，在一个实施例中，对于寻找到的存储在磁性存储盘12上的磁场位置，换能器34产生一个编码的数据信号60。换能器34将编码的数据信号60传输给读出信道62，通过对编码的数据信号60进行取样，从编码的数据信号60中提取出编码的数据符号。将提取的数据符号连同其它信息传输给解码器64，由读出信道62接收的信息中产生出解码的数据符号66。
如下面的详细说明，读出信道62包括一个信道质量监控器，它累加读出信道62来的性能数据，并计算统计的性能量度，这可以应用来改善读出信道62的工作。信道质量监控器可使磁盘驱动技术人员方便地采集数据数量，在实际的工作条件下由此足以获得读出信道性能的可靠指示。信道质量监控器还能使磁盘驱动技术人员可以用磁性媒介之一个或多个扇区中存储的数据来实施广泛多样的各种性能测试。
参看图3，在本发明的一个实施例中，EPRML读出信道70包括一个旋转的磁性存储盘72和一个换能器74。换能器74的定位可以依靠工作在一个闭环伺服内的旋转式话音线圈传动器，闭环伺服中包括一个载有换能器74的滑块，用于从存储盘72中读出信息，或者对之写入信息。在一种读出工作模式中，换能器74的一个读出单元内感应出磁通跃变，产生一个编码的数据信号，它作用到读出前置放大器76的一个输入端上。一个可变增益放大器(VGA)77可控地放大编码的数据信号，产生一个增益规一化的数据信号78。一个不对称块79和一个乘法器80使数据信号78对称化，由一个偏置电路81调节数据信号78的直流偏置。均衡器82(例如，连续的时间滤波器)配置成对增益规一化数据信号78提供某些(或者全部)均衡。模-数(A/D)变换器84按信道速率取样均衡后的数据信号78，以给出时间上离散的数据信号样本。时间上离散的有限脉冲响应(FIR)滤波器86接收样本，进一步将它们均衡成一种预定的频谱(例如，PR4、EPR4或EEPR4)。然后，经均衡的频谱作用到内插定时恢复(ITR)滤波器88的输入端上，ITR滤波器88通过对接收自FIR滤波器86的异步样本流进行数字内插，以产生同步的样本。均衡的频谱也作用到自动增益控制器(AGC)90的输入端上，AGC90调节VGA80，以规一化数据信号78的增益。由一个序列检测器92分析均衡的频谱，它配置成可产生检测到的数据符号94，代表了读出信道70的一个最大似然序列估值。检测到的数据符号94供给误码纠错码(ECC)解码器96的输入端，以解码成解码的数据符号98。
读出信道70还包括信道质量监控器100，它从读出信道70中采集数据样本，计算出指明读出信道70之性能的一个或多个统计性量度。磁盘驱动技术人员可对信道质量监控器100进行编程，以采集对应于磁性媒介72上存储之特定测试数据模式的信息。该测试数据模式可跨越磁性媒介72的多个数据扇区，能使磁盘驱动技术人员方便地采集大量性能数据，实施广泛多样的不同性能测试(例如，跨越多个扇区的一种扇区误码测试)。
参看图4，按照本发明的一个具体实施例，信道质量监控器100包括逻辑电路102，它配置成可从多个接收到的性能数据样本104中计算多个统计的性能量度103。各种性能量度供给一个功能选择寄存器106。累加器108采集和累加由寄存器106的输出110来的各个样本。可编程控制器112将一个功能选择信号114加到寄存器106的一个输入上，以控制哪一个性能量度103供给累加器108的输入。一个实施例中，信道质量监控器100配置成计算下面的统计的性能量度：
测试                      定义
       表1MSE1(参照估值的样本值)    
Figure A0080891500111
MSE2(参照已知的样本值)    
Figure A0080891500112
MSE3(误码信号)            
Figure A0080891500113
表面分析                   N(TL，TH)＝∑I(TL＜yn＜TH)直方图1(参照估值)         
Figure A0080891500114
直方图2(参照已知样本)      直方图                     误码率                     N(E)＝∑I(zn＞0)DiBit提取                  D(y)＝∑(yn×an)+(yn×an-1))
表1中，y(n)是选择的性能数据样本104；
Figure A0080891500117
是估值的无噪声样本值； un是已知的无噪声样本；an是已知数据；I(x)为指示函数，若x为真，I(x)值是1，若x为假，I(x)值是0；TH为可编程的阈值；以及，如果解码器96来的输出字节n有误码，zn＝1，否则，zn＝0。
用户通过将测量的方差(MSE1，MSE2，MSE3)除以所做的测量次数，可计算实际的均方差。测量次数在测量计数器124中累加。对于MSE1测试，误差的计算是根据接收自ITR88的样本输出与估值的无噪声样本值之间的差值。对于MSE2测试，误差的计算是根据接收自ITR88的样本输出与对板载(onboard)线性反馈移位寄存器(LFSR)116得出的计算样本之间的差值。MSE3测试可应用来测量环路误差信号的标准偏差。
表面分析测试(SAT)可应用来扫描磁性媒介的瑕疵。例如，一种1/4周期的恒定模式可以记录在要测试的磁性媒介的面积上，在哪种场合下回读模式将是具有重复的±2模式的正弦波。SAT功能对出现在此模式之外的样本数目进行计数。
可以对读出信道的各个部分计算误比特率。例如，可以将限幅电路的输出与LFSR产生的已知数据进行比较，以确定限幅电路的误比特率。对于维特比译码器也能实施类似的测试。
di-bit提取测试可对先前已写入一个扇区作为数据的伪随机二进制回读序列进行解卷积。di-bit提取测试可应用来评价一个扇区，以确定di-bit函数的一个值。随后的数值通过移位该伪随机二进制序列的相位来得到，此序列应用来在解卷积方程中产生已知的数据。数据的写入应当应用已知数据的“写入”模式。在此工作模式中，当执行一个正常的写入周期时，装置的输出是一个重复的伪二进制序列数据模式，它取代了正常的已编码写入数据。在回读中，从LFSR116中导出127比特的伪随机二进制序列，它实施多项式递归Xn+8＝(xn+7+xn+3+1)mod2。在这个提取算法中，伪随机二进制序列的相位确定出提取的di-bit函数的时间变量。为了获得提取的di-bit的全部127个值，通过改变起始值使伪随机二进制序列的相位得到增量。
表1中规定的性能量度可以作用到多个不同的性能数据样本104上。表2标识出(以符号“×”)可以监控的各个数据样本104以及可用来表征这些性能数据样本的统计的性能量度。
                                         表2
性能量度 MSE1  MSE2  MSE3  SAT  HIST1  HIST2  HIST3  误码  DI-BIT
ITR数据 ×  ×  ×  ×  ×  ×
增益误差  ×  ×
时序误差  ×  ×
直流恢复误差  ×  ×
MR不对称误差  ×  ×
FIR自适应误差  ×  ×
扇区误码1  ×   ×
扇区误码2   ×
VA比特误差   ×
限幅器比特误差   ×
ECC误比特率   ×
参看图5，控制器112中包括有限状态机构120、延时计数器122和测量计数器124。如下面将详细说明的，控制器112对于格式化的磁性存储媒介上一个或多个数据扇区中存储的预记录的测试数据所对应的性能数据采集确定位置。在实际中，磁盘驱动技术人员将一个已知测试模式写入磁盘，并对控制器112编程，对写入磁盘上的测试数据序列所对应于性能数据中规定的数量(#_measurements信号125)进行累加。记录的测试数据序列可跨越磁盘上多个数据扇区，能使技术人员方便地采集足够的数据样本，以获得读出信道方面有意义的统计的性能量度。技术人员通过激励sector-span信号126，可启动多扇区测量的采集。技术人员可以对控制器112编程为工作于异步模式，其中，在接收到有效的read_gate信号128之后进行数据累加，或者，编程为工作于同步模式，其中，在接收到有效的sync_mark检测信号130之后进行数据累加。技术人员也可将控制器112编程为暂停性能数据之累加一个初始延时期131，它对应于在采集性能数据之前由信道要处理的规定数目的数据符号。延时计数器122存储入编程的延时计数131，测量计数器124存储入测量计数125，它对应于要累加的性能数据的规定数量。在初始延时期过去之后，延时计数器122将延时结束信号140传输给有限状态机构120，并在已经累加规定数量的性能数据之后，由测量计数器124将测量结束信号146传输给有限状态机构120。
参看图5和图6，工作中，控制器112可以如下面那样地确定性能数据采集的位置。初始时，控制器112处于空闲状态130。在激励trigger_&_reset信号132之后，有限状态机构120、延时计数器122和测量计数器124的状态指示符均复位，并且有限状态机构120进入“等待”状态134(步骤133)。取决于start_on_sync信号136的值，在接收到有效的read_gate信号128之后，或者接收到有效的sync_mark信号130之后，有限状态机构120退出等待状态134(步骤135)。然后，有限状态机构120进入“暂停”状态138，其中，有限状态机构120激励delay_enable信号139，由它触发延时计数器122，以计数所规定的延时期，在从延时计数器122上接收到delay_done信号140之后，有限状态机构120推进“测量”状态142，其中，有限状态机构120能使累加器108累加规定的性能数据(步骤141)。有限状态机构120又激励测量启动(m_enable)信号144，它触发测量计数器124，以计数规定的性能数据样本数目。如果read-gate信号128为否定逻辑时有限状态机构120处于“暂停”状态138，则误差标志位设定于1，有限状态机构120返回至“空闲”状态130(步骤145)。处于测量状态142中时，性能数据样本103将在累加器108内累加。接收到测量结束信号146之后，有限状态机构120使累加器108不工作，返回到空闲状态130(步骤147)。磁盘驱动技术人员通过一个串行接口，可以访问累加器108内包含的测量值和测量计数器124内计数的测量次数，并可应用来计算指明了读出信道性能的一个或多个统计性量度(例如，参见表1中定义的性能量度)。
如图7A、7B和7C中所示，如果sector_span信号126为否定逻辑，则在测量结束信号146为肯定逻辑之前数据进行累加(图7A和图7B)，或是在被读出的磁性媒介扇区结束之前(这由read_gate信号128为否定逻辑来给出信令)数据进行累加。如果sector_span信号126为肯定逻辑，则在规定的性能数据样本数量(Q1+Q2)累加完之前性能数据进行累加(图7C)。如果read_gate信号128为否定逻辑时测量结束信号146为否定逻辑，则有限状态机构120返回到等待状态134(步骤149)，并且步骤135-147重复进行，直至采集到规定的性能数据数量。
采集的数据样本对应于多个磁性媒介扇区的能力，它可使磁盘驱动技术人员实施广泛多样的性能测试。例如，技术人员可实施一个扇区误码测试，以对磁性媒介的多个数据扇区评价读出信道的性能。表1中示明的统计的性能函数内，独立的测量变量(它使测量计数器124递增)对应于要测量的数据样本(比特量)的数目。与之不同，对于扇区误码测试的测量，独立变量是要测试的扇区数目，而因变量则是有误码的扇区数目。
参看图8，根据一种扇区误码测试，使全00h字节模式加扰、解码、并写入磁盘媒介的多个扇区(步骤160)。根据回读，过程反转至对每个扇区重建00h测试模式(步骤162)。误码的检知借助于出现非00h字节(步骤164)。可以有多种多样的方式将一个扇区认定为一个误码的扇区(步骤166)。在一个实施例中(测试1)，如果扇区中有一个或多个误码的字节，可认定为该扇区是误码的扇区。在另一个实施例中(测试2)，如果扇区中有5个或更多误码的字节，可认定为该扇区是误码的扇区。统计上，对于信道误差率小于10-6误差/比特的情况，大多数误码扇区中将只包含单个误差事件；然而，单个误差会干扰到若干个字节。当单个误差事件导致失去同步时，会造成几百个字节的误码。测试1可计数出一个误码的结果，而测试2可计数出有长的突发误码之扇区的误码。如果一个扇区确定为有误码(步骤166)，则误码计数加1(步骤168)，并从下一个扇区中回读测试模式(步骤162)；否则，只是回读下一个扇区，不增量误码计数。对于要测试的每一个扇区，重复这过程(步骤162-168)。
实施一种选择的误差测试时，使有限状态机构120设置为跨越多个扇区，当read_gate信号128为否定逻辑时测量计数器124加1。在测试完规定的扇区数目后，有限状态机构120返回到空闲状态130。
虽然，应用上面的具体实施例说明了本发明，但可以认识到，在权利要求的范畴内存在其它实施例。

Claims (25)

1.一种对读出信道来的性能数据进行累加的系统，它配置成从具有多个格式化数据扇区的磁性媒介上提取数据符号，系统中包含一个可编程的信道质量监控器，在工作中将记录的测试数据序列所对应的性能数据进行累加，该测试数据序列跨越磁性媒介的两个或多个数据扇区。
2.权利要求1的系统，其中，信道质量监控器可以编程为在一个延时期内延时性能数据的累加，该延时期对应于在接收到触发信号之后编程的数据符号的数目。
3.权利要求2的系统，其中，信道质量监控器可以编程为在接收到同步标志信号之后开始该延时期。
4.权利要求2的系统，其中，信道质量监控器可以编程为在接收到读出门信号之后开始该延时期。
5.权利要求2的系统，还包含一个延时计数器，它配置成在编程的延时期过去之后给出一个延时结束信号。
6.权利要求1的系统，其中，信道质量监控器可以编程为对编程的性能数据数目进行累加。
7.权利要求6的系统，其中，信道质量监控器可以编程为对磁性媒介中多个数据扇区来的数据符号所对应的性能数据进行累加。
8.权利要求6的系统，还包含一个测量计数器，它配置成在编程的性能数据数量经累加之后给出一个测量结束信号。
9.权利要求6的系统，其中，信道质量监控器可以编程为使性能数据进行累加，该性能数据对应于在其上面数据要累加的每个磁性媒介扇区内选择的数据符号。
10.权利要求9的系统，其中，在一个延时期内暂停性能数据的累加，该延时期对应于从其上面要累加数据的每个扇区在开始端可编程的数据符号的数目。
11.一个系统，包含有：
具有多个格式化数据扇区的至少一个磁性存储盘；
配置成从磁性存储盘中提取编码数据信号的至少一个换能器；
配置成从编码数据信号中提取编码的数据符号的一个读出信道；以及
一个可编程的信道质量监控器，在工作中它将一个记录的测试数据序列所对应的性能数据进行累加，该测试数据序列跨越磁性媒介的两个或多个数据扇区。
12.一种对读出信道来的性能数据进行累加的方法，它配置成从具有多个格式化数据扇区的磁性媒介上提取数据符号，方法中包含将一个记录的测试数据序列所对应的性能数据进行累加，该测试数据序列跨越磁性媒介的两个或多个数据扇区。
13.权利要求12的方法，还包含在延时期内使性能数据之累加进行延时的步骤，该延时期对应于在接收到触发信号之后编程的数据符号的数目。
14.权利要求13的方法，其中，触发信号是一个同步标志信号。
15.权利要求13的方法，其中，触发信号是一个读出门信号。
16.权利要求13的方法，还包含在编程的延时期过去之后给出一个延时结束信号的步骤。
17.权利要求12的方法，还包含对编程的性能数据之数量进行累加的步骤。
18.权利要求17的方法，还包含将磁性媒介中多个数据扇区来的数据符号所对应的性能数据进行累加。
19.权利要求17的方法，还包含在编程的性能数据数量累加之后给出一个测量结束信号的步骤。
20.权利要求17的方法，还包含对其上面的数据进行累加之每个磁性媒介扇区中选择的数据符号所对应的性能数据进行累加的步骤。
21.权利要求20的方法，其中，在一个延时期内暂停性能数据的累加，该延时期对应于从其上面要累加数据的每个扇区在开始端可编程的数据符号的数目。
22.一种对读出信道来的性能数据进行累加的方法，它配置成从具有多个格式化数据扇区的磁性媒介上提取数据符号，方法中包含：
向磁性媒介的多个数据扇区写入一个原始的测试数据模式；
从磁性媒介的多个数据扇区中读出该原始的测试数据模式，以产生一个回读测试模式；
将原始测试模式与回读测试模式之比较中所关联的性能数据进行累加。
23.权利要求22的方法，还包含确定出总的误码扇区数目。
24.权利要求23的方法，其中，如果一个扇区内单个字节有误码，便确定该扇区是有误码的。
25.权利要求23的方法，其中，如果一个扇区内一个以上的字节有误码，便确定该扇区是有误码的。
CN00808915A 1999-04-20 2000-04-20 读出信道性能数据的累加 Pending CN1355921A (zh)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13016299P 1999-04-20 1999-04-20
US60/130162 1999-04-20
US09/550,440 US6636372B1 (en) 1999-04-20 2000-04-17 Accumulating read channel performance data
US09/550440 2000-04-17

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN1355921A true CN1355921A (zh) 2002-06-26

Family

ID=26828222

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN00808915A Pending CN1355921A (zh) 1999-04-20 2000-04-20 读出信道性能数据的累加

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6636372B1 (zh)
EP (1) EP1171881A1 (zh)
JP (1) JP2003524854A (zh)
KR (1) KR20020006706A (zh)
CN (1) CN1355921A (zh)
WO (1) WO2000063909A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101814311A (zh) * 2009-02-25 2010-08-25 西部数据技术公司 在主机读取未写的数据扇区时返回虚假数据给主机的磁盘驱动器

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7136889B1 (en) 2000-08-29 2006-11-14 Maxtor Corporation Method and apparatus for generating high quality real random numbers using a disk drive
SG106645A1 (en) * 2001-04-26 2004-10-29 Seagate Technology Llc User data wedge media certification in a disc drive data handling system
US6937650B2 (en) * 2001-05-21 2005-08-30 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method and apparatus for channel equalization with a digital FIR filter using a pseudo random sequence
US6519103B2 (en) * 2001-05-25 2003-02-11 Infineon Technologies Ag View DAC feedback inside analog front circuit
US6731443B2 (en) * 2001-06-29 2004-05-04 Infineon Technologies Ag Total error multiplier for optimizing read/write channel
US6731442B2 (en) * 2001-10-02 2004-05-04 Seagate Technologies Llc Method and apparatus for detecting media defects
US6891361B2 (en) * 2002-12-31 2005-05-10 Lsi Logic Corporation Automatic gain control (AGC) loop for characterizing continuous-time or discrete-time circuitry gain response across frequency
US7139900B2 (en) * 2003-06-23 2006-11-21 Intel Corporation Data packet arithmetic logic devices and methods
US7558012B2 (en) * 2004-05-28 2009-07-07 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Read/write channel embedded on-chip optimization
US7170704B2 (en) * 2004-06-25 2007-01-30 Stmicroelectronics, Inc. Enhanced dibit extraction
US7583459B1 (en) 2004-11-18 2009-09-01 Marvell International Ltd. Method and apparatus for write precompensation in a magnetic recording system
US7245444B2 (en) * 2005-03-31 2007-07-17 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method and apparatus for providing a read channel having imbedded channel signal analysis
US7428116B2 (en) * 2005-05-05 2008-09-23 International Business Machines Corporation Method for a cyclic dibit response estimation in a media system using a data set separator sequence
US7493234B2 (en) * 2005-05-10 2009-02-17 International Business Machines Corporation Monitoring and reporting normalized device system performance
US7460323B2 (en) * 2005-07-29 2008-12-02 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Methods and systems for automatically characterizing non-linearities of a read-back signal of a recording system
US7643238B2 (en) * 2005-08-29 2010-01-05 Broadcom Corporation Dibit extraction
US7895389B2 (en) * 2006-05-01 2011-02-22 Edwin Jeon Measuring data transfer time for disk drives
US7937737B2 (en) * 2006-05-01 2011-05-03 Russ Samuel H Field qualification of disk drives in consumer electronics devices
US8174779B2 (en) 2006-10-31 2012-05-08 Hitachi Global Storage Technologies, Netherlands B.V. Discrete device testing
KR101924906B1 (ko) * 2017-07-17 2019-02-27 전자부품연구원 이득 제어 장치 및 방법

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5068754A (en) 1989-11-22 1991-11-26 Seagate Technology, Inc. Method and apparatus for measuring bit shift
US5392295A (en) 1992-07-30 1995-02-21 International Business Machines Corporation Error measurement circuit
US5424881A (en) 1993-02-01 1995-06-13 Cirrus Logic, Inc. Synchronous read channel
US5754353A (en) 1993-07-01 1998-05-19 Cirrus Logic, Inc. Channel quality circuit in a sampled amplitude read channel
US5761212A (en) 1993-07-01 1998-06-02 Cirrus Logic, Inc. Channel quality
US5490091A (en) 1994-03-01 1996-02-06 Guzik Technical Enterprises, Inc. Histograms of processed noise samples for measuring error rate of a PRML data detection channel
US5493454A (en) 1994-10-04 1996-02-20 Quantum Corporation Write precompensation optimization in a PRML channel using a selected PRML signal level
US5987634A (en) 1994-11-17 1999-11-16 Cirrus Logic, Inc. Channel quality circuit in a sampled amplitude read channel
US5563746A (en) * 1994-11-17 1996-10-08 Cirrus Logic, Inc. Real time media defect scanning in a sampled amplitude read channel
US5537034A (en) 1995-05-19 1996-07-16 Quantum Corporation Method for mapping thermal asperities of a magnetic recording surface in data storage device
US6016463A (en) 1996-08-26 2000-01-18 Texas Instruments Incorporated Channel quality monitor for read channel IC
US6014768A (en) 1997-02-04 2000-01-11 Texas Instruments Incorporated Moving reference channel quality monitor for read channels

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101814311A (zh) * 2009-02-25 2010-08-25 西部数据技术公司 在主机读取未写的数据扇区时返回虚假数据给主机的磁盘驱动器
CN101814311B (zh) * 2009-02-25 2014-02-12 西部数据技术公司 在主机读取未写的数据扇区时返回虚假数据给主机的磁盘驱动器

Also Published As

Publication number Publication date
EP1171881A1 (en) 2002-01-16
WO2000063909A1 (en) 2000-10-26
KR20020006706A (ko) 2002-01-24
US6636372B1 (en) 2003-10-21
JP2003524854A (ja) 2003-08-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1355921A (zh) 读出信道性能数据的累加
US6731442B2 (en) Method and apparatus for detecting media defects
US5255131A (en) Asynchronous servo identification/address mark detection for PRML disk drive ssytem
US6292912B1 (en) Disk drive having built-in self-test system for characterizing performance of the drive
US5596460A (en) System and method for encoding a servo address
US6657803B1 (en) Method and apparatus for data error recovery using defect threshold detector and viterbi gain
CA1139436A (en) Positioning system and formatting scheme for magnetic tape media
US6947232B2 (en) User data wedge media certification apparatus and method
US6310739B1 (en) Method and system for detection recording media defacts
US7032127B1 (en) Method and apparatus for identifying defective areas on a disk surface of a disk drive based on defect density
KR100623786B1 (ko) 저장 디바이스내의 균등화된 신호대잡음비를 검출하는방법 및 장치
JP2000011565A (ja) 位置誤差信号フィ―ルドに符号化された情報を有するディスク駆動装置
US6104558A (en) System and method of encoding an index mark into a servo address
US6137643A (en) Thermal asperity detection with long magnet rejection for direct access storage device (DASD)
US6175457B1 (en) Dual polarity thermal asperity detector for direct access storage device (DASD)
US6501607B2 (en) Channel quality monitor (CQM) for digital peak detection (DPD)
US9244752B2 (en) Systems and methods for detecting media flaws
US6724552B1 (en) Magnetic disk apparatus with lower probability of occurrence of read errors due to scratch or the like on magnetic disk surface
US20030039049A1 (en) Method and apparatus for selecting equalization targets
US20020075585A1 (en) Automated drive-level microtrack profile using variable gain amplifier
KR100424131B1 (ko) 샘플링된 데이터 시스템의 비트 에러율을 결정하는 방법 및 장치
KR100459720B1 (ko) 불안정성 복구를 위한 장치 및 방법
US9536562B1 (en) Method and apparatus for imitating a defect in a read-back signal received from a rotating storage medium
US8861107B2 (en) Systems and methods for burst demodulation
WO2002027887A1 (en) Automated drive-level microtrack profile using variable gain amplifier

Legal Events

Date Code Title Description
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication